基于IP核復(fù)用的系統(tǒng)芯片SoC是超深亞微米和納米階段的代表性產(chǎn)品，它不論在開發(fā)周期，還是在系統(tǒng)功能、性能方面，都體現(xiàn)出無(wú)可比擬的優(yōu)點(diǎn)。然而隨著集成的IP核數(shù)量的增加，芯片復(fù)雜性和測(cè)試數(shù)據(jù)量也不斷增加；同時(shí)，自動(dòng)測(cè)試設(shè)備ATE變得越來(lái)越昂貴，導(dǎo)致SoC的測(cè)試費(fèi)用正在飛速上升、測(cè)試難度急劇增加。SoC的測(cè)試問題已經(jīng)受到越來(lái)越廣泛的關(guān)注。解決SoC測(cè)試問題的一種最直接有效的方法就是對(duì)測(cè)試集進(jìn)行壓縮，通過壓縮來(lái)減少SoC測(cè)試數(shù)據(jù)量，從而達(dá)到降低測(cè)試費(fèi)用的目的。 本論文針對(duì)SoC測(cè)試數(shù)據(jù)壓縮主要提出了兩種方案，其中主要的工作有： (1)對(duì)當(dāng)前主流SoC測(cè)試方法進(jìn)行了分類，將這些測(cè)試方法歸結(jié)為外建自測(cè)試BOST、內(nèi)建自測(cè)試BIST與混合模式自測(cè)試三大類，并對(duì)每類都舉出一些方案進(jìn)行闡述，剖析其內(nèi)在原理及特點(diǎn)。 (2)詳細(xì)講述了第一種方案——改進(jìn)的FDR碼(IFDR碼)。針對(duì)FDR碼僅對(duì)測(cè)試集中的0游程進(jìn)行編碼壓縮、對(duì)測(cè)試集中廣泛存在的大量的1游程不但不能壓縮反而對(duì)每個(gè)1需要用兩個(gè)比特位來(lái)編碼的這一問題，IFDR采取同時(shí)對(duì)0游程和1游程進(jìn)行編碼的方式對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行壓縮，獲得了更高的壓縮率。在對(duì)測(cè)試集中無(wú)關(guān)位的確定化問題上，IFDR也提出了一種較好的確定化方法。IFDR碼屬于外建自測(cè)試的范疇。 (3)第二種方案——新型逆向折疊方案(New Converse Folding Scheme，NCFS)——是在折疊計(jì)數(shù)器技術(shù)的基礎(chǔ)上，設(shè)計(jì)了一種新的折疊電路，并改進(jìn)了測(cè)試模式間的逆向折疊關(guān)系，通過一個(gè)逆向折疊種子和測(cè)試模式間的逆向距離值來(lái)記錄整個(gè)測(cè)試集。由于這種新的逆向折疊關(guān)系自身的特性，我們不必再像原逆向折疊方案中那樣對(duì)掃描鏈長(zhǎng)度的奇偶性作區(qū)分，更不必在掃描鏈長(zhǎng)度為奇數(shù)時(shí)對(duì)測(cè)試模式中每條掃描鏈后增加一位無(wú)關(guān)位，并且在逆向距離的計(jì)算以及跳轉(zhuǎn)路徑的選擇上更簡(jiǎn)捷、更靈活。另外，新型逆向折疊電路也比原折疊計(jì)數(shù)器方案電路更簡(jiǎn)單，更加節(jié)省硬件開銷。新型逆向折疊技術(shù)屬于混合模式自測(cè)試的范疇。 對(duì)ISCAS 89標(biāo)準(zhǔn)電路的實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明，本文提出的兩種方案均能獲得很高的壓縮率并順利解壓還原原始數(shù)據(jù)，是高效的壓縮方案。
【學(xué)位單位】：合肥工業(yè)大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】：碩士
【學(xué)位年份】：2007
【中圖分類】：TP274;TP331

【相似文獻(xiàn)】

相關(guān)碩士學(xué)位論文 前2條

1 郭文鵬;基于編碼和逆向折疊的SoC測(cè)試數(shù)據(jù)壓縮方法研究[D];合肥工業(yè)大學(xué);2007年

2 劉興瑞;財(cái)務(wù)軟件中B/S系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與開發(fā)[D];吉林大學(xué);2005年

本文編號(hào)：2810062