本文選題：邊界掃描 + BIST��； 參考：《計算機(jī)測量與控制》2014年01期

【摘要】：近年來,隨著信息化裝備復(fù)雜度的增加和現(xiàn)場級快速測試診斷需求的增加,迫切需要基于邊界掃描的BIST技術(shù);在這種應(yīng)用模式中,基于邊界掃描的BIST技術(shù)能解決現(xiàn)場級快速測試診斷需求;存儲器在板級模塊上經(jīng)常使用,其BIST是板級BIST的重要組成部分;文章緊密聯(lián)系應(yīng)用需求,并以工程應(yīng)用作為參考目標(biāo),提出了一種易于實現(xiàn)的基于兩級移位"1"算法的SRAM簇測試算法,該算法在保證測試安全的前提下能夠?qū)崿F(xiàn)所有可檢測故障的100%覆蓋,并給出了基于該測試算法的SRAM簇測試BIST架構(gòu)。
[Abstract]:In recent years, with the increase of the complexity of information equipment and the increasing demand for field level rapid test diagnosis, the BIST technology based on boundary scan is urgently needed. In this application mode, the BIST technology based on boundary scan can solve the fast test diagnosis requirement of the field level; the storage device is often used on the board level module, and the BIST is the board level BIST. An important part of the paper is connected with the application requirements, and a SRAM cluster testing algorithm based on the two level shift "1" algorithm is proposed, which is easy to implement. The algorithm can achieve 100% coverage of all detectable barriers under the premise of guaranteeing the security of the test, and the SRAM based on the test algorithm is given. The cluster tests the BIST architecture.
【作者單位】： 黑龍江龍電電氣有限公司;
【分類號】：TP333

【參考文獻(xiàn)】

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【共引文獻(xiàn)】

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本文編號：2023649