柔性石墨烯導(dǎo)電導(dǎo)熱紙及石墨化碳包裹銅納米電纜的研究
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【摘要】:微電子器件的導(dǎo)電和散熱問(wèn)題,是其不斷縮小尺寸、增加功率密度的主要挑戰(zhàn)。作為一種二維材料,石墨烯具有遠(yuǎn)遠(yuǎn)超越石墨的電學(xué)、熱學(xué)、力學(xué)性質(zhì),在導(dǎo)電導(dǎo)熱方面有很好的應(yīng)用前景。本文采用氧化還原法大量制備了少層,甚至單層的氧化石墨烯和石墨烯;通過(guò)真空抽濾的方法,使氧化石墨烯懸濁液定向流動(dòng)重組,制備自支撐的柔性氧化石墨烯紙,再高溫?zé)徇原成石墨烯紙。這種石墨烯紙具有非常高的電導(dǎo)率和低的熱導(dǎo)率。石墨烯紙的面內(nèi)薄膜電阻低達(dá)1.008?/□,電阻率低達(dá)3.699 m?·cm,電導(dǎo)率高達(dá)27034 S/m,比其他研究者采用熱還原法制備的石墨烯紙高38%,石墨烯-碳纖維紙高3.87倍;另外,隨著厚度的增加,石墨烯紙的方阻減小,電阻率增大,電導(dǎo)率減小。這種石墨烯紙?jiān)趯?dǎo)電導(dǎo)熱薄膜上有很廣泛的應(yīng)用前景。銅納米線,在納米電子器件的互連和柔性透明導(dǎo)電膜等中有著獨(dú)特的應(yīng)用,在過(guò)去的十年中被廣泛研究。但其納米尺度下的電子非彈性散射和氧化問(wèn)題變得非常嚴(yán)重,增加了銅納米線的電阻率,制約了其應(yīng)用范圍。因此,降低銅納米線的電阻率非常重要。本文采用水熱法制備了無(wú)定形碳均勻包裹銅納米線的納米電纜Cu@C NCs,再經(jīng)過(guò)熱處理,使無(wú)定型碳層晶化,制備石墨化碳包裹銅納米電纜Cu@G NCs。SEM和TEM結(jié)果顯示,芯部的銅納米線生長(zhǎng)方向?yàn)閇110],包裹著一層均勻厚度的碳層。導(dǎo)電性測(cè)試結(jié)果顯示,包裹不導(dǎo)電的無(wú)定形碳后,Cu@G NCs絕緣;而無(wú)定形碳石墨化后,Cu@G NCs成為導(dǎo)體;單根Cu@G NC的室溫電阻率為~1.61×10-5Ω·cm,略低于單根銅納米線,且在室溫長(zhǎng)時(shí)間放置,電阻率無(wú)明顯升高,證明石墨的包裹確實(shí)提高了銅納米線的空氣穩(wěn)定性,降低了電阻率。由石墨化碳包裹高導(dǎo)電性金屬芯的納米電纜在納米器件的零部件以及互連上有著廣闊的應(yīng)用前景,本技術(shù)也為其他金屬納米線空氣穩(wěn)定性和電學(xué)性能的提高提供了有效的方法。
【關(guān)鍵詞】:石墨烯 石墨烯紙 石墨化碳包裹銅納米電纜 電導(dǎo)率 熱導(dǎo)率
【學(xué)位授予單位】:北京工業(yè)大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2016
【分類號(hào)】:TQ127.11;TM24
【目錄】:
- 摘要4-5
- Abstract5-9
- 第1章 緒論9-21
- 1.1 前言9-10
- 1.1.1 柔性石墨烯導(dǎo)電導(dǎo)熱紙的研究背景9
- 1.1.2 石墨化碳包裹銅納米電纜的研究背景9-10
- 1.2 柔性石墨烯導(dǎo)電導(dǎo)熱紙的研究現(xiàn)狀10-16
- 1.2.1 熱管理材料的研究現(xiàn)狀10-13
- 1.2.2 石墨烯紙的研究現(xiàn)狀13-16
- 1.3 石墨化碳包裹銅納米線的研究現(xiàn)狀16-18
- 1.4 研究?jī)?nèi)容和意義18-21
- 1.4.1 柔性石墨烯導(dǎo)電導(dǎo)熱紙的研究?jī)?nèi)容和意義18-19
- 1.4.2 石墨化碳包裹銅納米線的納米電纜的研究?jī)?nèi)容和意義19-21
- 第2章 實(shí)驗(yàn)方法和實(shí)驗(yàn)原理21-33
