X射線熒光光譜(XRF)在巖石分析中的應(yīng)用是其在地質(zhì)材料領(lǐng)域分析應(yīng)用的基礎(chǔ)。文章以硼酸鹽熔融制樣、高精密度全自動(dòng)化現(xiàn)代XRF儀器及軟件和基體效應(yīng)數(shù)學(xué)校正等為主的現(xiàn)代XRF理論與技術(shù)方法的引入、消化、研發(fā)及應(yīng)用,多種標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)系列的形成與實(shí)際應(yīng)用研究工作,直接壓片法巖石多元素精確分析的研究與應(yīng)用和用能量色散X射線熒光光譜(EDXRF)進(jìn)行巖石主次組分準(zhǔn)確分析的探索等方面較全面地評(píng)介了XRF分析技術(shù)在我國(guó)巖石分析中應(yīng)用的歷史發(fā)展和已取得的重要成果。最后評(píng)介了這些成果的歷史和現(xiàn)實(shí)意義:XRF作為一種快速、準(zhǔn)確、高自動(dòng)化的現(xiàn)代儀器分析方法已基本"替代"了傳統(tǒng)的化學(xué)方法中主、次、痕量元素的分析,而成為當(dāng)今地質(zhì)材料多元素分析的主導(dǎo)方法。文章特別強(qiáng)調(diào)了在超細(xì)標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)研制與超細(xì)樣品制備方面的研究工作以及該項(xiàng)研究的意義和可能的深遠(yuǎn)影響,美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究院(NIST)在這方面的研究工作標(biāo)志著這將是地質(zhì)分析技術(shù)研究的一個(gè)新的研究方向。引文161篇。

【文章頁(yè)數(shù)】：11 頁(yè)

【文章目錄】：
1 現(xiàn)代XRF分析理論及技術(shù)方法的引入與消化
2 硼酸鹽熔融制樣方法的研究與應(yīng)用
3 高精密度全自動(dòng)化現(xiàn)代XRF儀器及軟件的引進(jìn)
4 基體效應(yīng)數(shù)學(xué)校正方法的研發(fā)應(yīng)用
5 多種標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)系列的形成是XRF技術(shù)發(fā)展應(yīng)用的質(zhì)量保證
6 應(yīng)用研究工作
7 直接壓片法進(jìn)行巖石多元素精確分析的研究與應(yīng)用進(jìn)展
8 用能量色散儀器進(jìn)行巖石主次組分準(zhǔn)確分析的探索
9 結(jié)語(yǔ)



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