基于PCM的寫操作優(yōu)化策略研究與設(shè)計(jì)
本文關(guān)鍵詞:基于PCM的寫操作優(yōu)化策略研究與設(shè)計(jì)
更多相關(guān)文章: 相變存儲(chǔ)器 PCM DRAM 3Stage-Write 寫操作 性能 壽命
【摘要】:隨著大數(shù)據(jù)、云計(jì)算的興起,計(jì)算機(jī)需要越來越大的內(nèi)存來支持大規(guī)模計(jì)算的需求。但是現(xiàn)有普遍采用的DRAM技術(shù)在發(fā)展到現(xiàn)在的22nm的程度后已經(jīng)遇到了瓶頸。DRAM的存儲(chǔ)密度難以再得到大的提升。單位體積下的DRAM容量的提升程度和大規(guī)模計(jì)算對(duì)內(nèi)存需求的增長程度之間存在的矛盾越來越突出。同時(shí),大量DRAM的使用使得其能耗問題變得更為突出。據(jù)統(tǒng)計(jì),DRAM的功耗可以占到整個(gè)服務(wù)器能耗的40%左右,其中DRAM為了保持?jǐn)?shù)據(jù)進(jìn)行刷新的靜態(tài)功耗可以占到DRAM功耗的40%以上。相變存儲(chǔ)器在讀寫速度、能耗及使用壽命上都優(yōu)于NAND Flash和機(jī)械硬盤。相變存儲(chǔ)器的讀寫速度已經(jīng)達(dá)到納秒級(jí),與傳統(tǒng)的DRAM內(nèi)存速度相當(dāng),而且比DRAM內(nèi)存的空閑功耗更低、存儲(chǔ)密度更高、抗輻射干擾。尤其是,相變存儲(chǔ)器在斷電情況下依舊能長期保存數(shù)據(jù),能夠帶來更快的系統(tǒng)啟動(dòng)時(shí)間。因此,具有較強(qiáng)可塑性的相變存儲(chǔ)器在未來10年內(nèi)很有可能成為替代DRAM的主存儲(chǔ)器。但PCM在擁有這些優(yōu)點(diǎn)的同時(shí)也存在著不可避免的缺點(diǎn)。PCM的每個(gè)單元的寫壽命只能達(dá)到108-1010這個(gè)級(jí)別,與DRAM可以進(jìn)行1015次的寫壽命相距較大。其次PCM的讀寫速度不同,讀操作速度和DRAM相當(dāng),但寫操作速度明顯慢于DRAM。再者,PCM雖然靜態(tài)功耗可以忽略,但寫操作的功耗是要大于DRAM的;赑CM優(yōu)點(diǎn)與缺點(diǎn)的并存,怎樣在盡可能的發(fā)揮其優(yōu)點(diǎn)的情況下規(guī)避自身缺點(diǎn)成為PCM研究的主要內(nèi)容之一。本文針對(duì)PCM壽命,PCM的性能發(fā)面記性了優(yōu)化,綜合Flip-N-Write策略以及2Stage-Write策略的優(yōu)點(diǎn),提出了3 Stage-Write策略。3 Stage-Write策略3 Stage-Write策略在寫入操作進(jìn)行之前會(huì)先進(jìn)行一個(gè)比較,比較操作單元內(nèi)原先的數(shù)據(jù)和需要寫入的數(shù)據(jù)之間的差距,亦即海明距離。然后根據(jù)海明距離的大小決定寫入數(shù)據(jù)是否翻轉(zhuǎn),從而使得需要翻轉(zhuǎn)的數(shù)據(jù)位數(shù)較少。比較操作之后是兩階段的寫操作過程。所有的new 0-bit將在寫0階段進(jìn)行,隨后new 1-bit在寫1階段完成。實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)表明3 Stage-Write策略可以在更少的數(shù)據(jù)位翻轉(zhuǎn)的情況下實(shí)現(xiàn)相同的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)工作,同2Stage-inv策略相比可以減少43.5%。同時(shí)3 Stage-Write策略的時(shí)間更短,相較于2Stage-inv策略可以減少16.6%。最后,寫操作耗費(fèi)能量方面可以減少34.6%。
【關(guān)鍵詞】:相變存儲(chǔ)器 PCM DRAM 3Stage-Write 寫操作 性能 壽命
【學(xué)位授予單位】:山東大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2015
【分類號(hào)】:TP333
【目錄】:
- 摘要8-10
- ABSTRACT10-12
- 第1章 緒論12-18
- 1.1 背景介紹12-13
- 1.2 研究現(xiàn)狀13-16
- 1.2.1 相變存儲(chǔ)器產(chǎn)品13-14
