【摘要】： Flash存儲器發(fā)展到今天,容量速度都在飛速的提高,并為了追求更好的性能衍生出了各種各樣的單元結(jié)構(gòu)。我們需要研究如何針對一個Flash產(chǎn)品進行迅速有效的測試。在本文中,我們首先回顧了Flash的發(fā)展歷程,對如今Flash的現(xiàn)狀有了一個初步的了解。然后我們以SanDisk公司的MicroSD單元結(jié)構(gòu)為研究對象,通過與傳統(tǒng)單元的對比,充分了解該單元結(jié)構(gòu)的優(yōu)點并分析了其故障模型。接著,我們開始對采用了這種單元結(jié)構(gòu)的產(chǎn)品MicroSD進行了介紹并準備對其進行測試。了解了其產(chǎn)品功能特性后,我們結(jié)合MicroSD的故障模型,詳細研究了其測試原理和方法。最后制定出了完整的測試流程,對該產(chǎn)品進行了測試并予以總結(jié)。本論文主要有以下兩個特點:1.結(jié)合生產(chǎn)實踐中的失效機理確定測試方法;2.本文的測試方法和程序已經(jīng)用于正常生產(chǎn),并得到比較好的結(jié)果。
【學(xué)位授予單位】：復(fù)旦大學(xué)
【學(xué)位級別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2008
【分類號】：TP333

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