【摘要】： 隨著深亞微米VLSI技術(shù)的發(fā)展,存儲器密度的增長使存儲器的測試面臨著更大的挑戰(zhàn)。而隨著半導(dǎo)體工藝尺寸不斷縮小,存儲器可能存在的故障類型越來越多,使得測試時間和測試成本都急劇增長。因此,存儲器測試方法的研究日益受到重視。在可以接受的測試費用和測試時間的限制下,準確的故障模型和有效的測試算法是至關(guān)重要的,存儲器測試算法的選擇以及測試的實現(xiàn)方法是存儲器測試的關(guān)鍵。 本文介紹了存儲器測試的應(yīng)用現(xiàn)狀,目前對于存儲器的測試方法,總結(jié)了存儲器傳統(tǒng)的故障模型和內(nèi)存測試算法,詳細分析了March算法的優(yōu)勢、演變及各改進算法的特點。 雖然PC產(chǎn)品的各部件在進入電腦工廠前產(chǎn)品都有經(jīng)過測試,PC產(chǎn)品的一些主要部件在客戶使用后故障率仍然是居高不下的,因此PC產(chǎn)品的整機測試包括存儲器的測試仍然是非常必要的。而隨著存儲器容量的增大,測試時間正日益成為測試過程中不可忽視的瓶頸。 針對這一情況,本文以March測試算法為基礎(chǔ),設(shè)計出一種改進型March算法——March-TBL算法,該算法在故障覆蓋率不變的情況下,大大減少了測試時間。原有的March算法中很多操作步都是為了區(qū)別出不同的故障類型,而在計算機整機的產(chǎn)品測試中,對存儲器的測試要求是故障覆蓋率較高的同時測試時間盡量縮短,對于區(qū)別不同的故障則不做要求。因此可以通過縮減這一部分的測試達到優(yōu)化的目的。本文最后設(shè)計并實現(xiàn)一個基于該改進型算法的內(nèi)存檢測原型程序,對所設(shè)計的內(nèi)存檢測原型程序的結(jié)構(gòu)進行了介紹,列出了其設(shè)計和運行效果,用以驗證該算法的有效性。 最后,本文在總結(jié)和展望中指出,將存儲器內(nèi)建自測試(MBIST)應(yīng)用于PC機所有類型的存儲器上,是將來存儲器測試優(yōu)化的努力方向,這樣可以顯著減少存儲器的測試時間,從而大量節(jié)省測試成本。
【圖文】：

內(nèi)存、CPU、顯示卡、聲卡、主機板、硬盤驅(qū)動器、光驅(qū)等。雖然PC產(chǎn)品的各種部件在進入電腦工廠前供應(yīng)商都有經(jīng)過嚴格測試的，PC產(chǎn)品的一些主要部件在客戶使用后故障率仍然是居高不下的。圖2.1一2.3是某品牌PC產(chǎn)品臺式機、筆記本、服務(wù)器在2008年6月至10月客戶反饋的按部件排序的故障分布圖。 lllll;.。.。。。.、，，/一 一...2{M如.6畫2儀卜.了口2工洲用.8口2以州，勻國2誼加用 .1000圖2.1臺式機配件客戶故障分布圖

圖2.2筆記本配件客戶故障分布圖iiiiii。、�！甴a灘‘‘...2的民6.2的已‘7口2的氏包口加能.勺.2閱民轟OOO圖2.3服務(wù)器配件客戶故障分布圖
【學(xué)位授予單位】：廈門大學(xué)
【學(xué)位級別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2008
【分類號】：TP333

【引證文獻】

相關(guān)碩士學(xué)位論文 前1條

1 朱琪峰;基于ADVANTEST的混合測試平臺開發(fā)[D];上海交通大學(xué);2011年

本文編號：2600747