本文關(guān)鍵詞：多時(shí)鐘域并行測(cè)試控制器的設(shè)計(jì)

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【摘要】：采用了IEEE1149中TAP控制器的概念與IEEE1500 wrapper的概念相結(jié)合,設(shè)計(jì)出一款基于IEEE1500測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)同時(shí)兼容IEEE1149測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試控制器,并設(shè)計(jì)了滿(mǎn)足不同時(shí)鐘域同時(shí)并行配置通用寄存器的功能,可以節(jié)省多個(gè)時(shí)鐘域串行配置寄存器的時(shí)間,提高了測(cè)試效率。結(jié)果中的verdi仿真圖表明文章所設(shè)計(jì)的測(cè)試結(jié)構(gòu)達(dá)到了預(yù)期。
【作者單位】： 北京大學(xué)軟件與微電子學(xué)院;
【分類(lèi)號(hào)】：TP332
【正文快照】： 0引言隨著集成電路產(chǎn)業(yè)的發(fā)展,設(shè)計(jì)、制造、測(cè)試已成為電路中十分關(guān)鍵的技術(shù)。測(cè)試成本伴隨著集成電路規(guī)模的增大,已經(jīng)占到整個(gè)生產(chǎn)制造成本的三成以上,并且還有向上增長(zhǎng)的趨勢(shì)[1]。如圖1[2]顯示了近幾年測(cè)試數(shù)據(jù)量的增加。從上圖可以看出,測(cè)試數(shù)據(jù)量正在逐年增加,對(duì)測(cè)試的要

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1 談恩民;馬江波;秦昌明;;SoC的存儲(chǔ)器Wrapper設(shè)計(jì)及故障測(cè)試[J];微電子學(xué)與計(jì)算機(jī);2011年06期

2 ;[J];;年期

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本文編號(hào)：1214170