磁光記錄介質(zhì)特性檢測(cè)技術(shù)研究
發(fā)布時(shí)間:2020-11-05 10:50
磁光記錄原理是利用熱磁效應(yīng)寫入,克爾效應(yīng)讀出信息。以磁光記錄材料為記錄介質(zhì)的光盤具有容量大、非揮發(fā)、可靠性高、壽命長(zhǎng)等優(yōu)點(diǎn)。隨著磁光材料理論、磁光材料制備方法研究的發(fā)展,進(jìn)一步研究磁光記錄介質(zhì)性能的測(cè)試方法具有重要的意義。本論文的研究工作是:通過理論分析,得出一種新的磁光克爾效應(yīng)檢測(cè)方法;研制出磁光記錄介質(zhì)特性的檢測(cè)系統(tǒng);研制工作中,在克爾角信號(hào)檢測(cè)電路、光路及整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)誤差分析方面做了大量的工作。 應(yīng)用磁光效應(yīng)的唯象理論,得出克爾角、反射率和經(jīng)過偏振分光鏡的兩路線性光光強(qiáng)的簡(jiǎn)單的數(shù)學(xué)關(guān)系,從而用模擬電路即可實(shí)現(xiàn)克爾角、反射率測(cè)量。 磁光特性測(cè)試系統(tǒng)信號(hào)檢測(cè)電路由信號(hào)采集、處理、顯示與輸出及電路電源等部分組成。在硬件電路上采用了光電轉(zhuǎn)換、差動(dòng)放大以及各種濾波技術(shù),解決了微弱信號(hào)檢測(cè)問題,并有效地抑制各種噪聲;在光路設(shè)計(jì)上,通過設(shè)計(jì)專用的反射鏡、支架并采用合理校準(zhǔn)步驟,確保光路準(zhǔn)確穩(wěn)定地工作。 另外,對(duì)測(cè)試系統(tǒng)的噪聲進(jìn)行了分析和計(jì)算,通過誤差分析確定了設(shè)備的靜態(tài)特性。 研制成功的測(cè)試設(shè)備已應(yīng)用于測(cè)量商用磁光盤、TbFeCo系磁光薄膜、Nd(Tb,Dy)Co系磁光薄膜并取得很好的測(cè)試結(jié)果。儀器的測(cè)試范圍和精度可以滿足科學(xué)研究和教學(xué)實(shí)驗(yàn)的要求。
【學(xué)位單位】:華中科技大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位年份】:2006
【中圖分類】:TP333
【部分圖文】:
(c)圖 1-1 磁光盤寫入讀出原理圖記錄介質(zhì)的發(fā)展記錄對(duì)記錄介質(zhì)的要求理想的磁光記錄介質(zhì)必須滿足的性能為:錄介質(zhì)的磁化矢量垂直于膜面,因而其垂直各向異性常數(shù) Ku>2方向取向穩(wěn)定;為了滿足這一點(diǎn),材料的飽和磁化強(qiáng)度 Ms應(yīng)小具有明顯的優(yōu)點(diǎn)。溫矯頑力 Hc以實(shí)現(xiàn)盡可能大的數(shù)據(jù)密度,因?yàn)榉(wěn)定的記錄位尺寸 d∝1/Hc來表示,亞鐵磁性材料的補(bǔ)償溫度 Tcomp在室溫附近時(shí),證良好的記錄開關(guān)特性,薄膜的磁滯回線必須為矩形,即剩磁比
圖 1-2 福勒極向克爾角測(cè)量沈德芳在 1981 年用極向克爾回線反轉(zhuǎn)的辦法研究 Cd-Co 和 Cd-Fe 無定形對(duì)補(bǔ)償溫度影響的結(jié)果[46],所用的裝置如圖 1-3 所示。X-Y 記錄儀的 X 方是與樣品磁場(chǎng)成正比的霍爾電壓,而 Y 軸的訊號(hào)是與樣品垂直方向的磁化向克爾效應(yīng)成比例的差分放大器的輸出,因此連續(xù)改變磁場(chǎng)大小和方向就個(gè)磁滯回線。采用差分放大器可以消除光源光強(qiáng)的變化對(duì)測(cè)量的影響,并靈敏度。這樣一個(gè)系統(tǒng),根據(jù)回線的有無和大小還可以較為迅速而方便地均勻性和克爾效應(yīng)的大小。
