本文關(guān)鍵詞： 單粒子效應(yīng) 微處理器 單粒子功能錯(cuò)誤 單粒子翻轉(zhuǎn)　出處：《微電子學(xué)與計(jì)算機(jī)》2014年07期 　論文類型：期刊論文

【摘要】：對(duì)一款國(guó)產(chǎn)抗輻射加固SPARC-V8微處理器進(jìn)行了高低速兩種模式下的單粒子試驗(yàn).試驗(yàn)獲得了單粒子功能中斷的閾值和飽和錯(cuò)誤截面,并預(yù)估了GEO軌道在軌錯(cuò)誤率.經(jīng)過(guò)比較分析,國(guó)產(chǎn)微處理器與國(guó)外同類產(chǎn)品具有相同量級(jí)的抗單粒子指標(biāo),微處理器在開(kāi)CACHE的高速模式下抗單粒子能力優(yōu)于低速模式約2倍.
[Abstract]:In this paper, a single particle test of a home-made radiation-resistant SPARC-V8 microprocessor is carried out in two modes: high and low speed. The threshold of single particle function interruption and saturation error cross section are obtained, and the error rate of GEO orbit is estimated. The domestic microprocessors have the same order of magnitude anti-single particle index as the foreign products. The anti-single particle capability of the microprocessors in the high speed mode of open CACHE is about 2 times better than that in the low speed mode.
【作者單位】： 北京微電子技術(shù)研究所;
【分類號(hào)】：TP332

【參考文獻(xiàn)】

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【共引文獻(xiàn)】

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本文編號(hào)：1556083