高效內(nèi)建冗余分析技術的研究
本文關鍵詞:高效內(nèi)建冗余分析技術的研究 出處:《計算機應用研究》2014年07期 論文類型:期刊論文
更多相關文章: 內(nèi)建冗余分析 內(nèi)建自修復 布魯諾過濾器 地址比較 哈希函數(shù)
【摘要】:傳統(tǒng)BIRA結構存在多次地址比較的問題,嚴重影響了存儲器的修復速度與讀寫性能。為了解決這一問題,提出了基于布魯姆過濾器的BIRA技術。新型BIRA結構在傳統(tǒng)結構的基礎上增加了一個布魯姆過濾器,通過減少地址比較次數(shù)來達到提高存儲器修復速度和訪問速度的效果。實驗結果表明,在相同故障地址數(shù)目的前提下,該方法比傳統(tǒng)BIRA和地址分割BIRA的比較次數(shù)要低很多,驗證了新型BIRA結構的高效性。
[Abstract]:The traditional BIRA structure has the problem of multiple address comparison, which seriously affects the memory repair speed and read and write performance. In order to solve this problem. The BIRA technology based on Bloom filter is proposed. The new BIRA structure adds a Bloom filter to the traditional structure. The memory repair speed and access speed are improved by reducing the number of address comparisons. The experimental results show that under the same number of fault addresses the premise. Compared with the traditional BIRA and address partitioning BIRA, this method is much less than the traditional BIRA structure. The efficiency of the new BIRA structure is verified.
【作者單位】: 解放軍信息工程大學;
【分類號】:TP333
【正文快照】: 隨著集成電路工藝水平的飛速提高,SoC芯片中嵌入式存儲器所占的空間也在不斷增加,根據(jù)2005年國際半導體協(xié)會公布的半導體技術發(fā)展指南(international technology roadmap forsemiconductors,ITRS)所做出的預測,到2014年SoC中嵌入式存儲器所占比例將達到94%[1]。因此,SoC芯片的
【參考文獻】
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【共引文獻】
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,本文編號:1405801
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