【摘要】： 隨著嵌入式系統(tǒng)的發(fā)展,其復(fù)雜程度不斷增加,使得開發(fā)調(diào)試在系統(tǒng)設(shè)計(jì)中的重要性不斷提高,而嵌入式多核處理器的出現(xiàn)更是讓調(diào)試方法和調(diào)試工具面臨更大的挑戰(zhàn)。如何對(duì)多核處理器進(jìn)行高效的調(diào)試,前景較好的有兩種技術(shù):一是沿用單處理器核主流調(diào)試JTAG技術(shù),并對(duì)其進(jìn)行改進(jìn)以適應(yīng)多核處理器的調(diào)試;二是非入侵的實(shí)時(shí)追蹤調(diào)試技術(shù),即片上trace調(diào)試技術(shù)。 本文基于YHFT-QDSP調(diào)試系統(tǒng),設(shè)計(jì)面向嵌入式多核處理器調(diào)試的QDSP仿真器。在功能上,QDSP仿真器一方面能夠基于JTAG調(diào)試通路實(shí)現(xiàn)對(duì)QDSP內(nèi)任意單核的調(diào)試;另一方面能夠基于片上trace調(diào)試這一非干擾的實(shí)時(shí)追蹤調(diào)試手段對(duì)QDSP進(jìn)行有效的調(diào)試。在硬件設(shè)計(jì)上,QDSP仿真器由兩個(gè)調(diào)試通路組成:JTAG調(diào)試通路和trace調(diào)試通路。對(duì)于JTAG調(diào)試通路,采用單一JTAG技術(shù)對(duì)多核處理器進(jìn)行調(diào)試,能夠?qū)崿F(xiàn)單步、斷點(diǎn)等調(diào)試功能;對(duì)于trace調(diào)試通路,將trace接口輸入的trace數(shù)據(jù)加上片外時(shí)間戳,然后經(jīng)過SDRAM存儲(chǔ)器的緩存輸出到調(diào)試主機(jī),能夠?qū)崿F(xiàn)非入侵的實(shí)時(shí)追蹤調(diào)試。
【學(xué)位授予單位】：國(guó)防科學(xué)技術(shù)大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2010
【分類號(hào)】：TP368.12

【參考文獻(xiàn)】

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本文編號(hào)：2741156