- 1.2.2 基于PCM的非易失性主存研究14-16
- 1.3 研究意義16-17
- 1.4 論文組織結(jié)構(gòu)17-18
- 第2章 相關(guān)介紹18-23
- 2.1 相變存儲(chǔ)器的工作原理18-19
- 2.2 基于PCM的主存架構(gòu)19-21
- 2.2.1 混合式主存中代碼/數(shù)據(jù)靜態(tài)分布20
- 2.2.2 混合式主存中動(dòng)態(tài)內(nèi)存管理與優(yōu)化20-21
- 2.2.3 混合式主存控制器關(guān)鍵技術(shù)21
- 2.3 小結(jié)21-23
- 第3章 3Stage-Write策略23-36
- 3.1 PCM性能優(yōu)化策略介紹23-27
- 3.1.1 基于PCM自身特性的優(yōu)化23-24
- 3.1.2 通過寫操作的特性24-25
- 3.1.3 通過對(duì)寫入數(shù)據(jù)的重新編碼25-26
- 3.1.4 通過糾錯(cuò)機(jī)制26-27
- 3.2 3Stage-Write策略主要思想27-29
- 3.3 算法介紹29-30
- 3.4 實(shí)例分析30-31
- 3.5 字長對(duì)翻轉(zhuǎn)位數(shù)的影響31-32
- 3.6 性能分析及對(duì)比32-33
- 3.7 硬件實(shí)現(xiàn)33-35
- 3.8 小結(jié)35-36
- 第4章 實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)36-42
- 4.1 實(shí)驗(yàn)設(shè)置36-37
- 4.2 翻轉(zhuǎn)位數(shù)對(duì)比37-39
- 4.3 寫操作時(shí)間對(duì)比39-40
- 4.4 能量消耗對(duì)比40-41
- 4.5 小結(jié)41-42
- 第5章 總結(jié)與展望42-44
- 5.1 總結(jié)42-43
- 5.2 課題展望43-44
- 參考文獻(xiàn)44-49
- 致謝49-50
- 攻讀學(xué)位期間發(fā)表的主要學(xué)術(shù)論文50-51
- 附件51
【相似文獻(xiàn)】
中國期刊全文數(shù)據(jù)庫 前10條
1 BRIAN DIPERT;;清除不合格的存儲(chǔ)器[J];電子設(shè)計(jì)技術(shù);2002年03期
2 ;存儲(chǔ)器市場(chǎng)發(fā)展趨勢(shì)[J];世界電子元器件;2003年11期
3 張健;CellularRAM存儲(chǔ)器:2.5G/3G終端的理想方案[J];電子設(shè)計(jì)應(yīng)用;2003年10期
4 ;韓國開發(fā)出新一代超高速存儲(chǔ)器芯片[J];世界科技研究與發(fā)展;2004年02期
5 ;韓國開發(fā)出新一代超高速存儲(chǔ)器芯片[J];稀有金屬;2004年03期
6 ;我國首款自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)相變存儲(chǔ)器芯片研制成功[J];發(fā)明與創(chuàng)新(綜合科技);2011年06期
7 竇振中;未來存儲(chǔ)器技術(shù)[J];電子產(chǎn)品世界;2000年02期
8 鄒益民;存儲(chǔ)器的兼容性設(shè)計(jì)[J];電子工藝技術(shù);2001年03期
9 鄒益民;存儲(chǔ)器的兼容性設(shè)計(jì)[J];國外電子元器件;2001年04期
10 潘立陽;朱鈞;段志剛;伍冬;;快閃存儲(chǔ)器技術(shù)研究與進(jìn)展[J];中國集成電路;2002年11期
中國重要會(huì)議論文全文數(shù)據(jù)庫 前5條
1 衛(wèi)寧;王劍峰;杜婕;周聰莉;郭旗;文林;;抗輻射加固封裝國產(chǎn)存儲(chǔ)器電子輻照試驗(yàn)研究[A];第十屆全國抗輻射電子學(xué)與電磁脈沖學(xué)術(shù)年會(huì)論文集[C];2009年
2 胡勇;吳丹;沈森祖;石堅(jiān);;基于V93000測(cè)試系統(tǒng)的存儲(chǔ)器測(cè)試方法研究和實(shí)現(xiàn)[A];第五屆中國測(cè)試學(xué)術(shù)會(huì)議論文集[C];2008年