圖 1-4 磁光調(diào)制測(cè)量裝置示意圖期測(cè)量中應(yīng)用較多的是磁光調(diào)制法,圖 1-4 是 1984 年劉公強(qiáng)等人采用元件測(cè)量克爾角的實(shí)驗(yàn)示意圖[50]。即在頻率為 ω 的外加交變磁場(chǎng)或電電場(chǎng)的偏振面發(fā)生微小的調(diào)制變化。最終從檢偏器出來并被檢測(cè)的光成分可得到要測(cè)量的克爾角 θk。其優(yōu)點(diǎn)是可獲得較高的信噪比。缺點(diǎn)信號(hào)幅度最大來確定克爾旋轉(zhuǎn)角。轉(zhuǎn)檢偏器的方法是通過測(cè)量檢偏器的方位角在不同位置時(shí)光信號(hào)強(qiáng)磁光克爾旋轉(zhuǎn)角和橢偏率。其優(yōu)點(diǎn)是圖像清楚,所用的光學(xué)器件少,寬,系統(tǒng)可以自行定標(biāo),是一種磁光效應(yīng)的絕對(duì)值測(cè)量法,且易于實(shí)動(dòng)化操作。陳良堯于 1995 年報(bào)道了采用旋轉(zhuǎn)檢偏器的測(cè)試裝置,該光樣品,可以達(dá)到絕對(duì)測(cè)量準(zhǔn)確率為 0.01 °[54]。偉榮于 1996 年對(duì) Bader[55,56]以及 Chappert 等人[57]的方案做了修改, SMOKE(表面磁光克爾效應(yīng)譜)系統(tǒng)[58]。系統(tǒng)的光路圖如圖 1-5 所
【引證文獻(xiàn)】
本文編號(hào):2871530
【學(xué)位單位】:華中科技大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位年份】:2006
【中圖分類】:TP333
【部分圖文】:
(c)圖 1-1 磁光盤寫入讀出原理圖記錄介質(zhì)的發(fā)展記錄對(duì)記錄介質(zhì)的要求理想的磁光記錄介質(zhì)必須滿足的性能為:錄介質(zhì)的磁化矢量垂直于膜面,因而其垂直各向異性常數(shù) Ku>2方向取向穩(wěn)定;為了滿足這一點(diǎn),材料的飽和磁化強(qiáng)度 Ms應(yīng)小具有明顯的優(yōu)點(diǎn)。溫矯頑力 Hc以實(shí)現(xiàn)盡可能大的數(shù)據(jù)密度,因?yàn)榉(wěn)定的記錄位尺寸 d∝1/Hc來表示,亞鐵磁性材料的補(bǔ)償溫度 Tcomp在室溫附近時(shí),證良好的記錄開關(guān)特性,薄膜的磁滯回線必須為矩形,即剩磁比
圖 1-2 福勒極向克爾角測(cè)量沈德芳在 1981 年用極向克爾回線反轉(zhuǎn)的辦法研究 Cd-Co 和 Cd-Fe 無定形對(duì)補(bǔ)償溫度影響的結(jié)果[46],所用的裝置如圖 1-3 所示。X-Y 記錄儀的 X 方是與樣品磁場(chǎng)成正比的霍爾電壓,而 Y 軸的訊號(hào)是與樣品垂直方向的磁化向克爾效應(yīng)成比例的差分放大器的輸出,因此連續(xù)改變磁場(chǎng)大小和方向就個(gè)磁滯回線。采用差分放大器可以消除光源光強(qiáng)的變化對(duì)測(cè)量的影響,并靈敏度。這樣一個(gè)系統(tǒng),根據(jù)回線的有無和大小還可以較為迅速而方便地均勻性和克爾效應(yīng)的大小。
圖 1-4 磁光調(diào)制測(cè)量裝置示意圖期測(cè)量中應(yīng)用較多的是磁光調(diào)制法,圖 1-4 是 1984 年劉公強(qiáng)等人采用元件測(cè)量克爾角的實(shí)驗(yàn)示意圖[50]。即在頻率為 ω 的外加交變磁場(chǎng)或電電場(chǎng)的偏振面發(fā)生微小的調(diào)制變化。最終從檢偏器出來并被檢測(cè)的光成分可得到要測(cè)量的克爾角 θk。其優(yōu)點(diǎn)是可獲得較高的信噪比。缺點(diǎn)信號(hào)幅度最大來確定克爾旋轉(zhuǎn)角。轉(zhuǎn)檢偏器的方法是通過測(cè)量檢偏器的方位角在不同位置時(shí)光信號(hào)強(qiáng)磁光克爾旋轉(zhuǎn)角和橢偏率。其優(yōu)點(diǎn)是圖像清楚,所用的光學(xué)器件少,寬,系統(tǒng)可以自行定標(biāo),是一種磁光效應(yīng)的絕對(duì)值測(cè)量法,且易于實(shí)動(dòng)化操作。陳良堯于 1995 年報(bào)道了采用旋轉(zhuǎn)檢偏器的測(cè)試裝置,該光樣品,可以達(dá)到絕對(duì)測(cè)量準(zhǔn)確率為 0.01 °[54]。偉榮于 1996 年對(duì) Bader[55,56]以及 Chappert 等人[57]的方案做了修改, SMOKE(表面磁光克爾效應(yīng)譜)系統(tǒng)[58]。系統(tǒng)的光路圖如圖 1-5 所
【引證文獻(xiàn)】
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1 武雪芹;;論市級(jí)黨校圖書館數(shù)字資源的長(zhǎng)期保存[J];內(nèi)蒙古科技與經(jīng)濟(jì);2012年01期
本文編號(hào):2871530
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