- 2.1 實(shí)驗(yàn)材料21-23
- 2.1.1 氧化石墨烯、石墨烯使用的試劑及儀器21
- 2.1.2 石墨烯紙使用試劑及儀器21-22
- 2.1.3 制備石墨碳包裹銅納米線的納米電纜結(jié)構(gòu)所需材料22-23
- 2.2 實(shí)驗(yàn)方案23-26
- 2.2.1 氧化石墨烯、石墨烯的制備及表征23-24
- 2.2.2 石墨烯紙的制備及表征24
- 2.2.3 石墨烯包裹銅納米線的納米電纜結(jié)構(gòu)的制備及表征24
- 2.2.4 結(jié)構(gòu)與性能測(cè)試24-26
- 2.3 實(shí)驗(yàn)設(shè)備及其原理26-33
- 2.3.1 X射線衍射儀 (X-Ray Diffraction, XRD)26
- 2.3.2 掃描電子顯微鏡 (Scanning Electron Microscope, SEM)26-27
- 2.3.3 透射電子顯微鏡 (Transmission Electron Microscope, TEM)27
- 2.3.4 掃描隧道顯微鏡-透射電子顯微鏡探針系統(tǒng)(STM TEM NanofactoryInstruments)27-28
- 2.3.5 霍爾測(cè)試儀 (HL5500PC)28-31
- 2.3.6 差示掃描量熱儀 (Differential Scanning Calorimetry, DSC)31
- 2.3.7 激光閃光儀 (Vibrating Sample Magnetometer, VSM)31-33
- 第3章 氧化石墨烯、石墨烯的研究33-41
- 3.1 引言33
- 3.2 氧化石墨烯、石墨烯的制備33-34
- 3.3 氧化石墨烯、石墨烯的表征34-40
- 3.3.1 氧化石墨烯、石墨烯的物相分析34-35
- 3.3.2 氧化石墨烯和石墨烯的缺陷分析35-37
- 3.3.3 氧化石墨烯溶液的Zeta電位分析37-38
- 3.3.4 石墨烯的形貌、結(jié)構(gòu)分析38-39
- 3.3.5 石墨烯的厚度分析39-40
- 3.4 本章小結(jié)40-41
- 第4章 柔性石墨烯導(dǎo)電導(dǎo)熱紙的研究41-49
- 4.1 引言41
- 4.2 柔性石墨烯導(dǎo)電導(dǎo)熱紙的制備41-42
- 4.3 氧化石墨烯紙的表征42-44
- 4.3.1 氧化石墨烯紙的物相分析42
- 4.3.2 氧化石墨烯紙、石墨烯紙的表面、橫截面形貌結(jié)構(gòu)分析42-44
- 4.3.3 石墨烯紙的Raman光譜分析44
- 4.4 石墨烯紙的導(dǎo)電性分析44-46
- 4.5 石墨烯紙的導(dǎo)熱性分析46-47
- 4.6 本章小結(jié)47-49
- 第5章 碳包銅納米電纜結(jié)構(gòu)及其導(dǎo)電性能的研究49-57
- 5.1 引言49
- 5.2 碳包銅納米電纜的制備49-50
- 5.3 Cu@C NC和Cu@G NC納米電纜的結(jié)構(gòu)分析50-53
- 5.3.1 Cu@C NC和Cu@G NC的物相、形貌、結(jié)構(gòu)分析50
- 5.3.2 Cu@C NC和Cu@G NC的形貌分析50-51
- 5.3.3 Cu@C NC和Cu@G NC的形貌、結(jié)構(gòu)分析51-53
- 5.4 Cu@C NC和Cu@G NC的導(dǎo)電性能53-55
- 5.5 本章小結(jié)55-57
- 結(jié)論57-59
- 參考文獻(xiàn)59-67
- 攻讀碩士學(xué)位期間發(fā)表的學(xué)術(shù)論文67-69
- 致謝69
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,本文編號(hào):1026326
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