為了克服基體效應和礦物效應對鈦礦石樣品中18種主、痕量組分測定的干擾,采用壓片機在1 500kN壓力下將樣品壓制成片,用X射線熒光光譜法(XRF)測定壓片中的10種痕量組分(磷、鎵、鉻、釩、硫、銣、鍶、錳、鋅和鋯);按質(zhì)量比20∶1將混合熔劑(四硼酸鋰和偏硼酸鋰的質(zhì)量比為2∶1)和樣品混合,在1 050℃條件下熔融制樣,用XRF測定熔融片中的8種主量組分(三氧化二鐵、二氧化鈦、二氧化硅、三氧化二鋁、氧化鈣、氧化鎂、氧化鉀和氧化鈉)。采用6種標準物質(zhì)混合配制24個具有一定含量梯度的校準樣品,用于繪制校準曲線。以經(jīng)驗系數(shù)法校正譜線重疊效應,用理論α系數(shù)法、康普頓散射內(nèi)標法校正基體效應,用鈷內(nèi)標法校正鐵的基體吸收效應。結(jié)果表明:經(jīng)過綜合校正公式校正后,18種組分的校準曲線的線性相關(guān)系數(shù)均大于0.996 0。3個未知樣品的測定結(jié)果和文獻中報道的堿熔法的相一致。10種痕量組分的檢出限(3s)為1.2～21mg·kg^-1,8種主量組分的檢出限(3s)為0.015%～0.66%。方法用于分析標準物質(zhì)的10個平行樣,得到痕量組分測定值的相對標準偏差(RSD)為0.21%～11%;...

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【文章目錄】：
1試驗部分
    1.1儀器與試劑
    1.2儀器工作條件
    1.3試驗方法
2結(jié)果與討論
    2.1混合熔劑和樣品質(zhì)量比的選擇
    2.2基體效應和譜線重疊效應的校正
    2.3校準參數(shù)和檢出限
    2.4精密度試驗



本文編號：3826037