【摘要】： X微處理器是一款結(jié)構(gòu)異常復(fù)雜的微處理器,它的內(nèi)部包含有:Cache、微碼ROM、指令預(yù)取部件和動(dòng)態(tài)分支預(yù)測(cè)部件、指令譯碼部件、整數(shù)部件、多媒體部件、浮點(diǎn)部件、分段和分頁(yè)部件、總線接口部件、雙處理器接口部件、可編程中斷控制部件等。對(duì)于一個(gè)結(jié)構(gòu)如此復(fù)雜的微處理器,若要僅僅依靠外部測(cè)試得到預(yù)期的故障覆蓋率,是一件非常困難的事,因此必須在芯片中增加內(nèi)建自測(cè)試設(shè)計(jì)。 本文深入研究了目前國(guó)際上各種自測(cè)試設(shè)計(jì)技術(shù)和方法,根據(jù)X微處理器的特點(diǎn)和其對(duì)測(cè)試的具體需求,提出了一整套X微處理器的內(nèi)建自測(cè)試設(shè)計(jì)方案。該方案充分考慮了X處理器的內(nèi)部結(jié)構(gòu),有針對(duì)性的選擇了一系列成熟可靠的自測(cè)試技術(shù)和方法,并充分利用X處理器所具有的處理能力和CPU特有的地址、數(shù)據(jù)總線及其調(diào)測(cè)試結(jié)構(gòu),在盡量少的硬件開(kāi)銷(xiāo)的前提下,提供了很高的測(cè)試覆蓋率和故障覆蓋率,很好的滿足了X處理器對(duì)測(cè)試的需求。同時(shí)還具體實(shí)現(xiàn)了這套自測(cè)試方案,構(gòu)造了完整的X處理器的自測(cè)試結(jié)構(gòu),應(yīng)用于X處理器上并流片成功。 X微處理器的內(nèi)建自測(cè)試分為結(jié)構(gòu)自測(cè)試和微碼程序自測(cè)試兩階段。在結(jié)構(gòu)自測(cè)試階段,對(duì)處理器的指令流通路、微碼rom以及其它一些重要電路進(jìn)行了測(cè)試;在微碼程序自測(cè)試階段,通過(guò)事先存儲(chǔ)的微程序,對(duì)處理器指令部件、各功能部件以及各大型存儲(chǔ)單元陣列進(jìn)行了測(cè)試,同時(shí)實(shí)現(xiàn)了對(duì)處理器控制通路和數(shù)據(jù)通路的測(cè)試,從而使高達(dá)70%的硬件得到了覆蓋;通過(guò)對(duì)自測(cè)試過(guò)程的精心組織以及自測(cè)試邏輯與芯片掃描結(jié)構(gòu)的有效整合,為用戶(hù)提供了非常方便的自測(cè)試使用和診斷手段。
【圖文】：

圖3.IX微處理器結(jié)構(gòu)圖X微處理器的結(jié)構(gòu)相當(dāng)復(fù)雜，如圖3.1所示，它的內(nèi)部包含:四路組相聯(lián)的指令Cache及其全相聯(lián)的TLB、四路組相聯(lián)的數(shù)據(jù)Cache及其全相聯(lián)的TLB、指令預(yù)取部件和兩級(jí)動(dòng)態(tài)分支預(yù)測(cè)部件、微程序部件、簡(jiǎn)單指令譯碼和復(fù)雜指令譯碼部件、整數(shù)部件、雙流出多媒體部件、具有處理超越函數(shù)能力的浮點(diǎn)部件、分段

結(jié)構(gòu)自測(cè)試模擬結(jié)果波形
【學(xué)位授予單位】：國(guó)防科學(xué)技術(shù)大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2006
【分類(lèi)號(hào)】：TP332

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本文編號(hào)：2639752