【摘要】：通過磁力顯微鏡(MFM),采用不同的提升高度(LSH)對(duì)垂直磁記錄硬盤磁疇形態(tài)和表面形貌進(jìn)行了實(shí)驗(yàn);單獨(dú)采用常規(guī)AFM對(duì)同一硬盤區(qū)域進(jìn)行了形貌考察,用來和MFM得到的形貌進(jìn)行比較。實(shí)驗(yàn)證明:MFM實(shí)驗(yàn)時(shí)設(shè)置的LSH必須小于等于給硬盤寫入磁信息時(shí)磁頭的飛行高度才能夠清晰分辨磁疇的形態(tài);另外,由于磁力的存在造成了在使用MFM同時(shí)測(cè)定硬盤的磁疇形態(tài)和表面形貌時(shí),產(chǎn)生了嚴(yán)重失真的表面形貌假象,必須另外通過常規(guī)AFM檢測(cè)才能準(zhǔn)確確定硬盤的表面形貌和粗糙度數(shù)值;這種形貌假象也是磁信息的一種變相體現(xiàn),可以通過硬盤類光滑樣品的MFM失真形貌圖來間接輔助確定其磁疇的形態(tài)分布。
【作者單位】： 華東理工大學(xué)分析測(cè)試中心;
【分類號(hào)】：TP333.35

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