石英作為地殼中普遍存在的礦物,在多種地質(zhì)環(huán)境下都可生成,其中的微量元素含量包含有許多礦物的成因信息。例如石英中的Ti含量可用來計(jì)算其結(jié)晶時(shí)的溫度和壓力,熱液石英中Al含量的變化可反映流體PH值變化。結(jié)合石英的陰極發(fā)光圖像和石英中Al、Ti、K等微量元素分布,石英在巖漿演化、礦床成因等方面具有廣泛的應(yīng)用。因此,準(zhǔn)確獲得石英中微量元素的含量具有重要的地質(zhì)意義。對(duì)于微區(qū)原位微量元素的測(cè)定,使用的儀器有激光剝蝕-電感耦合等離子體質(zhì)譜儀和離子探針,兩者分析能力較強(qiáng),但在在分析過程中會(huì)對(duì)樣品造成破壞且空間分辨率較低。電子探針具有無(wú)損和高空間分辨率的優(yōu)點(diǎn),但是提高其分析微量元素的精確度和準(zhǔn)確度是一個(gè)難題。本文系統(tǒng)研究了影響石英中微量元素測(cè)試精確度和準(zhǔn)確度的因素。影響測(cè)試精確度的因素主要有,加速電壓、束流和計(jì)數(shù)時(shí)間。影響測(cè)試準(zhǔn)確度的因素主要包括:（1）石英在高束流條件下晶格極易被破環(huán),造成元素的遷移,導(dǎo)致特征X射線計(jì)數(shù)強(qiáng)度隨時(shí)間變化而發(fā)生變化,造成測(cè)試結(jié)果不準(zhǔn)確;（2）兩點(diǎn)插值法獲取背景值的方法對(duì)于背景曲線非直線的元素（如Al-Kα）,會(huì)造成巨大的誤差;（3）一些干擾因素,包括干擾峰（如Al-SKβ對(duì)... 

【文章來源】：中國(guó)地質(zhì)大學(xué)湖北省 211工程院校 教育部直屬院校

【文章頁(yè)數(shù)】：66 頁(yè)

【學(xué)位級(jí)別】：碩士

【部分圖文】：

石英結(jié)構(gòu)及微量元素進(jìn)入晶格模式（據(jù)陳劍鋒&張輝（2011）修改）

12崔繼強(qiáng)：電子探針測(cè)試石英中 Al 和 Ti 含量的研究（1）特征 X 射線與連續(xù) X 射線入射電子通過電場(chǎng)的加速，具有較高的初速度，在轟擊樣品的過程中，子會(huì)受到原子核庫(kù)倫場(chǎng)的作用而發(fā)生減速，在減速的過程中會(huì)有能量損失出 X 射線，這種輻射作用稱為韌致輻射（圖 2.2）。由于在原子核庫(kù)倫場(chǎng)作用射電子的速度變化是連續(xù)的，輻射出 X 射線的能量也是連續(xù)的，因此稱之 X 射線。在電子探針分析過程中，背景的產(chǎn)生與連續(xù) X 射線密切相關(guān)。

中國(guó)地質(zhì)大學(xué)碩士學(xué)位論文 13入射電子與樣品中原子核外弱束縛價(jià)電子發(fā)生非彈性散射而發(fā)射出的電子稱為二次電子。二次電子能量普遍較低，是能量小于 50eV 電子的統(tǒng)稱，主要有四類(焦匯勝&李香庭, 2011)：①由入射電子在樣品中激發(fā)的二次電子；②由樣品中背散射電子激發(fā)的二次電子；③由樣品的電子背散射在遠(yuǎn)離電子束入射點(diǎn)產(chǎn)生的二次電子；④由入射電子束中電子在電子光學(xué)鏡筒內(nèi)激發(fā)的二次電子。由于二次電子能量較低（一般小于 50eV），可穿透的樣品厚度十分有限，僅在距樣品表面 5~10nm 的深度內(nèi)才能逸出表面，可以利用二次電子信號(hào)去獲得高分辨率的樣品表面形貌圖像。

【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
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博士論文
[1]低含量、微量元素的電子探針分析方法研究與應(yīng)用[D]. 姚立.吉林大學(xué) 2008



本文編號(hào)：3580216