本文選題：鎖存器 + 軟錯誤�。� 參考：《電子測量與儀器學(xué)報》2015年09期

【摘要】：隨著集成電路工藝尺寸的不斷降低,電路對空間輻射引起的單粒子效應(yīng)越來越敏感。為了提高電路的可靠性,基于時間和空間冗余技術(shù)提出了一種高性能的容軟錯誤鎖存器DSH-CG。該鎖存器包括兩個內(nèi)部冗余模塊和一個由C單元與保持器組成的輸出級,不但可以過濾上游組合邏輯傳播過來的SET脈沖,而且對SEU完全免疫。并且該鎖存器適用于門控時鐘電路或低頻電路。SPICE仿真結(jié)果表明,與同類鎖存器相比,該鎖存器平均延遲增加32.4%,可過濾的SET脈沖寬度平均增加73.5%,并且功耗平均降低44.5%,功耗延遲積(PDP)平均降低31.5%,面積平均增加28.6%。
[Abstract]:With the decreasing of IC process size, the circuit is more and more sensitive to the single particle effect caused by space radiation. In order to improve the reliability of the circuit, a high performance soft-error-tolerant latch DSH-CG is proposed based on temporal and spatial redundancy. The latch consists of two internal redundant modules and an output stage composed of C unit and holder. The latch can not only filter the SET pulse propagated by upstream combinational logic, but also be immune to SEU completely. The simulation results show that the latch is suitable for the gated clock circuit or the low-frequency circuit. The simulation results show that compared with the similar latch, The average delay of the latch increases by 32.4 and the filtered SET pulse width increases by 73.5, and the power consumption decreases by 44.5, the power delay product decreases by 31.5 and the average area increases by 28.6.
【作者單位】： 合肥工業(yè)大學(xué)電子科學(xué)與應(yīng)用物理學(xué)院;合肥工業(yè)大學(xué)計算機(jī)與信息學(xué)院;
【基金】：國家自然科學(xué)基金(61106038,61274036,61371025,61474036,61574052) 博士點(diǎn)基金(20110111120012) 合肥工業(yè)大學(xué)科學(xué)研究發(fā)展基金(2013HGXJ0197)資助項目
【分類號】：TP333;TN402

【參考文獻(xiàn)】

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【共引文獻(xiàn)】

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【二級參考文獻(xiàn)】

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本文編號：1781245