近年來,光釋光測年技術(shù)已被成功應(yīng)用于巖石暴露（埋藏）年齡的測定,在地質(zhì)、地貌、氣候和考古等研究領(lǐng)域顯示出廣泛的應(yīng)用前景。該技術(shù)能準確應(yīng)用于經(jīng)歷各種地質(zhì)活動而暴露（埋藏）的基巖、礫石定年,了解影響巖石表層光釋光信號曬退的特征及影響因素至關(guān)重要。本文對不同巖性巖石（紅褐色長石石英砂巖、灰白色黑云母花崗巖）曝光不同時間的曬退實驗結(jié)果分析得出:無論砂巖、花崗巖巖石表層的IRSL信號均可被光快速曬退;與深色砂巖相比,淺色的花崗巖有更高的曬退速率,在相對較短的暴露時間內(nèi)（比如3 h）,花崗巖表層約3 mm深度內(nèi)的釋光信號基本歸零。因此認為此類深色砂巖適用于暴露時間較長的巖石定年,而花崗巖更適用于年輕樣品,較短的暴露時間即可滿足埋藏年齡的測試要求;另外,在SOL2燈下曝光相同時間的砂巖、花崗巖巖片正反面測試結(jié)果均存在差異,分析表明:紅外光源激發(fā)200 s不能穿透1.2 mm厚的砂巖和花崗巖巖片。相比于沉積物礦物顆粒光釋光測年,巖石暴露面光釋光測年除不同巖性是主要的影響因素外,還需獲取不同暴露方向、不同表面條件、不同海拔的特征光曬退速率（?）(s^-1)和光透系數(shù)μ(mm^... 

【文章來源】：中國地質(zhì)大學(北京)北京市 211工程院校 教育部直屬院校

【文章頁數(shù)】：64 頁

【學位級別】：碩士

【部分圖文】：

光釋光測年原理示意圖（Atiken，1998；楊會麗，2013）

1 引言量已知暴露年齡的巖石不同深度的光釋光信號，建立深度-光釋光信號強度（圖 1-2）；然后計算兩個參數(shù)σφ0 和 μ 值；最后，通過測量未知暴露年齡巖光釋光信號，根據(jù)該測年模型推算巖石的暴露年齡。理論模擬計算結(jié)果顯年齡方法的可測年齡上限可達 100 ka（Sohbati et al.，2012c）。此方法還被巖石埋藏事件的年齡（Sohbati et al.，2015；Freiesleben et al.，2015）。

圖 2-1 （a）紅褐色泥質(zhì)長石砂巖薄片的正交偏光照片，其中左下角插圖為砂巖石板原樣；（b）灰白色黑云母花崗巖薄片的正交偏光照片，其中左下角插圖為花崗巖石板原樣。2.1.2 實驗儀器與測試流程


本文編號：3339482