3 陳飛;羅運(yùn)虎;周勇軍;李金猛;周濤;闞艷;;應(yīng)用于飛機(jī)電路板修理的專用存儲(chǔ)器讀寫裝置的研制[A];面向航空試驗(yàn)測(cè)試技術(shù)——2013年航空試驗(yàn)測(cè)試技術(shù)峰會(huì)暨學(xué)術(shù)交流會(huì)論文集[C];2013年
4 吾勤之;許導(dǎo)進(jìn);王晨;劉剛;蔡小五;韓鄭生;;SRAM存儲(chǔ)器單粒子效應(yīng)試驗(yàn)研究[A];第十屆全國抗輻射電子學(xué)與電磁脈沖學(xué)術(shù)年會(huì)論文集[C];2009年
5 唐民;;超深亞微米SRAM和Flash存儲(chǔ)器的輻射效應(yīng)[A];第十屆全國抗輻射電子學(xué)與電磁脈沖學(xué)術(shù)年會(huì)論文集[C];2009年
中國重要報(bào)紙全文數(shù)據(jù)庫 前10條
1 周東;朱一明:我拿輟學(xué)賭明天[N];中國高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)導(dǎo)報(bào);2006年
2 姜洋;恒憶進(jìn)軍存儲(chǔ)器市場(chǎng)[N];中國計(jì)算機(jī)報(bào);2008年
3 本報(bào)記者 郭濤;閃存之后,相變存儲(chǔ)器再受關(guān)注[N];中國計(jì)算機(jī)報(bào);2011年
4 南京 沈永明;彩電存儲(chǔ)器讀寫器的制作和使用[N];電子報(bào);2005年
5 莫大康;應(yīng)用推動(dòng) 存儲(chǔ)器重回上升軌道[N];中國電子報(bào);2007年
6 記者 王春;上!跋嘧兇鎯(chǔ)器”研究與國際前沿基本同步[N];科技日?qǐng)?bào);2011年
7 記者王俊鳴;64位存儲(chǔ)器在美問世[N];科技日?qǐng)?bào);2002年
8 蔡綺芝 DigiTimes;IBM Racetrack Memory將取代閃存[N];電子資訊時(shí)報(bào);2007年
9 IDG電訊;“!睔鉀_天[N];計(jì)算機(jī)世界;2000年
10 記者 張錦芳;韓國高速芯片每秒可傳1萬本厚書[N];新華每日電訊;2004年
中國博士學(xué)位論文全文數(shù)據(jù)庫 前4條
1 吳丹;高效能計(jì)算型存儲(chǔ)器體系結(jié)構(gòu)關(guān)鍵技術(shù)研究與實(shí)現(xiàn)[D];華中科技大學(xué);2012年
2 范雪;一種新型反熔絲存儲(chǔ)器的研制及其抗輻射加固方法研究[D];電子科技大學(xué);2011年
3 劉璐;高k柵堆棧電荷陷阱型MONOS存儲(chǔ)器的研究[D];華中科技大學(xué);2013年
4 周嬌;相變存儲(chǔ)器按比例縮小研究[D];華中科技大學(xué);2014年
中國碩士學(xué)位論文全文數(shù)據(jù)庫 前10條
1 李延彬;基于PCM的寫操作優(yōu)化策略研究與設(shè)計(jì)[D];山東大學(xué);2015年
2 趙志剛;基于相變存儲(chǔ)器電流約束下片內(nèi)并行寫入操作研究[D];山東大學(xué);2015年
3 趙志強(qiáng);基于OpenRISC 1200的SoC系統(tǒng)搭建及LDPC整合驗(yàn)證[D];電子科技大學(xué);2015年
4 段志剛;嵌入式低壓低功耗新型快閃存儲(chǔ)器電路研究[D];清華大學(xué);2004年
5 李家強(qiáng);基于正交拉丁碼的存儲(chǔ)器抗多位翻轉(zhuǎn)設(shè)計(jì)[D];哈爾濱工業(yè)大學(xué);2014年
6 沈菊;相變存儲(chǔ)器芯片電路設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)[D];中國科學(xué)院研究生院(上海微系統(tǒng)與信息技術(shù)研究所);2008年
7 張佶;高密度阻變存儲(chǔ)器的設(shè)計(jì)[D];復(fù)旦大學(xué);2010年
8 張顯敞;存儲(chǔ)器測(cè)試算法研究及應(yīng)用實(shí)現(xiàn)[D];電子科技大學(xué);2013年
9 馬文龍;阻變存儲(chǔ)器外圍電路設(shè)計(jì)[D];湖南大學(xué);2014年
10 宋子凱;大規(guī)模存儲(chǔ)器的高速并行測(cè)試解決方案[D];上海交通大學(xué);2007年
,本文編號(hào):1031388
本文鏈接:http://sikaile.net/kejilunwen/jisuanjikexuelunwen/1031388.html