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CoFe基垂直磁各向異性合金薄膜的制備及特性研究

發(fā)布時間:2020-04-02 01:13
【摘要】:隨著信息技術(shù)的發(fā)展,對存儲技術(shù)的要求越來越高,提高記錄密度和讀寫速度,降低功耗已經(jīng)成為信息技術(shù)中研究最為活躍的領(lǐng)域之一;诖怪贝潘淼澜Y(jié)(Magnetic Tunnelling Junction,MTJ)的磁性隨機存儲器(Magnetic Random Access Memory,MRAM)具有存儲密度大、讀寫速度快和功耗低等優(yōu)點而有望成為新一代通用存儲器。Co_2FeAl(CFA)和GdFeCo兩種軟磁薄膜具有大的垂直磁各向異性。另外,CFA合金薄膜有著高的自旋極化率和低的阻尼因子,GdFeCo薄膜可實現(xiàn)在皮秒到飛秒級別的超快磁化翻轉(zhuǎn),因此它們被廣泛應(yīng)用于MRAM中。CFA和GdFeCo是制備垂直磁隧道結(jié)的熱門材料,因此研究它們的垂直磁各向異性具有重要的意義。本論文就CFA和GdFeCo兩種垂直磁各向異性合金薄膜的制備及磁、光、電與結(jié)構(gòu)特性進行了系統(tǒng)的研究,主要內(nèi)容如下:首先,用直流磁控濺射法分別在32 W和13 W功率下制備了25 nm厚的CFA合金薄膜,并進行了退火處理。研究了濺射功率和退火溫度對CFA薄膜磁與結(jié)構(gòu)特性的影響。高功率下制備的沉積態(tài)薄膜就具有強磁性,同時也具有單軸磁各向異性;而對應(yīng)的低功率下制備的沉積態(tài)薄膜則呈現(xiàn)出弱磁性。300℃退火后出現(xiàn)單軸磁各向異性;700℃退火后,所有的薄膜均表現(xiàn)為磁各向同性。隨著退火溫度的升高,薄膜的矯頑力變大。X射線衍射分析表明的隨著熱處理溫度升高,薄膜的晶粒尺寸增大,從而導(dǎo)致晶粒間磁耦合作用增強,這與薄膜的磁特性結(jié)果相一致。其次,在Pd/CFA/MgO結(jié)構(gòu)中實現(xiàn)了易軸垂直于膜面。制備了一系列Pd/CFA/MgO結(jié)構(gòu)薄膜,并在200-450℃進行真空退火。系統(tǒng)地研究了退火溫度、磁性層厚度、Pd/CFA和CFA/MgO界面對薄膜垂直磁各向異性的影響。結(jié)果表明,Pd/CFA/MgO結(jié)構(gòu)薄膜經(jīng)250-400℃退火后具有垂直磁各向異性。在300-350℃退火下薄膜的垂直磁各向異性最佳,并且觀察到垂直CFA厚度范圍為3-5 nm,有效磁各向異性常數(shù)可達到2×10~6 erg/cm~3。另外研究發(fā)現(xiàn)Pd/CFA和CFA/MgO界面都對薄膜的垂直磁各向異性具有正貢獻。最后,采用鑲嵌靶技術(shù),在不同直流濺射功率下制備了一系列厚度為100 nm的GdFeCo薄膜。隨著濺射功率的增大,GdFeCo薄膜的易軸從水平方向變成垂直方向,然后再變成水平方向。這是由于隨著濺射功率的增加,Gd的含量增加所導(dǎo)致的。為了研究薄膜的熱穩(wěn)定性,在不同溫度下對富Gd的GdFeCo薄膜進行真空熱處理,測量了薄膜的磁電和磁光特性,200℃下退火的薄膜還保持著富Gd的垂直,表明制備的薄膜有好的熱穩(wěn)定性。另外,我們采用射頻磁控濺射法制備了一系列厚度更薄的GdFeCo薄膜,同樣實現(xiàn)了GdFeCo薄膜磁特性的可調(diào)。
【圖文】:

垂直磁記錄,磁記錄


第 1 章 緒論隨著信息技術(shù)的發(fā)展,大數(shù)據(jù)時代的到來,需要存儲的信息量迅速增長。面對信息存儲,研究者們不斷地尋找新方法來提高信息存儲密度。目前,高密度存儲系統(tǒng)主要有以下幾種:磁記錄存儲、相變存儲和半導(dǎo)體存儲等。因為磁記錄存儲容量大,性價比和穩(wěn)定性高,所以現(xiàn)在應(yīng)用最廣泛的是磁記錄存儲[1-2]。磁記錄存儲的發(fā)展歷程大體經(jīng)歷了三個階段。第一階段主要致力于薄膜磁頭的開發(fā)和真空濺射技術(shù)的改進。第二階段則主要是巨磁電阻(GiantMagnetoresistance, GMR)效應(yīng)的應(yīng)用,使得磁記錄密度在上世紀 90 年代得到快速增長。上世紀 80 年代末,德國的 Grünberg 研究組[3]和法國的 Fert 研究組[4]分別在 Fe/Cr 多層膜中發(fā)現(xiàn)了巨磁電阻效應(yīng)。值得提及的是他們因此共同獲得 2007年諾貝爾物理學(xué)獎。隨后 IBM 公司成功研制出基于 GMR 效應(yīng)的磁頭,將存儲密度提高到 10 G bit/in2[5]。

垂直磁記錄,磁記錄,示意圖,晶粒數(shù)


小記錄位的尺寸:減少每一個記錄位內(nèi)的晶粒數(shù)和減小晶粒尺寸。一方面,信噪比正比于 N1/2(N 為每一記錄位中的晶粒數(shù)),所以為保障一定的信噪比,每一單元中要有足夠數(shù)量的晶粒。另一方面,晶粒體積的減小受超順磁效應(yīng)的限制。晶粒尺寸越小,其具備的能量就越小,分子的熱擾動就能破壞它的磁性,這種現(xiàn)象就是超順磁效應(yīng)[8]。研究者們用晶粒的弛豫時間 τ 來表征熱穩(wěn)定性[9],τ由公式 1.1 決定:9B=10 exp(K V / k T) μτ (1.1)式中 Kμ為磁各向異性常數(shù),V 為晶粒的體積。從式中可以發(fā)現(xiàn)為了保證介質(zhì)中晶粒磁化狀態(tài)的穩(wěn)定,應(yīng)保持較高的 KμV 值。但是 Kμ值的增加受磁寫入能力的限制,因此 V 不能太小。綜上所述,記錄位單元內(nèi)的晶粒數(shù)不能太少,,晶粒尺寸又不能太小。雖然使用具有更高磁各向異性常數(shù) Kμ的介質(zhì)可以提高熱穩(wěn)定性,但是又為磁寫入帶來困難。因此,提高磁記錄密度陷入了 SNR、熱穩(wěn)定性和磁頭寫入能力三者無法兼顧的困境。
【學(xué)位授予單位】:華僑大學(xué)
【學(xué)位級別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2018
【分類號】:TG132.27;TB383.2;TP333

【參考文獻】

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本文編號:2611229

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