CoFe基垂直磁各向異性合金薄膜的制備及特性研究
【圖文】:
第 1 章 緒論隨著信息技術(shù)的發(fā)展,大數(shù)據(jù)時代的到來,需要存儲的信息量迅速增長。面對信息存儲,研究者們不斷地尋找新方法來提高信息存儲密度。目前,高密度存儲系統(tǒng)主要有以下幾種:磁記錄存儲、相變存儲和半導(dǎo)體存儲等。因為磁記錄存儲容量大,性價比和穩(wěn)定性高,所以現(xiàn)在應(yīng)用最廣泛的是磁記錄存儲[1-2]。磁記錄存儲的發(fā)展歷程大體經(jīng)歷了三個階段。第一階段主要致力于薄膜磁頭的開發(fā)和真空濺射技術(shù)的改進。第二階段則主要是巨磁電阻(GiantMagnetoresistance, GMR)效應(yīng)的應(yīng)用,使得磁記錄密度在上世紀 90 年代得到快速增長。上世紀 80 年代末,德國的 Grünberg 研究組[3]和法國的 Fert 研究組[4]分別在 Fe/Cr 多層膜中發(fā)現(xiàn)了巨磁電阻效應(yīng)。值得提及的是他們因此共同獲得 2007年諾貝爾物理學(xué)獎。隨后 IBM 公司成功研制出基于 GMR 效應(yīng)的磁頭,將存儲密度提高到 10 G bit/in2[5]。
小記錄位的尺寸:減少每一個記錄位內(nèi)的晶粒數(shù)和減小晶粒尺寸。一方面,信噪比正比于 N1/2(N 為每一記錄位中的晶粒數(shù)),所以為保障一定的信噪比,每一單元中要有足夠數(shù)量的晶粒。另一方面,晶粒體積的減小受超順磁效應(yīng)的限制。晶粒尺寸越小,其具備的能量就越小,分子的熱擾動就能破壞它的磁性,這種現(xiàn)象就是超順磁效應(yīng)[8]。研究者們用晶粒的弛豫時間 τ 來表征熱穩(wěn)定性[9],τ由公式 1.1 決定:9B=10 exp(K V / k T) μτ (1.1)式中 Kμ為磁各向異性常數(shù),V 為晶粒的體積。從式中可以發(fā)現(xiàn)為了保證介質(zhì)中晶粒磁化狀態(tài)的穩(wěn)定,應(yīng)保持較高的 KμV 值。但是 Kμ值的增加受磁寫入能力的限制,因此 V 不能太小。綜上所述,記錄位單元內(nèi)的晶粒數(shù)不能太少,,晶粒尺寸又不能太小。雖然使用具有更高磁各向異性常數(shù) Kμ的介質(zhì)可以提高熱穩(wěn)定性,但是又為磁寫入帶來困難。因此,提高磁記錄密度陷入了 SNR、熱穩(wěn)定性和磁頭寫入能力三者無法兼顧的困境。
【學(xué)位授予單位】:華僑大學(xué)
【學(xué)位級別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2018
【分類號】:TG132.27;TB383.2;TP333
【參考文獻】
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本文編號:2611229
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