【摘要】： 隨著超大規(guī)模集成電路(VLSI)技術(shù)的不斷成熟，芯片的集成度正按照摩爾定律的速度持續(xù)提高，芯片的測試問題已成為制約整個(gè)行業(yè)發(fā)展的瓶頸。在當(dāng)前芯片的設(shè)計(jì)中，嵌入式存儲(chǔ)器所占的比重越來越大，因此對嵌入式存儲(chǔ)器的測試和診斷也顯得越來越重要。目前，從故障類型、測試設(shè)備及測試成本等方面考慮，用內(nèi)建自測試(BIST)技術(shù)對嵌入式存儲(chǔ)器進(jìn)行測試是普遍采用的方法。 本文從研究系統(tǒng)芯片的可測試性設(shè)計(jì)理論出發(fā)，對可測性設(shè)計(jì)中的內(nèi)建自測試方法作了更為深入的研究，并對該領(lǐng)域的研究情況進(jìn)行了介紹。在此基礎(chǔ)之上，本文分析了嵌入式存儲(chǔ)器內(nèi)建自測試技術(shù)的相關(guān)理論和方法，包括其故障模型與測試算法，重點(diǎn)剖析了March測試算法，并在已有算法的基礎(chǔ)上設(shè)計(jì)出了一種改進(jìn)型的March測試算法——March-TBA。該算法通過增加六步讀(寫)操作，不但覆蓋了更多的測試過程中可區(qū)分的故障類型，增強(qiáng)了故障診斷能力，而且減少了測試所需要的時(shí)間。最后，利用ModelSim仿真軟件進(jìn)行實(shí)驗(yàn)仿真，將得出的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)與已有算法的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行對比分析，結(jié)果表明改進(jìn)后的算法的故障覆蓋率更高，從而驗(yàn)證了該算法的有效性。
【學(xué)位授予單位】：哈爾濱工程大學(xué)
【學(xué)位級別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2007
【分類號(hào)】：TP333

【引證文獻(xiàn)】

相關(guān)碩士學(xué)位論文 前9條

1 李嘉銘;嵌入式存儲(chǔ)器在線容錯(cuò)技術(shù)研究[D];哈爾濱工業(yè)大學(xué);2011年

2 徐金榮;基于BIST的嵌入式存儲(chǔ)器可測性設(shè)計(jì)研究[D];北京交通大學(xué);2008年

3 宋毅;嵌入式隨機(jī)存儲(chǔ)器測試研究及仿真[D];湖南大學(xué);2008年

4 鄧吉建;基于March C+算法的MBIST設(shè)計(jì)[D];貴州大學(xué);2008年

5 曾慧;改進(jìn)型March算法在內(nèi)存異常檢測中的應(yīng)用[D];廈門大學(xué);2008年

6 白石;嵌入式存儲(chǔ)器的可測性設(shè)計(jì)及測試算法研究[D];哈爾濱工業(yè)大學(xué);2009年

7 齊娜;適用于MRAM的集成電路測試方法研究[D];中國石油大學(xué);2010年

8 張顯敞;存儲(chǔ)器測試算法研究及應(yīng)用實(shí)現(xiàn)[D];電子科技大學(xué);2013年

9 柳玉波;SoC嵌入式Flash的內(nèi)建自測試方法的研究與實(shí)現(xiàn)[D];電子科技大學(xué);2013年

本文編號(hào)：2802237