發(fā)布時間：2017-07-31 04:19

  本文關(guān)鍵詞：燒結(jié)溫度影響Zn-Bi系壓敏陶瓷性能研究

  更多相關(guān)文章： 燒結(jié)溫度 ZnO壓敏電阻 微觀結(jié)構(gòu) 電學(xué)性能 損耗性能

【摘要】：以95.5ZnO-0.5V_2O_5-2.0Bi_2O_3-0.5Mn_3O_4-0.5Y_2O_3-0.5Cr_2O_3-0.5Co_2O_3為配方制備壓敏電阻,研究了燒結(jié)溫度對該體系微觀結(jié)構(gòu)及電學(xué)性能的影響。研究表明,隨著燒結(jié)溫度升高,ZnO壓敏電阻的擊穿場強(qiáng)E1mA逐漸減小,非線性系數(shù)α、損耗角正切值tanδ以及相對介電常數(shù)εr均先增大再減小。當(dāng)燒結(jié)溫度為910℃時,壓敏電阻的微觀結(jié)構(gòu)均勻,晶界清晰,有大量八面體的尖晶石相生成,且分布均勻。該燒結(jié)溫度下所制備的壓敏電阻的非線性系數(shù)α達(dá)到最大值27,擊穿場強(qiáng)E1mA為3 456.5V/cm,工作頻率105 Hz條件下該電阻的損耗角正切值tanδ為0.29。
【作者單位】： 陜西科技大學(xué)理學(xué)院;陜西科技大學(xué)電氣與信息工程學(xué)院;
【關(guān)鍵詞】： 燒結(jié)溫度 ZnO壓敏電阻 微觀結(jié)構(gòu) 電學(xué)性能 損耗性能
【基金】：國家自然科學(xué)基金資助項(xiàng)目(51272145) 陜西省自然科學(xué)基金資助項(xiàng)目(2011JM1014)
【分類號】：TQ174.1
【正文快照】： 0引言在電力電子技術(shù)飛速發(fā)展的今天,各種電力系統(tǒng)和電子產(chǎn)品,如智能手機(jī)、超薄電視以及軍事領(lǐng)域中的偵察機(jī)、軍事雷達(dá)等,都只能在額定的電壓電流條件下運(yùn)行。如果電路突然被干擾,如出現(xiàn)很大的電壓脈沖或電流脈沖等浪涌現(xiàn)象,這些電路中的電力電子器件就會被損壞。值得注意的是

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本文編號：597457