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低功耗SRAM存儲單元關鍵技術研究及電路設計

發(fā)布時間:2018-01-08 22:28

  本文關鍵詞:低功耗SRAM存儲單元關鍵技術研究及電路設計 出處:《安徽大學》2013年碩士論文 論文類型:學位論文


  更多相關文章: 亞閾值 靜態(tài)存儲器 存儲單元 8管 噪聲容限


【摘要】:隨著MOS管制造工藝的進步以及SoC系統(tǒng)的廣泛運用,包括:高速移動網(wǎng)絡通信技術、GPS全球衛(wèi)星導航技術、無線傳感技術等,對SoC系統(tǒng)的低功耗訴求越來越高,因此,作為SoC系統(tǒng)中的功耗大戶,對于存儲芯片方面的功耗需求也越來越苛刻。在各種SoC系統(tǒng)所用的存儲芯片中,SRAM由于其獨特的優(yōu)勢,占據(jù)大約70%左右的比例。同時,根據(jù)相關預測,到2014年,SoC芯片全部面積的94%將由片上存儲器所占據(jù),SRAM電路作為芯片內嵌的存儲器,是芯片必不可少的功能部件之一,其功耗的大小會直接影響到整個SoC芯片在功耗方面的表現(xiàn)。 因此,能耗大戶靜態(tài)存儲器(SRAM)的低功耗設計受到廣泛關注。2005年麻省理工學院教授Anantha chandrakasan領導的亞閾值電路小組和德州儀器協(xié)會共同提出的一種新興的低功耗技術:亞閾值電路設計技術。該技術通過將系統(tǒng)電源電壓降低至器件亞閾值區(qū)域(VddVth)以獲得極低的系統(tǒng)總功耗。但是,隨著電源電壓的極大降低,環(huán)境參數(shù)以及工藝偏差對亞閾值電路性能的影響亦呈指數(shù)級變化,極易導致傳統(tǒng)結構存儲單元電路出現(xiàn)致命的功能性錯誤。同時,隨著電源電壓的極大降低,由于SRAM中存儲單元高密度集成的特點,位線上漏電流造成的靜態(tài)功耗也不容小覷。因此,為保證存儲單元電路能夠在亞閾值區(qū)正常工作,有必要從存儲單元電路設計理論、存儲單元電路結構等各方面進行研究,并在此基礎上重新進行存儲單元電路設計 首先,本輪文對近年的幾類比較有代表性的SRAM存儲單元結構進行了詳細的分析。在此基礎上,分析得到亞閾值存儲單元結構設計上的側重點,考慮到亞閾值工作電壓下讀穩(wěn)定性面臨的嚴峻考驗,本論文擬定采用讀寫分離的結構來構造存儲單元。其次,考慮到亞閾值工作電壓下反相器電壓傳輸特性嚴重惡化的情況,本論文針對傳統(tǒng)結構反相器、采用DT技術反相器以及采用PDT技術反相器的電壓傳輸特性曲線進行了仿真,仿真結果證明采用PDT技術的反相器無論是從開關閾值來看還是技術的可操作性方面來看都是構建存儲單元較為合理的選擇。最后,本文提出一種新型的8管SRAM存儲單元結構。針對亞閾值工作電壓下讀操作對數(shù)據(jù)存儲節(jié)點的影響,本文提出的SRAM存儲單元結構采用了讀寫分離結構與PDT技術相結合的方法構建,在吸收了近年來相關論文針對SRAM存儲單元設計思想的前提下,本文設計8管單元在盡可能減小面積損耗的前提下,保證了該結構有較好的噪聲容限。應該指出的是,由于本文設計的8管存儲單元采用了讀寫分離的結構,因此在晶體管尺寸比例的調整方面該單元無疑擁有更大的自由度,所以通過晶體管尺寸比例的調整本論文設計的8管存儲單元在靜態(tài)功耗和動態(tài)功耗上也可以獲得令人滿意的結果。關于尺寸比方面的考量及仿真本文中也有相應的說明。
[Abstract]:Along with the progress of MOS tube manufacturing process and the wide application of SoC system , including high - speed mobile network communication technology , GPS global satellite navigation technology , wireless sensing technology , etc . , the power consumption demand of SoC system is more and more demanding . The low power consumption design of static memory ( SRAM ) is widely concerned with the low power consumption of SRAM . In 2005 , the technology of sub - threshold circuit design is proposed by Anantha chandrakasan under the leadership of Anantha chandrakasan A new type of 8 - tube SRAM memory cell structure is proposed in this paper . In this paper , a new type of 8 - tube SRAM memory cell structure is proposed .

【學位授予單位】:安徽大學
【學位級別】:碩士
【學位授予年份】:2013
【分類號】:TP333

【參考文獻】

相關博士學位論文 前1條

1 顧明;嵌入式SRAM性能模型與優(yōu)化[D];東南大學;2006年

相關碩士學位論文 前5條

1 姚其爽;高速低功耗嵌入式SRAM研究與設計[D];西北工業(yè)大學;2007年

2 張金峰;亞65納米SRAM的穩(wěn)定性研究與設計[D];蘇州大學;2008年

3 徐雅男;90nm工藝高速低功耗SRAM的設計[D];復旦大學;2010年

4 仇名強;65nm高性能SRAM體系架構及電路實現(xiàn)[D];安徽大學;2012年

5 晏莎莎;低功耗高穩(wěn)定性八管SRAM單元電路設計[D];西安電子科技大學;2011年

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本文編號:1398952

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