用于地球化學(xué)微量元素分析的TOF-SIMS的研制
【學(xué)位授予單位】:吉林大學(xué)
【學(xué)位級別】:博士
【學(xué)位授予年份】:2018
【分類號】:O657.63;P595
【圖文】:
吉林大學(xué)博士學(xué)位論文較大半徑的磁場和靜電分析器,實現(xiàn)了較高的二次離子傳焦實現(xiàn)了高質(zhì)量分辨率,實現(xiàn)了同時獲得高靈敏度和高質(zhì)其質(zhì)量分辨率高達(dá) 5000(1%峰高),解決了大部分分子題,也解決了鋯石顆粒溶液法定年時,因鋯石晶體結(jié)構(gòu)和到錯誤的年齡的問題[12, 13],實現(xiàn)了幾十到幾微米礦物微區(qū)微量元素高靈敏度分析。
3(c)圖 1.3 地質(zhì)樣品及宇宙樣品圖(a)地球上最古老鋯石,(b)月巖,(c)隼鳥號帶回小行星帶樣品目前國際上常見的地球化學(xué)微量元素分析技術(shù)包括:礦物顆粒同位素溶液稀釋法(ID-TIMS)、激光剝蝕等離子質(zhì)譜法(LA-ICP-MS)和二次離子磁質(zhì)譜法(SHRIMP II 和 IMS1280 等)。其中 ID-TIMS 方法精度最高,但需要對礦物進(jìn)行化學(xué)溶解,對樣品是破壞性的,而且其無法獲取同一顆粒內(nèi)不同構(gòu)造域的信息;LA-ICP-MS 方法是微區(qū)分析方法,但其剝蝕深度較深,對樣品是半破壞性的;二次離子磁質(zhì)譜法相比以上兩種方法,剝蝕深度較淺,基本是原位非破壞性分析,
圖 1.4 TOF-SIMS 原理圖(引自 ION-TOF)輝等 (1996)采用 TOF-SIMS 分析了難揮發(fā)的雜環(huán)新化合物咪三種衍生物,支持了對該新化合物的鑒定[59]。梁漢東等 (S 分析了乙硫醇與金的表面相互作用,首次在質(zhì)譜中再現(xiàn)了硫裝過程[60]。王光普 (2005)采用 TOF-SIMS 進(jìn)行了航天器污染實驗研究表明,TOF-SIMS 具有高的靈敏度和全譜并行分析能本領(lǐng)和高質(zhì)量精確度,高的橫向分辨本領(lǐng),有效地檢測了極微并通過指紋鑒定判斷來源,同時通過污染物各種成分面和層污染物的形成過程,證明 TOF-SIMS 是一種強有力的航天器污1]。李紅等 (2010)采用 TOF-SIMS 對通用型大氣污染物采集儀細(xì)粒子與粗粒子的表面無機(jī)組分進(jìn)行了比較分析,表明細(xì)粒子次形成的親水化合物,從而影響大氣行為,而粗粒子表面存
【參考文獻(xiàn)】
中國期刊全文數(shù)據(jù)庫 前10條
1 霍蕾;高偉;蘇海波;譚國斌;麥澤彬;黃正旭;;高靈敏VOCs在線真空紫外單光子電離飛行時間質(zhì)譜儀的研制[J];質(zhì)譜學(xué)報;2018年02期
2 李好問;華鑫;龍億濤;;金屬/基質(zhì)增強飛行時間-二次離子質(zhì)譜用于單細(xì)胞脂質(zhì)分析[J];分析化學(xué);2018年01期
3 王培智;田地;龍濤;李抵非;邱春玲;劉敦一;;用于TOF-SIMS的鋯石樣品圖像自動聚焦算法[J];吉林大學(xué)學(xué)報(工學(xué)版);2017年01期
4 王培智;田地;龍濤;王利;包澤民;邱春玲;劉敦一;;二次離子質(zhì)譜儀中二次中性粒子空間分布研究[J];質(zhì)譜學(xué)報;2016年03期
5 宋彪;;用SHRIMP測定鋯石U-Pb年齡的工作方法[J];地質(zhì)通報;2015年10期
6 李獻(xiàn)華;劉宇;湯艷杰;高鈺涯;李秋立;唐國強;;離子探針Li同位素微區(qū)原位分析技術(shù)與應(yīng)用[J];地學(xué)前緣;2015年05期
7 邊晨光;王利;王艷秋;宋哲;劉本康;;飛秒激光用作電離源的二次中性粒子質(zhì)譜技術(shù)[J];分析化學(xué);2015年08期
8 王培智;田地;包澤民;龍濤;張玉海;邱春玲;劉敦一;;TOF-SIMS樣品光學(xué)成像系統(tǒng)設(shè)計[J];質(zhì)譜學(xué)報;2015年03期
9 孫立民;;飛行時間二次離子質(zhì)譜在生物材料和生命科學(xué)中的應(yīng)用(下)[J];質(zhì)譜學(xué)報;2014年05期
10 何妙洪;杭緯;黃本立;;高功率激光電離飛行時間質(zhì)譜技術(shù)[J];質(zhì)譜學(xué)報;2014年03期
本文編號:2864660
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