磁光記錄介質(zhì)特性檢測技術(shù)研究
發(fā)布時(shí)間：2020-11-05 10:50
磁光記錄原理是利用熱磁效應(yīng)寫入,克爾效應(yīng)讀出信息。以磁光記錄材料為記錄介質(zhì)的光盤具有容量大、非揮發(fā)、可靠性高、壽命長等優(yōu)點(diǎn)。隨著磁光材料理論、磁光材料制備方法研究的發(fā)展,進(jìn)一步研究磁光記錄介質(zhì)性能的測試方法具有重要的意義。本論文的研究工作是:通過理論分析,得出一種新的磁光克爾效應(yīng)檢測方法;研制出磁光記錄介質(zhì)特性的檢測系統(tǒng);研制工作中,在克爾角信號(hào)檢測電路、光路及整個(gè)測試系統(tǒng)誤差分析方面做了大量的工作。 應(yīng)用磁光效應(yīng)的唯象理論,得出克爾角、反射率和經(jīng)過偏振分光鏡的兩路線性光光強(qiáng)的簡單的數(shù)學(xué)關(guān)系,從而用模擬電路即可實(shí)現(xiàn)克爾角、反射率測量。 磁光特性測試系統(tǒng)信號(hào)檢測電路由信號(hào)采集、處理、顯示與輸出及電路電源等部分組成。在硬件電路上采用了光電轉(zhuǎn)換、差動(dòng)放大以及各種濾波技術(shù),解決了微弱信號(hào)檢測問題,并有效地抑制各種噪聲;在光路設(shè)計(jì)上,通過設(shè)計(jì)專用的反射鏡、支架并采用合理校準(zhǔn)步驟,確保光路準(zhǔn)確穩(wěn)定地工作。 另外,對(duì)測試系統(tǒng)的噪聲進(jìn)行了分析和計(jì)算,通過誤差分析確定了設(shè)備的靜態(tài)特性。 研制成功的測試設(shè)備已應(yīng)用于測量商用磁光盤、TbFeCo系磁光薄膜、Nd(Tb,Dy)Co系磁光薄膜并取得很好的測試結(jié)果。儀器的測試范圍和精度可以滿足科學(xué)研究和教學(xué)實(shí)驗(yàn)的要求。
【學(xué)位單位】：華中科技大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】：碩士
【學(xué)位年份】：2006
【中圖分類】：TP333
【部分圖文】：
(c)圖 1-1 磁光盤寫入讀出原理圖記錄介質(zhì)的發(fā)展記錄對(duì)記錄介質(zhì)的要求理想的磁光記錄介質(zhì)必須滿足的性能為：錄介質(zhì)的磁化矢量垂直于膜面，因而其垂直各向異性常數(shù) Ku>2方向取向穩(wěn)定；為了滿足這一點(diǎn)，材料的飽和磁化強(qiáng)度 Ms應(yīng)小具有明顯的優(yōu)點(diǎn)。溫矯頑力 Hc以實(shí)現(xiàn)盡可能大的數(shù)據(jù)密度，因?yàn)榉�(wěn)定的記錄位尺寸 d∝1/Hc來表示，亞鐵磁性材料的補(bǔ)償溫度 Tcomp在室溫附近時(shí)，證良好的記錄開關(guān)特性，薄膜的磁滯回線必須為矩形，即剩磁比
圖 1-2 福勒極向克爾角測量沈德芳在 1981 年用極向克爾回線反轉(zhuǎn)的辦法研究 Cd-Co 和 Cd-Fe 無定形對(duì)補(bǔ)償溫度影響的結(jié)果[46]，所用的裝置如圖 1-3 所示。X-Y 記錄儀的 X 方是與樣品磁場成正比的霍爾電壓，而 Y 軸的訊號(hào)是與樣品垂直方向的磁化向克爾效應(yīng)成比例的差分放大器的輸出，因此連續(xù)改變磁場大小和方向就個(gè)磁滯回線。采用差分放大器可以消除光源光強(qiáng)的變化對(duì)測量的影響，并靈敏度。這樣一個(gè)系統(tǒng)，根據(jù)回線的有無和大小還可以較為迅速而方便地均勻性和克爾效應(yīng)的大小。
圖 1-4 磁光調(diào)制測量裝置示意圖期測量中應(yīng)用較多的是磁光調(diào)制法，圖 1-4 是 1984 年劉公強(qiáng)等人采用元件測量克爾角的實(shí)驗(yàn)示意圖[50]。即在頻率為 ω 的外加交變磁場或電電場的偏振面發(fā)生微小的調(diào)制變化。最終從檢偏器出來并被檢測的光成分可得到要測量的克爾角 θk。其優(yōu)點(diǎn)是可獲得較高的信噪比。缺點(diǎn)信號(hào)幅度最大來確定克爾旋轉(zhuǎn)角。轉(zhuǎn)檢偏器的方法是通過測量檢偏器的方位角在不同位置時(shí)光信號(hào)強(qiáng)磁光克爾旋轉(zhuǎn)角和橢偏率。