采用新的制樣技術(shù)——高壓（1 800kN）覆膜（3.6μm Polyester Film）制樣,波長色散X射線熒光光譜測定多金屬礦中19種組分。該制樣技術(shù)對高硅鋅礦石GBW07237（SiO₂ 82.95%）,不加黏結(jié)劑,也能制出理想的樣片。測定結(jié)果顯示1 800kN制備樣品多數(shù)組分的靈敏度、精密度和檢出限較400kN制備的樣品有所改善。15個多金屬礦標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)建立校準(zhǔn)曲線,使用Rh Kα的瑞利散射線作內(nèi)標(biāo)測定Cu、Pb、Zn、As和Rh K_α的康普頓散射線作內(nèi)標(biāo)測定Sb、Ag、Sn、Bi、Mo及經(jīng)驗系數(shù)法校正基體效應(yīng)。Cu、Pb、Zn、Mn、As、Sb、Ag、Sn、Bi、Mo的測定結(jié)果與化學(xué)法相符,可同時分析其中的Cd、S、Fe、SiO₂、Al₂O₃、MgO、CaO、Na₂O、K₂O等成分。實現(xiàn)了固體直接進(jìn)樣測定多金屬礦中的多種元素。高壓覆膜制樣技術(shù)是制樣技術(shù)的突破,國內(nèi)外尚未見報道。 

【文章來源】：中國無機分析化學(xué). 2020,10(02)

【文章頁數(shù)】：5 頁

【部分圖文】：

400kN、1 800kN壓力覆膜壓制的GBW07237樣片

【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
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