NiO:Li薄膜的阻變特性研究
[Abstract]:In recent years, resistive random access memory (RRAM) is regarded as the next generation of nonvolatile memory, which has attracted much attention. Resistive random access memory (RRAM) has attracted much attention because of its simple structure, fast transition speed, low power consumption, high density and low cost. NiO thin film is a kind of P-type semiconductor material, which is widely used in various fields. Including electrochromic, sensor, photodetector, dye solar cells and other fields. At the same time, nio is one of the most important materials in the research of resistive random access memory (RAM). In this thesis, we prepared NiO:Li thin films by pulsed laser deposition, and studied the effects of substrate temperature and oxygen partial pressure on the films. Based on this, we constructed the resistive random access memory (RAM) with Pt/NiO:Li/Pt three-layer structure. The research contents are as follows: NiO:Li thin films were successfully prepared by adjusting the substrate temperature and oxygen partial pressure, the switching voltage of the memory device was 2.4 V and 1.4 V, the switching resistance was 200K and 15K, and the switching speed was 200ns and 1 渭 s, respectively. The main conduction mechanism is SCLC, and its resistance transition mechanism is in accordance with the conductive channel model.
【學(xué)位授予單位】:東北師范大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2012
【分類號(hào)】:TP333;TN304.055
【相似文獻(xiàn)】
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本文編號(hào):2202607
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