其優(yōu)點(diǎn)是圖像清楚，所用的光學(xué)器件少，寬，系統(tǒng)可以自行定標(biāo)，是一種磁光效應(yīng)的絕對(duì)值測量法，且易于實(shí)動(dòng)化操作。陳良堯于 1995 年報(bào)道了采用旋轉(zhuǎn)檢偏器的測試裝置，該光樣品，可以達(dá)到絕對(duì)測量準(zhǔn)確率為 0.01 °[54]。偉榮于 1996 年對(duì) Bader[55,56]以及 Chappert 等人[57]的方案做了修改， SMOKE（表面磁光克爾效應(yīng)譜）系統(tǒng)[58]。系統(tǒng)的光路圖如圖 1-5 所
【引證文獻(xiàn)】
本文編號(hào)：2871530
【學(xué)位單位】：華中科技大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】：碩士
【學(xué)位年份】：2006
【中圖分類】：TP333
【部分圖文】：
(c)圖 1-1 磁光盤寫入讀出原理圖記錄介質(zhì)的發(fā)展記錄對(duì)記錄介質(zhì)的要求理想的磁光記錄介質(zhì)必須滿足的性能為：錄介質(zhì)的磁化矢量垂直于膜面，因而其垂直各向異性常數(shù) Ku>2方向取向穩(wěn)定；為了滿足這一點(diǎn)，材料的飽和磁化強(qiáng)度 Ms應(yīng)小具有明顯的優(yōu)點(diǎn)。溫矯頑力 Hc以實(shí)現(xiàn)盡可能大的數(shù)據(jù)密度，因?yàn)榉�(wěn)定的記錄位尺寸 d∝1/Hc來表示，亞鐵磁性材料的補(bǔ)償溫度 Tcomp在室溫附近時(shí)，證良好的記錄開關(guān)特性，薄膜的磁滯回線必須為矩形，即剩磁比
圖 1-2 福勒極向克爾角測量沈德芳在 1981 年用極向克爾回線反轉(zhuǎn)的辦法研究 Cd-Co 和 Cd-Fe 無定形對(duì)補(bǔ)償溫度影響的結(jié)果[46]，所用的裝置如圖 1-3 所示。X-Y 記錄儀的 X 方是與樣品磁場成正比的霍爾電壓，而 Y 軸的訊號(hào)是與樣品垂直方向的磁化向克爾效應(yīng)成比例的差分放大器的輸出，因此連續(xù)改變磁場大小和方向就個(gè)磁滯回線。采用差分放大器可以消除光源光強(qiáng)的變化對(duì)測量的影響，并靈敏度。這樣一個(gè)系統(tǒng)，根據(jù)回線的有無和大小還可以較為迅速而方便地均勻性和克爾效應(yīng)的大小。
圖 1-4 磁光調(diào)制測量裝置示意圖期測量中應(yīng)用較多的是磁光調(diào)制法，圖 1-4 是 1984 年劉公強(qiáng)等人采用元件測量克爾角的實(shí)驗(yàn)示意圖[50]。即在頻率為 ω 的外加交變磁場或電電場的偏振面發(fā)生微小的調(diào)制變化。最終從檢偏器出來并被檢測的光成分可得到要測量的克爾角 θk。其優(yōu)點(diǎn)是可獲得較高的信噪比。缺點(diǎn)信號(hào)幅度最大來確定克爾旋轉(zhuǎn)角。轉(zhuǎn)檢偏器的方法是通過測量檢偏器的方位角在不同位置時(shí)光信號(hào)強(qiáng)磁光克爾旋轉(zhuǎn)角和橢偏率。其優(yōu)點(diǎn)是圖像清楚，所用的光學(xué)器件少，寬，系統(tǒng)可以自行定標(biāo)，是一種磁光效應(yīng)的絕對(duì)值測量法，且易于實(shí)動(dòng)化操作。陳良堯于 1995 年報(bào)道了采用旋轉(zhuǎn)檢偏器的測試裝置，該光樣品，可以達(dá)到絕對(duì)測量準(zhǔn)確率為 0.01 °[54]。偉榮于 1996 年對(duì) Bader[55,56]以及 Chappert 等人[57]的方案做了修改， SMOKE（表面磁光克爾效應(yīng)譜）系統(tǒng)[58]。系統(tǒng)的光路圖如圖 1-5 所
【引證文獻(xiàn)】
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1 武雪芹;;論市級(jí)黨校圖書館數(shù)字資源的長期保存[J];內(nèi)蒙古科技與經(jīng)濟(jì);2012年01期
本文編號(hào)：2871530
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