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CdO基陶瓷的高溫?zé)犭娦阅苎芯?/H1>
發(fā)布時(shí)間:2017-07-07 22:04

  本文關(guān)鍵詞:CdO基陶瓷的高溫?zé)犭娦阅苎芯?/strong>


  更多相關(guān)文章: 熱電 CdO 摻雜電 熱輸運(yùn) 熱電性能


【摘要】:熱電材料可以實(shí)現(xiàn)熱能和電能之間的直接轉(zhuǎn)換,在廢熱發(fā)電和無氟利昂制冷等領(lǐng)域具有良好的應(yīng)用前景。氧化物熱電材料在空氣中具有較高的化學(xué)和熱穩(wěn)定性且成本低廉,在熱電領(lǐng)域受到了越來越多的關(guān)注。CdO是一種常見的n型透明導(dǎo)電氧化物(TCO),近期的研究發(fā)現(xiàn)它同時(shí)表現(xiàn)出較好的高溫?zé)犭娦阅?有可能用于高溫區(qū)廢熱發(fā)電。本論文利用傳統(tǒng)固相燒結(jié)法制備了Cd O多晶塊體并研究了元素?fù)诫s對其高溫?zé)犭娦阅艿挠绊?主要內(nèi)容和結(jié)論如下:1)利用傳統(tǒng)固相燒結(jié)法制備了Al摻雜的CdO多晶塊體樣品,通過摻入不同濃度的高價(jià)離子Al~(3+),調(diào)控其載流子濃度n并研究Al~(3+)摻雜對CdO電、熱輸運(yùn)性能的影響。實(shí)驗(yàn)發(fā)現(xiàn),Al~(3+)摻雜雖然能改善樣品的功率因子S~2σ,但因電子熱導(dǎo)率κe的顯著增大使總熱導(dǎo)率κ有較大提高,不利于CdO整體熱電性能的提升。2)利用傳統(tǒng)固相燒結(jié)法制備了Sr摻雜的CdO多晶塊體樣品,研究等價(jià)離子Sr~(2+)摻雜對其電、熱輸運(yùn)性能的影響。一方面,因CdO和SrO電子親和勢的差別,Sr~(2+)摻入使CdO的載流子濃度n降低,導(dǎo)致其電阻率ρ和塞貝克系數(shù)S同時(shí)增大,功率因子s~2σ有所降低;另一方面,Sr~(2+)摻入使CdO的電子熱導(dǎo)率κe和聲子熱導(dǎo)率κph同時(shí)減小,總熱導(dǎo)率κ大幅度降低,從而顯著提升了其熱電性能。1000K時(shí),最佳摻雜量樣品Cd0.97Sr0.03O的ZT值達(dá)到了0.40,比本征CdO樣品提高了約25%,可與目前報(bào)道的最好的n型氧化物熱電材料相比擬。3)研究了硫酸鹽CuSO_4·5H_2O摻雜對其熱電性能的影響。實(shí)驗(yàn)發(fā)現(xiàn),CuSO_4·5H_2O高溫分解后的產(chǎn)物(CuO和SO_3)使樣品的功率因子s~2σ和熱導(dǎo)率κ同時(shí)得到優(yōu)化,從而獲得了較高的熱電優(yōu)值。其中,最佳摻雜量樣品Cd0.995Cu0.005O在1000K時(shí)的ZT值達(dá)到最大,約為0.41。
【關(guān)鍵詞】:熱電 CdO 摻雜電 熱輸運(yùn) 熱電性能
【學(xué)位授予單位】:河北大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2016
【分類號(hào)】:TQ174.1;TB34
【目錄】:
  • 摘要5-6
  • Abstract6-10
  • 第1章 緒論10-19
  • 1.1 熱電材料簡介10-12
  • 1.1.1 研究歷史10-11
  • 1.1.2 熱電材料研究進(jìn)展11-12
  • 1.2 熱電基礎(chǔ)理論及其主要應(yīng)用12-17
  • 1.2.1 Seebeck效應(yīng)12-13
  • 1.2.2 Peltier效應(yīng)13
  • 1.2.3 Thomson效應(yīng)13-14
  • 1.2.4 Kelvin關(guān)系14
  • 1.2.5 熱電材料性能的評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn)14-15
  • 1.2.6 提高熱電性能的途徑15-16
  • 1.2.7 熱電材料的實(shí)際應(yīng)用16-17
  • 1.3 氧化物熱電材料的研究進(jìn)展17-18
  • 1.4 課題研究的主要內(nèi)容及意義18-19
  • 第2章 樣品制備與性能測試19-24
  • 2.1 實(shí)驗(yàn)原料及設(shè)備儀器19
  • 2.1.1 主要化學(xué)試劑19
  • 2.1.2 主要設(shè)備儀器19
  • 2.2 樣品制備方法19-20
  • 2.3 樣品表征方法20-24
  • 2.3.1 晶體結(jié)構(gòu)分析(X射線衍射)20-21
  • 2.3.2 表面形貌分析(掃描電子顯微鏡)21
  • 2.3.3 霍爾測試21-22
  • 2.3.4 電阻率和Seebeck系數(shù)測試22-23
  • 2.3.5 熱導(dǎo)率測試23-24
  • 第3章 CdO電學(xué)性能的調(diào)控24-34
  • 3.1 引言24
  • 3.2 樣品制備24-25
  • 3.3 樣品的XRD、SEM分析和霍爾測量25-28
  • 3.3.1 XRD晶體結(jié)構(gòu)分析25-26
  • 3.3.2 SEM微觀形貌分析26-27
  • 3.3.3 樣品的霍爾測試27-28
  • 3.4 樣品的熱電性能28-33
  • 3.4.1 電阻率和Seebeck系數(shù)28-30
  • 3.4.2 熱導(dǎo)率30-32
  • 3.4.3 熱電優(yōu)值ZT32-33
  • 3.5 本章小結(jié)33-34
  • 第4章 CdO熱學(xué)性能的調(diào)控34-43
  • 4.1 引言34
  • 4.2 樣品制備34
  • 4.3 樣品的XRD、SEM分析和霍爾測量34-37
  • 4.3.1 XRD晶體結(jié)構(gòu)分析34-35
  • 4.3.2 SEM微觀形貌分析35-36
  • 4.3.3 樣品的霍爾測試36-37
  • 4.4 樣品的熱電性能37-42
  • 4.4.1 電阻率和Seebeck系數(shù)37-39
  • 4.4.2 熱導(dǎo)率39-41
  • 4.4.3 熱電優(yōu)值ZT41-42
  • 4.5 本章小結(jié)42-43
  • 第5章 協(xié)同調(diào)控CdO的電學(xué)和熱學(xué)性能43-52
  • 5.1 引言43
  • 5.2 樣品制備43-44
  • 5.3 樣品的XRD、SEM分析和霍爾測量44-46
  • 5.3.1 XRD晶體結(jié)構(gòu)分析44
  • 5.3.2 SEM微觀形貌分析44-45
  • 5.3.3 樣品的霍爾測試45-46
  • 5.4 樣品的熱電性能46-52
  • 5.4.1 電阻率和Seebeck系數(shù)46-48
  • 5.4.2 熱導(dǎo)率48-50
  • 5.4.3 熱電優(yōu)值ZT50-52
  • 結(jié)束語52-53
  • 參考文獻(xiàn)53-60
  • 致謝60-61
  • 攻讀碩士研究生期間發(fā)表的學(xué)術(shù)論文61

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7 李奕l,

本文編號(hào):531946



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