本文關(guān)鍵詞：大容量SIM卡高速Inter_Chip接口測試，，由筆耕文化傳播整理發(fā)布。

【摘要】：根據(jù)中國工信部最新發(fā)布的通信行業(yè)運(yùn)行報告顯示,全國移動電話的用戶已經(jīng)接近10億戶,中國的SIM卡市場的年發(fā)卡量也接近9億張,而且隨著移動電話用戶的近一步增長,SIM卡的需求量也會進(jìn)一步增長。SIM卡是連接移動運(yùn)行商和手機(jī)終端的橋梁。早期的SIM卡僅能完成簡單的用戶識別。隨著移動通信業(yè)務(wù)的發(fā)展,短信和WAP等增值業(yè)務(wù)快速普及,移動運(yùn)營商從單一的對用戶提供語音業(yè)務(wù),逐步開始提供各種增值業(yè)務(wù)。隨著互聯(lián)網(wǎng)和3G、4G網(wǎng)絡(luò)的部署,移動通信進(jìn)入了移動互聯(lián)網(wǎng)時代。手機(jī)地圖、移動定位、移動支付、手機(jī)郵箱等各種基于手機(jī)的移動數(shù)據(jù)應(yīng)用開始普及。在這種情況下,SIM卡中實(shí)現(xiàn)對數(shù)字版權(quán)的保護(hù)、流媒體的控制、移動支付需要的加密,以及空中下載增值業(yè)務(wù),設(shè)計(jì)制造大容量SIM卡被提上日程。大容量SIM卡為適應(yīng)更高的數(shù)據(jù)通訊的需求,需要支持具備更高通訊速率的協(xié)議,SIM卡除了支持高速接口外還需要支持傳統(tǒng)的ISO7816接口。在這種資源有限的情況下,設(shè)計(jì)人員設(shè)計(jì)出一種以USB2.0為基礎(chǔ)的低功耗高速Inter-Chip USB,簡稱HSIC。目前一些設(shè)計(jì)公司普遍采用的測試方案,一種是在服務(wù)器端搭建系統(tǒng)級的仿真驗(yàn)證平臺測試芯片的功能正確性,另外一種為建立硬件板級測試平臺,通過PCB電路板測試芯片功能的正確性。通過仿真平臺驗(yàn)證花費(fèi)時間長,效率比較低,對于芯片的功能測試能夠更加全面。通過板級測試平臺,會存在許多測試盲點(diǎn),同時還需要使用較多的測試工具,工作較瑣碎復(fù)雜。目前很多公司采用兩種方案共同使用來確保芯片能夠正常使用。本文主要的研究是公司一款大容量SIM卡上新設(shè)計(jì)的高速Inter-Chip USB接口的功能。對于公司內(nèi)部以前沒有測試案例的一種新型設(shè)計(jì)接口,如何尋找一種高效、穩(wěn)定和合理的測試方案,是本文的重點(diǎn)工作研究內(nèi)容。這套測試方案包括搭建硬件測試平臺和軟件測試平臺,以保證芯片的模塊功能測試成功。硬件測試平臺主要是制作測試電路板,正確連接主機(jī)和設(shè)備,正確的接入測試點(diǎn)等。軟件測試主要是正確的編寫測試代碼,如何快速有效的調(diào)試測試代碼等。建立一套適用于所有提供高速Inter-Chip USB協(xié)議規(guī)定傳輸?shù)慕涌谀K的測試方案,使HSIC接口模塊能夠完成主機(jī)與設(shè)備之間的枚舉過程。
【關(guān)鍵詞】：SIM卡 高速 Inter-Chip USB接口 測試方案
【學(xué)位授予單位】：西安電子科技大學(xué)
【學(xué)位級別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2015
【分類號】：TP334.7
【目錄】：

• 摘要5-6
• ABSTRACT6-11
• 符號對照表11-12
• 縮略語對照表12-16
• 第一章 緒論16-20
• 1.1 研究的背景和意義16
• 1.2 課題來源及目的16-17
• 1.3 論文的內(nèi)容安排17-20
• 第二章 HSIC架構(gòu)20-26
• 2.1 HSIC的結(jié)構(gòu)20-23
• 2.1.1 UTMI介紹20
• 2.1.2 HSIC基本模塊20-22
• 2.1.3 HSIC接口狀態(tài)22
• 2.1.4 HSIC上電順序22-23
• 2.2 HSIC的時鐘23
• 2.3 HSIC與USB2.0 的對比23-25
• 2.4 本章小結(jié)25-26
• 第三章 USB2.0 協(xié)議介紹26-38
• 3.1 包的場格式26-28
• 3.1.1 包的標(biāo)識符場26-27
• 3.1.2 設(shè)備端點(diǎn)和地址場27-28
• 3.1.3 數(shù)據(jù)場28
• 3.2 包的格式28-31
• 3.2.1 循環(huán)冗余檢驗(yàn)28
• 3.2.2 令牌包28-29
• 3.2.3 幀開始包29
• 3.2.4 數(shù)據(jù)包29
• 3.2.5 握手包及握手響應(yīng)29-31
• 3.3 傳輸類型31-34
• 3.3.1 控制傳輸32
• 3.3.2 批量傳輸32-33
• 3.3.3 中斷傳輸33-34
• 3.3.4 實(shí)時傳輸34
• 3.4 錯誤檢測和重發(fā)機(jī)制34-37
• 3.4.1 總線等待時間35
• 3.4.2 令牌包錯誤35
• 3.4.3 數(shù)據(jù)包的錯誤35-36
• 3.4.4 握手包錯誤36-37
• 3.5 本章小結(jié)37-38
• 第四章 HSIC測試方案38-60
• 4.1 測試環(huán)境38-44
• 4.1.1 連接HSIC的集線器介紹38-39
• 4.1.2 HSIC的測試板介紹39-41
• 4.1.3 HSIC的驅(qū)動程序介紹41-44
• 4.2 HSIC測試的相關(guān)寄存器介紹44-47
• 4.2.1 HSIC寄存器功能介紹44-46
• 4.2.2 其他相關(guān)模塊的寄存器46-47
• 4.3 HSIC的測試方法47-54
• 4.3.1 測試連接的方式47-49
• 4.3.2 測試代碼的調(diào)試方式49-54
• 4.4 測試中難題及解決54-58
• 4.5 本章小結(jié)58-60
• 第五章 HSIC測試結(jié)果及分析60-70
• 5.1 HSIC協(xié)議介紹60-63
• 5.1.1 數(shù)據(jù)編碼方式及位填充60
• 5.1.2 建立包的說明60-62
• 5.1.3 描述符的說明62
• 5.1.4 主機(jī)和設(shè)備枚舉之前的連接62-63
• 5.2 測試結(jié)果63-69
• 5.2.1 HSIC測試時序的發(fā)送63
• 5.2.2 枚舉前的連接時序63-66
• 5.2.3 枚舉過程66-69
• 5.3 本章小結(jié)69-70
• 第六章 結(jié)論和展望70-72
• 6.1 結(jié)論70-71
• 6.2 展望71-72
• 參考文獻(xiàn)72-74
• 致謝74-76
• 作者簡介76-77

【相似文獻(xiàn)】

中國碩士學(xué)位論文全文數(shù)據(jù)庫 前1條

1 李路康;大容量SIM卡高速Inter_Chip接口測試[D];西安電子科技大學(xué);2015年

  本文關(guān)鍵詞：大容量SIM卡高速Inter_Chip接口測試，由筆耕文化傳播整理發(fā)布。

本文編號：262852