高溫合金閉式葉輪為多層、薄壁、曲面流道的內(nèi)腔與較大直徑軸頸相連的整體復(fù)雜結(jié)構(gòu),使用透照電壓不高于450kV的傳統(tǒng)X射線照相方法對(duì)其進(jìn)行檢測(cè)時(shí),存在X射線無(wú)法穿透葉輪厚大區(qū)域以及無(wú)法實(shí)現(xiàn)缺陷定位的問(wèn)題,為此采用高能X射線工業(yè)計(jì)算機(jī)斷層掃描（CT）方法對(duì)其進(jìn)行檢測(cè)。為了驗(yàn)證CT檢測(cè)方法的缺陷檢出能力,在高溫合金閉式葉輪上加工已知尺寸的人工孔并進(jìn)行檢測(cè),證明可檢出φ0.5mm的孔。最后,對(duì)閉式葉輪的實(shí)際缺陷進(jìn)行檢測(cè),可實(shí)現(xiàn)其內(nèi)部氣孔、縮孔等缺陷的檢測(cè)和定位。 

【文章來(lái)源】：無(wú)損檢測(cè). 2020,42(04)

【文章頁(yè)數(shù)】：4 頁(yè)

【部分圖文】：

葉輪結(jié)構(gòu)示意

薄區(qū)常規(guī)X射線檢測(cè)的透照方案

在結(jié)構(gòu)上，由于葉輪采用三重、曲面的疊加結(jié)構(gòu)，不僅變截面區(qū)域較多，且葉輪心部厚大，最大厚度超過(guò)80mm（見(jiàn)圖3），因此，采用常規(guī)的無(wú)損檢測(cè)手段無(wú)法實(shí)施有效檢測(cè)，對(duì)于X射線檢測(cè)，其葉輪心部的厚大區(qū)域采用電壓450kV及以下的X光機(jī)無(wú)法穿透，其內(nèi)部質(zhì)量無(wú)法檢測(cè)。1.3 解決方案

【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
[1]工業(yè)CT技術(shù)特點(diǎn)及應(yīng)用實(shí)例[J]. 孫靈霞,葉云長(zhǎng).  核電子學(xué)與探測(cè)技術(shù). 2006(04)
[2]高溫合金整體葉輪鑄造技術(shù)的研究進(jìn)展[J]. 湯鑫,曹臘梅,李愛(ài)蘭,蓋其東,劉發(fā)信.  航空材料學(xué)報(bào). 2005(03)
[3]工業(yè)CT技術(shù)[J]. 劉豐林,程森林,王玨.  現(xiàn)代制造工程. 2003(05)



本文編號(hào)：3580660