基于機器學(xué)習(xí)的海面弱目標(biāo)探測技術(shù)研究
【圖文】:
圖 4-1 懲罰因子影響超平面形成示意圖在海洋弱目標(biāo)探測中,,檢測概率都是在一定的虛警概率下得到的,為了適應(yīng)海上目標(biāo)探測這一領(lǐng)域的需求,本文通過設(shè)計算法調(diào)節(jié)懲罰因子,從而控制超平面的位置,進而得到在確定虛警概率下的檢測概率。對于式(4-3)的約束優(yōu)化問題通過拉格朗日變換將上述優(yōu)化問題轉(zhuǎn)換為對偶問題 1 , 10111max ,2s.t. C1: 0 , 0, 1, ,C2 : 0 , 0 , 1, ,C3 : 0n ni i j i j i ji i ji ii ini iiy y k x xy i Ny i Ny (4 4)式中 代表的是拉格朗日乘子,只有支持向量的乘子為非零,k( )代表的是核函數(shù)。而對于此問題的求解,在 1998 年 J.Platt 針對上述問題提出序列最小優(yōu)化(SMO)算
【學(xué)位授予單位】:華中科技大學(xué)
【學(xué)位級別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2018
【分類號】:TP181;P714
【參考文獻】
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本文編號:2618005
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