【摘要】：在信息技術(shù)風(fēng)起云涌的今天,存儲(chǔ)服務(wù)器是保證信息安全最重要的手段,能提供普通電腦磁盤無法提供的數(shù)據(jù)冗余等更多高級(jí)功能。其中數(shù)據(jù)冗余這一核心功能,是由磁盤陣列(RAID)來提供的。磁盤陣列產(chǎn)品的物理組成復(fù)雜、軟件功能較多,代碼量巨大。因此,針對(duì)它的測(cè)試用例數(shù)量多、測(cè)試工作量及測(cè)試難度都較大。再加上企業(yè)的測(cè)試資源有限、激烈的市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)要求最大限度地縮短產(chǎn)品周期等因素,如何對(duì)磁盤陣列進(jìn)行高效、高質(zhì)量的測(cè)試,成為目前很多企業(yè)面臨的重大挑戰(zhàn)。論文通過對(duì)磁盤陣列測(cè)試的詳細(xì)分析,結(jié)合軟件測(cè)試?yán)碚?提出了針對(duì)磁盤陣列的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng),包括自動(dòng)化測(cè)試框架公用函數(shù)庫、測(cè)試用例參數(shù)化自動(dòng)測(cè)試框架和自動(dòng)化測(cè)試執(zhí)行框架,從而有效提高測(cè)試質(zhì)量及效率,縮短測(cè)試周期。論文主要開展以下工作:(1)根據(jù)軟件測(cè)試的理論,針對(duì)磁盤陣列產(chǎn)品,深入探討手工測(cè)試與自動(dòng)化測(cè)試的各自優(yōu)勢(shì)和局限性,研究自動(dòng)化測(cè)試與手工測(cè)試哪種測(cè)試方式更加適合磁盤陣列測(cè)試;(2)對(duì)磁盤陣列的硬件架構(gòu)、軟件架構(gòu)與軟件功能進(jìn)行分析與研究,根據(jù)測(cè)試用例使用的接口與工具,實(shí)現(xiàn)為自動(dòng)化測(cè)試用例編寫提供公用函數(shù)庫,從而提高效率;(3)在測(cè)試用例自動(dòng)化實(shí)現(xiàn)方面,對(duì)磁盤陣列測(cè)試用例的步驟、方法與流程進(jìn)行分析與歸納,提出一種統(tǒng)一的自動(dòng)化測(cè)試用例框架,通過參數(shù)定義測(cè)試用例。(4)通過實(shí)現(xiàn)多個(gè)測(cè)試用例自動(dòng)執(zhí)行,提高測(cè)試環(huán)境的使用效率和測(cè)試用例執(zhí)行速度,減少測(cè)試環(huán)境的需求,從而縮短軟件測(cè)試周期。(5)最后選取一定的測(cè)試用例,對(duì)磁盤陣列自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行驗(yàn)證。測(cè)試結(jié)果表明,自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)能夠減少代碼開發(fā)工作量,解決人力成本,有效地縮短測(cè)試周期,證明論文所開展工作的正確性和實(shí)際應(yīng)用價(jià)值。
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【學(xué)位授予單位】：上海交通大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2015
【分類號(hào)】：TP333.35;TP311.53

【參考文獻(xiàn)】

相關(guān)期刊論文 前2條

1 胡勁草,陳金樹;RAID存儲(chǔ)設(shè)備的發(fā)展及其應(yīng)用[J];電子技術(shù)應(yīng)用;2000年11期

2 趙恩銘;劉光宇;聶志強(qiáng);石紅;;基于shell原理的命令調(diào)試系統(tǒng)的開發(fā)[J];信息技術(shù);2009年03期

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本文編號(hào)：2476869