【摘要】：嵌入式系統(tǒng)開發(fā)過程中，調(diào)試是一個不可或缺的環(huán)節(jié)，通過調(diào)試可以準(zhǔn)確定位錯誤的所在�，F(xiàn)階段，處理器芯片會在芯片研制時增加一個單獨的用于調(diào)試的模塊，即Debug模塊，本文針對的就是中國科學(xué)院研制的一款基于8051的單片機(jī)電能芯片，設(shè)計要求在不改變內(nèi)核，不增加單獨的調(diào)試指令，不給硬件帶來大的開銷的前提下設(shè)計一個具有設(shè)置斷點、修改斷點、查看存儲器和寄存器、單步調(diào)試等功能的Debug模塊。 本文從調(diào)試設(shè)計的要求出發(fā)，設(shè)計了一套調(diào)試方案，方案的調(diào)試思想是利用設(shè)置斷點，通過斷點匹配引發(fā)Debug中斷，使得程序進(jìn)入調(diào)試狀態(tài)，然后通過UART口，由上位機(jī)調(diào)試界面輸入調(diào)試指令，目標(biāo)機(jī)在接收到調(diào)試指令，通過固化在ROM中的中斷服務(wù)程序解析后，根據(jù)調(diào)試指令輸出相應(yīng)的調(diào)試信息，如存儲器的值、寄存器的值等。其中單步調(diào)試設(shè)計巧妙，主要是利用了電能芯片在響應(yīng)中斷時執(zhí)行完當(dāng)前指令的特點設(shè)計的。整個方案包括兩個部分，一個是硬件部分，另一個是軟件部分。硬件部分包括斷點匹配單元、調(diào)試寄存器、調(diào)試指令。斷點匹配單元實際上是一個Debug中斷觸發(fā)源，利用設(shè)置的端點值與當(dāng)前的PC值比較，如若相等，，則斷點匹配成功，從而引發(fā)Debug中斷，使程序進(jìn)入調(diào)試狀態(tài)。調(diào)試寄存器包括16個斷點寄存器、1個Debug控制寄存器、2個起始地址寄存器和2個結(jié)束地址寄存器。文中根據(jù)不同的存儲器，設(shè)計了4種類型的調(diào)試指令，分別是寄存器調(diào)試指令、指令空間調(diào)試指令、數(shù)據(jù)空間調(diào)試指令和外部數(shù)據(jù)空間調(diào)試指令，調(diào)試指令均是每8位為一段，為了設(shè)計的平衡性，不管訪問何種類型的存儲空間，都是5段調(diào)試指令，依次是訪問類型指令、高位起始地址、地位起始地址、高位結(jié)束地址和地位結(jié)束地址。軟件部分包括兩個部分，分別是中斷服務(wù)程序和上位機(jī)調(diào)試界面的制作。中斷服務(wù)程序主要作用是解析上位機(jī)送過來的調(diào)試指令，然后根據(jù)指令輸出相應(yīng)的調(diào)試信息，該部分的程序固化在了芯片的ROM中。調(diào)試界面主要利用MFC在VC2005上開發(fā)完成，該部分也已經(jīng)進(jìn)過測試，能正常完成調(diào)試功能。
【圖文】：

圖 1.1 Crach and Bum 調(diào)試過程發(fā)方式是極其原始和低效的。給開發(fā)者帶來的痛r 方式，首先在目標(biāo)機(jī)的 ROM 空間固化一段事先過某一類中斷被觸發(fā)執(zhí)行[15]，然后通過串口、并從而來監(jiān)視目標(biāo)機(jī)上被調(diào)試程序的運行。這種調(diào)便、可擴(kuò)展性強(qiáng)、除通信端口外不需要額外的硬序難度大，尤其是開發(fā)功能強(qiáng)大的監(jiān)控程序；需現(xiàn)實時監(jiān)控；調(diào)試環(huán)境和真實環(huán)境有差異。盡管泛，如：ARM 公司的 Angle。

RomMonitor調(diào)試結(jié)構(gòu)
【學(xué)位授予單位】：湖南大學(xué)
【學(xué)位級別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2012
【分類號】：TP368.12

【引證文獻(xiàn)】

相關(guān)碩士學(xué)位論文 前1條

1 張化南;全電子高壓脈沖軌道電路接收器的硬件研究與設(shè)計[D];蘭州交通大學(xué);2013年

本文編號：2561413