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硬盤伺服校驗方法及實現(xiàn)技術(shù)研究

發(fā)布時間:2020-10-09 19:17
   一張完全空白的磁盤介質(zhì)是無法使用的,需要寫入伺服信號后,磁頭才能通過伺服信號進行定位。尤其是今天對于高存儲容量的磁盤的需求已經(jīng)成為一種趨勢,同時希望減小磁盤的尺寸。伴隨著這兩種趨勢就要求增加磁盤盤片每英寸的磁道數(shù)。眾所周知的是,因為要增加磁盤每英寸的磁道數(shù)將導(dǎo)致周期性擾動和非周期性擾動。而周期性擾動將導(dǎo)致位置誤差信號寫在磁盤盤片的錯誤位置上而使得伺服信號無法進行正確的定位。正是由于伺服信號的重要性,在磁盤的生產(chǎn)中需要對伺服信號進行校驗,從而得到能夠正確定位的伺服信號。 隨著存儲密度的不斷提高,磁盤生產(chǎn)過程中在伺服刻寫及校驗的時間消耗愈來愈大,伺服刻寫及校驗已成為影響磁盤生產(chǎn)質(zhì)量和效率的瓶頸問題。為此研究出了一種新的磁盤伺服信息校驗方法-伺服刻寫機內(nèi)的非脫機校驗。 伺服刻寫機內(nèi)的非脫機校驗方法將磁盤驅(qū)動器內(nèi)部的信號處理機制,尤其將磁盤驅(qū)動器的讀寫通道的相關(guān)功能用到伺服刻寫機上,從而實現(xiàn)了在伺服刻寫機內(nèi)校驗伺服信息。該方法避免了傳統(tǒng)的伺服信息校驗方法中磁盤盤片的重復(fù)裝載和拆卸,減少了磁盤伺服刻寫及校驗在凈房內(nèi)的停留時間,降低了磁盤的生產(chǎn)成本;同時磁盤的質(zhì)量也因手工操作的減少而得到顯著提高。
【學(xué)位單位】:華中科技大學(xué)
【學(xué)位級別】:碩士
【學(xué)位年份】:2007
【中圖分類】:TP333.4
【部分圖文】:

光學(xué)表面,盤片,分析儀,磁道數(shù)


到下一個狀態(tài)時邏輯的混淆。在相鄰的兩越兩條磁道時跨越的磁道數(shù)在編碼上只會過 4 個連續(xù)的 Burst 信號來將磁頭定位到排列的方式,可以利用信號的強弱來將磁

排列圖,排列圖,伺服信息,盤片


2.1 伺服刻寫盤片圖如圖 2.1 所示,這是將一片寫好伺服信號的盤片通過光學(xué)表面分析儀(Oace Analyzer)得到的全盤磁道信息的影像。圖中間以放射狀的一道道白色線過伺服刻寫機器寫入的伺服信息,而每兩條伺服信息之間就是磁盤的數(shù)據(jù)張圖片我們可以看出,伺服信號在磁盤徑向上是連續(xù)一致的。這樣才可以o 信號區(qū)域中信號相位連續(xù),如果發(fā)生嚴重的相位偏移,則磁頭將讀出錯誤導(dǎo)致磁頭定位出錯。

定位原理,數(shù)據(jù)道,磁頭


如圖 2.2 所示,在沿著磁盤旋轉(zhuǎn)的線速度方向上來看,G 代表的是伺服信的 Graycode 段,接著的 A、B、C、D 為伺服信號當(dāng)中的四段脈沖信號,S 代數(shù)據(jù)道,同時我們可以看出伺服道與數(shù)據(jù)道的寬度存在一個 2:3 的比例關(guān)系B、C、D 呈交替狀態(tài),那么這樣無論磁頭定位在任意一點都能滿足:幅值 B=幅值 C+幅值 D。磁頭第一級粗定位過程,可以分為兩種情況:如果數(shù)據(jù)道道,比如第 S 道,那么通過內(nèi)建的映射表,可以知道磁頭必須定位在格雷碼圍左右;如果數(shù)據(jù)道為奇數(shù)道,比如第 S+1 道,那么通過內(nèi)建的映射表,可磁頭必須橫跨在格雷碼 G+1 和 G+2 之間,僅僅通過伺服道號并不能將磁頭定據(jù)道的正當(dāng)中,所以還需要通過后面的 A、B、C、D 作為第二級的定位措施

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