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高壓覆膜制樣-X射線熒光光譜法測定多金屬礦中的多種元素

發(fā)布時間:2021-12-24 22:50
  采用新的制樣技術——高壓(1 800kN)覆膜(3.6μm Polyester Film)制樣,波長色散X射線熒光光譜測定多金屬礦中19種組分。該制樣技術對高硅鋅礦石GBW07237(SiO2 82.95%),不加黏結劑,也能制出理想的樣片。測定結果顯示1 800kN制備樣品多數(shù)組分的靈敏度、精密度和檢出限較400kN制備的樣品有所改善。15個多金屬礦標準物質建立校準曲線,使用Rh Kα的瑞利散射線作內標測定Cu、Pb、Zn、As和Rh Kα的康普頓散射線作內標測定Sb、Ag、Sn、Bi、Mo及經(jīng)驗系數(shù)法校正基體效應。Cu、Pb、Zn、Mn、As、Sb、Ag、Sn、Bi、Mo的測定結果與化學法相符,可同時分析其中的Cd、S、Fe、SiO2、Al2O3、MgO、CaO、Na2O、K2O等成分。實現(xiàn)了固體直接進樣測定多金屬礦中的多種元素。高壓覆膜制樣技術是制樣技術的突破,國內外尚未見報道。 

【文章來源】:中國無機分析化學. 2020,10(02)

【文章頁數(shù)】:5 頁

【部分圖文】:

高壓覆膜制樣-X射線熒光光譜法測定多金屬礦中的多種元素


400kN、1 800kN壓力覆膜壓制的GBW07237樣片

【參考文獻】:
期刊論文
[1]X射線熒光光譜(XRF)法測定土壤污染樣品中9種重金屬元素[J]. 鄧述培,范鵬飛,唐玉霜,譚麗娟,王茁,黃利寧,徐洪柳.  中國無機分析化學. 2019(04)
[2]X射線熒光光譜法測定地質樣品中的硫和氟[J]. 阿麗莉,張盼盼,賀攀紅,楊珍,梁亞麗,楊有澤.  中國無機分析化學. 2019(02)
[3]粉末壓片制樣-波長色散X射線熒光光譜法測定斑巖型鉬銅礦中主次量元素鉬銅鉛鋅砷鎳硫[J]. 夏鵬超,李明禮,王祝,李代瓊,胡亞燕.  巖礦測試. 2012(03)
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[5]能量色散X射線熒光光譜儀現(xiàn)場快速測定多金屬礦中17種組分[J]. 龍昌玉,李小莉,張勤,李國會.  巖礦測試. 2010(03)
[6]X射線熒光光譜分析法測定多金屬礦中的鉛鋅銅[J]. 謝瓊心.  分析試驗室. 1997(05)



本文編號:3551335

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