【摘要】： 隨著科學(xué)技術(shù)發(fā)展,嵌入式單片機(jī)正發(fā)揮著越來越重要的作用,廣泛應(yīng)用在生產(chǎn)、生活及科研領(lǐng)域。從實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)采集、過程控制、模糊控制等智能系統(tǒng)到人類的日常生活,都離不開單片機(jī)。因此,嵌入式單片機(jī)設(shè)計(jì)成為科技工作者所關(guān)注的焦點(diǎn)。 美國(guó)ATMEL公司生產(chǎn)的89系列單片機(jī)是和8051兼容的新型單片機(jī)。由于內(nèi)部含有Flash存儲(chǔ)器,在產(chǎn)品開發(fā)及生產(chǎn)便攜式商品和手提式儀器等方面得到廣泛應(yīng)用,是目前取代傳統(tǒng)MCS-51系列單片機(jī)的主流單片機(jī)之一。本文對(duì)一款能夠兼容89系列單片機(jī)指令集的8位MCU(ssh417)進(jìn)行剖析,針對(duì)設(shè)計(jì)項(xiàng)目對(duì)其進(jìn)行功能驗(yàn)證和測(cè)試向量故障覆蓋率評(píng)估。 目前測(cè)試技術(shù)主要分兩個(gè)方向:1)集成電路設(shè)計(jì)階段考慮到測(cè)試需要而插入一些可測(cè)試性結(jié)構(gòu),即基于DFT的測(cè)試;2)傳統(tǒng)測(cè)試方法—不基于DFT的測(cè)試�？蓽y(cè)試性技術(shù)是目前測(cè)試技術(shù)的發(fā)展方向。本文研究的8位MCU設(shè)計(jì)項(xiàng)目,由于產(chǎn)品性能和工程項(xiàng)目的要求,若采用可測(cè)試性設(shè)計(jì)會(huì)增加設(shè)計(jì)難度、增大芯片面積及增加生產(chǎn)成本。因此本文最終提取工業(yè)用測(cè)試向量由系統(tǒng)功能驗(yàn)證的測(cè)試激勵(lì)產(chǎn)生,不基于可測(cè)性設(shè)計(jì)。 激勵(lì)生成和覆蓋評(píng)估是模擬驗(yàn)證中的核心問題,本文對(duì)該問題展開研究,目的在于針對(duì)MCU設(shè)計(jì)項(xiàng)目,由Verilog結(jié)構(gòu)化門級(jí)網(wǎng)表分析其功能測(cè)試向量的故障覆蓋率。 首先建立基于Verilog-HDL結(jié)構(gòu)化門級(jí)網(wǎng)表仿真環(huán)境,包括結(jié)構(gòu)化門級(jí)網(wǎng)表提取、指令集編譯器應(yīng)用、系統(tǒng)外部邏輯模型建模和建立各種激勵(lì)。其次,應(yīng)用Cadence公司的Verilog-XL仿真器對(duì)結(jié)構(gòu)化門級(jí)網(wǎng)表進(jìn)行功能驗(yàn)證,并應(yīng)用Verifault-XL故障仿真器分析該功能測(cè)試向量的故障覆蓋率。最后,在得到故障覆蓋統(tǒng)計(jì)文件的基礎(chǔ)上,通過分析故障統(tǒng)計(jì)文件中“status=undetected”的故障點(diǎn),改進(jìn)部分測(cè)試程序和適當(dāng)?shù)卦黾硬糠譁y(cè)試功能點(diǎn),使功能測(cè)試向量故障覆蓋率提高到92.1%,滿足蘇州國(guó)微工大微電子有限公司開發(fā)的8位MCU ssh417設(shè)計(jì)工程項(xiàng)目要求,該MCU可以進(jìn)行初次投片與測(cè)試。
【學(xué)位授予單位】：哈爾濱理工大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2007
【分類號(hào)】：TP368.11
【圖文】：

3.2.1 存儲(chǔ)器方面普通 89C52 系列單片機(jī)的內(nèi)部 RAM 只有 128 字節(jié)（00H~7FH）供用戶使用。本款單片機(jī)在內(nèi)部增加了擴(kuò)展 RAM（EXT_RAM，地址 80H~0FFH），并只能用間接尋址方式訪問，即采用 MOV A,@Ri 和 MOV @Ri,A 指令進(jìn)行訪問。訪問內(nèi)部擴(kuò)展 RAM 時(shí)，不影響 P0 口/P2 口/P3.6/P3.7。擴(kuò)展 RAM 管理及禁止 ALE 輸出采用特殊功能寄存器 AUXR 進(jìn)行控制。特殊功能寄存器 AUXR 的具體情況如圖 3-2 所示。

圖3-3 T2CON控制寄存器Fig.3-3 T2CON control register圖 3-4 T2MOD 控制寄存器Fig.3-4 T2MOD control register3.3 驗(yàn)證環(huán)境的建立此處驗(yàn)證是指針對(duì)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)化門級(jí)網(wǎng)表進(jìn)行的功能驗(yàn)證。系統(tǒng)級(jí)驗(yàn)證環(huán)境由微控制器的結(jié)構(gòu)化門級(jí)網(wǎng)表、指令級(jí)模擬器、系統(tǒng)外部邏輯模型、測(cè)試激勵(lì)生成器等幾部分組成。本文所搭建的驗(yàn)證環(huán)境如圖 3-5 所示。

【引證文獻(xiàn)】

相關(guān)博士學(xué)位論文 前1條

1 劉銘;列車通信網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)形式化建模與驗(yàn)證方法研究[D];哈爾濱工程大學(xué);2011年

相關(guān)碩士學(xué)位論文 前1條

1 劉潔;DSP處理器的功能測(cè)試[D];復(fù)旦大學(xué);2012年

本文編號(hào)：2733727