基于ADC間歇性轉(zhuǎn)換錯(cuò)誤問題的測試程序優(yōu)化
本文選題:ADC + 轉(zhuǎn)換錯(cuò)誤; 參考:《天津大學(xué)》2012年碩士論文
【摘要】:模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊(ADC),是將模擬信號轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號的電路,是嵌入式系統(tǒng)中的重要單元。本文解決了飛思卡爾HC08系列的某一產(chǎn)品的實(shí)驗(yàn)樣品在模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊中存在的間歇性轉(zhuǎn)換錯(cuò)誤問題,提高了生產(chǎn)測試程序的覆蓋率。 本課題的研究對象是飛思卡爾HC08系列模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊。實(shí)驗(yàn)內(nèi)容包括模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊工作原理的分析,間歇性轉(zhuǎn)換錯(cuò)誤的研究,以及測試方法的改進(jìn)。文章中介紹了HC08系列模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊的功能和工作原理,以及飛思卡爾公司對于模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊的測試方法。分析了模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊間歇性轉(zhuǎn)換錯(cuò)誤的原因,開展了從芯片的程序應(yīng)用層到物理層的實(shí)驗(yàn)研究,,進(jìn)行了新測試程序的調(diào)試設(shè)計(jì)。最終達(dá)到了提高測試覆蓋率的效果。篩測出了具有此類轉(zhuǎn)換錯(cuò)誤的所有次品,提高了該產(chǎn)品的質(zhì)量。為讀者提供了一種針對ADC模塊的新的測試方法。
[Abstract]:Analog-to-digital conversion module (ADC) is a circuit that converts analog signal into digital signal, and it is an important unit in embedded system. In this paper, the problem of intermittent conversion errors in the analog-to-digital conversion module of a certain product of Freescale HC08 series has been solved, and the coverage of the production test program has been improved. The research object of this subject is Freescale HC08 series A-D conversion module. The experimental contents include the analysis of the working principle of A / D conversion module, the research of intermittent conversion error, and the improvement of test method. This paper introduces the function and working principle of HC08 series A / D conversion module, and the testing method of Freescale's analog-to-digital conversion module. This paper analyzes the causes of the intermittent conversion errors of the analog-to-digital conversion module, carries out the experimental research from the program application layer to the physical layer of the chip, and carries out the debugging design of the new test program. Finally, the effect of increasing test coverage is achieved. All defective products with such conversion errors were detected and the quality of the product was improved. A new testing method for ADC module is provided for readers.
【學(xué)位授予單位】:天津大學(xué)
【學(xué)位級別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2012
【分類號】:TP368.1;TN792
【參考文獻(xiàn)】
相關(guān)期刊論文 前10條
1 張懷強(qiáng);何為民;金仁高;陸坤;;電阻電容在線測試及LCD顯示[J];今日電子;2006年07期
2 王衛(wèi)江 ,陶然;高速ADC的性能測試[J];電子技術(shù)應(yīng)用;2004年02期
3 吳光林,胡晨,李銳;一種有效的ADC內(nèi)建自測試方案[J];電子器件;2003年02期
4 邱兆坤,王偉,馬云,陳曾平;一種新的高分辨率ADC有效位數(shù)測試方法[J];國防科技大學(xué)學(xué)報(bào);2004年04期
5 徐軍 ,杜秀艷 ,林傳騮;模數(shù)轉(zhuǎn)換器的頻域測試[J];國外電子測量技術(shù);2000年01期
6 于會(huì)生;蘇鳳蓮;王玉科;李明;郭強(qiáng);;晶圓制造、運(yùn)輸、封裝過程中Al焊墊污染源的研究[J];半導(dǎo)體技術(shù);2009年09期
7 柯新花;盧宋林;許瑞年;許升輝;李瑞;沈天健;;一種實(shí)用的高精度ADC測試方法[J];核技術(shù);2008年05期
8 朱傳敏;馮凱;何寶華;張燕燕;;半導(dǎo)體測試系統(tǒng)優(yōu)化[J];佳木斯大學(xué)學(xué)報(bào)(自然科學(xué)版);2011年05期
9 廖述劍,李迅波,楊盤洪,嚴(yán)順炳;A/D轉(zhuǎn)換器動(dòng)態(tài)性能參數(shù)研究[J];微電子學(xué);1998年04期
10 陳明珠,丁旭,肖乾;單片機(jī)軟件測試方法研究[J];情報(bào)指揮控制系統(tǒng)與仿真技術(shù);2004年05期
本文編號:2099696
本文鏈接:http://sikaile.net/kejilunwen/jisuanjikexuelunwen/2099696.html