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用于地球化學(xué)微量元素分析的TOF-SIMS的研制

發(fā)布時間:2020-10-31 23:22
【摘要】:地球化學(xué)微量元素微區(qū)原位分析方法在地球化學(xué)和宇宙化學(xué)研究中發(fā)揮著重要的作用,是揭示成礦物質(zhì)來源、成礦條件及礦床成因等方面有效的技術(shù)手段,也是研究月球和行星物質(zhì)組成的重要方法。隨著地球科學(xué)研究的深入,要求對較為稀少的樣品結(jié)構(gòu)和化學(xué)成分的解析進(jìn)一步精細(xì)化。目前地球化學(xué)微量元素分析方法主要包括ID-TIMS、LA-ICP-MS和磁SIMS法,前兩者屬于破壞性-半破壞性方法,后者隨著分析對象的增加,樣品消耗量也隨之增大而成為半破壞性方法,因此目前微量元素分析方法無法滿足對珍貴/復(fù)雜微小樣品微區(qū)原位分析的需求。飛行時間二次離子質(zhì)譜技術(shù)是最有效的表面分析技術(shù)之一,無需對樣品進(jìn)行化學(xué)處理,能夠?qū)崿F(xiàn)對樣品表面無損傷、高靈敏度的微區(qū)原位分析,并且能夠單次測量獲得幾乎全部同位素信息,僅消耗比傳統(tǒng)方法低1-5個數(shù)量級的樣品,非常適用于對地球,特別是對宇宙樣品/復(fù)雜樣品的微量元素微區(qū)原位分析。本文針對地球科學(xué)微區(qū)原位SIMS分析發(fā)展的新需求,以及目前地球化學(xué)微量元素微區(qū)原位分析手段的局限性,提出了用于地球化學(xué)微量元素分析的TOFSIMS的總體設(shè)計方案,研制了離子源和一次離子光學(xué)系統(tǒng)、高分辨TOF質(zhì)量分析器、中性粒子飛秒激光后電離系統(tǒng)等核心部件;谏鲜龌A(chǔ),成功研制了用于地球化學(xué)微量元素分析的新的TOF-SIMS儀器(目前尚無這種儀器研制的相關(guān)報道)。該儀器性能指標(biāo)如下:質(zhì)量分辨率R=21720(FWHM)(m/z=228)空間分辨率:5μm質(zhì)量范圍:1-350 amu質(zhì)量精度:優(yōu)于100 ppm長期質(zhì)量穩(wěn)定度:優(yōu)于10 ppm檢測限:優(yōu)于0.2 ppm稀土元素(NIST610)分析精度:優(yōu)于10%采用研制的TOF-SIMS建立了鋯石稀土元素和Ti元素分析方法,實現(xiàn)了對鋯石稀土元素和Ti元素含量的準(zhǔn)確測量。開展了TOF-SIMS鋯石稀土元素以及Ti元素的應(yīng)用研究,獲得了TEMORA 2球粒隕石歸一化稀土元素配分模式和鋯石Ti溫度計。結(jié)果表明,研制的TOF-SIMS實現(xiàn)了地質(zhì)樣品近乎無損的高空間分辨率、高靈敏度的微區(qū)原位分析,滿足地球化學(xué)微量元素微區(qū)原位分析的需求,為珍貴樣品/復(fù)雜樣品分析提供了新的技術(shù)手段。TOF-SIMS和核心部件的研制,填補了該領(lǐng)域儀器和部分核心部件研制的空白,為自主研制TOF-SIMS奠定了理論基礎(chǔ)和技術(shù)基礎(chǔ)。
【學(xué)位授予單位】:吉林大學(xué)
【學(xué)位級別】:博士
【學(xué)位授予年份】:2018
【分類號】:O657.63;P595
【圖文】:

鋯石,高靈敏度分析,電分析器,質(zhì)量分辨率


吉林大學(xué)博士學(xué)位論文較大半徑的磁場和靜電分析器,實現(xiàn)了較高的二次離子傳焦實現(xiàn)了高質(zhì)量分辨率,實現(xiàn)了同時獲得高靈敏度和高質(zhì)其質(zhì)量分辨率高達(dá) 5000(1%峰高),解決了大部分分子題,也解決了鋯石顆粒溶液法定年時,因鋯石晶體結(jié)構(gòu)和到錯誤的年齡的問題[12, 13],實現(xiàn)了幾十到幾微米礦物微區(qū)微量元素高靈敏度分析。

地質(zhì)樣品,宇宙,磁質(zhì),剝蝕深度


3(c)圖 1.3 地質(zhì)樣品及宇宙樣品圖(a)地球上最古老鋯石,(b)月巖,(c)隼鳥號帶回小行星帶樣品目前國際上常見的地球化學(xué)微量元素分析技術(shù)包括:礦物顆粒同位素溶液稀釋法(ID-TIMS)、激光剝蝕等離子質(zhì)譜法(LA-ICP-MS)和二次離子磁質(zhì)譜法(SHRIMP II 和 IMS1280 等)。其中 ID-TIMS 方法精度最高,但需要對礦物進(jìn)行化學(xué)溶解,對樣品是破壞性的,而且其無法獲取同一顆粒內(nèi)不同構(gòu)造域的信息;LA-ICP-MS 方法是微區(qū)分析方法,但其剝蝕深度較深,對樣品是半破壞性的;二次離子磁質(zhì)譜法相比以上兩種方法,剝蝕深度較淺,基本是原位非破壞性分析,

原理圖,原理圖,粗粒子


圖 1.4 TOF-SIMS 原理圖(引自 ION-TOF)輝等 (1996)采用 TOF-SIMS 分析了難揮發(fā)的雜環(huán)新化合物咪三種衍生物,支持了對該新化合物的鑒定[59]。梁漢東等 (S 分析了乙硫醇與金的表面相互作用,首次在質(zhì)譜中再現(xiàn)了硫裝過程[60]。王光普 (2005)采用 TOF-SIMS 進(jìn)行了航天器污染實驗研究表明,TOF-SIMS 具有高的靈敏度和全譜并行分析能本領(lǐng)和高質(zhì)量精確度,高的橫向分辨本領(lǐng),有效地檢測了極微并通過指紋鑒定判斷來源,同時通過污染物各種成分面和層污染物的形成過程,證明 TOF-SIMS 是一種強有力的航天器污1]。李紅等 (2010)采用 TOF-SIMS 對通用型大氣污染物采集儀細(xì)粒子與粗粒子的表面無機(jī)組分進(jìn)行了比較分析,表明細(xì)粒子次形成的親水化合物,從而影響大氣行為,而粗粒子表面存
【參考文獻(xiàn)】

中國期刊全文數(shù)據(jù)庫 前10條

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2 李好問;華鑫;龍億濤;;金屬/基質(zhì)增強飛行時間-二次離子質(zhì)譜用于單細(xì)胞脂質(zhì)分析[J];分析化學(xué);2018年01期

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4 王培智;田地;龍濤;王利;包澤民;邱春玲;劉敦一;;二次離子質(zhì)譜儀中二次中性粒子空間分布研究[J];質(zhì)譜學(xué)報;2016年03期

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8 王培智;田地;包澤民;龍濤;張玉海;邱春玲;劉敦一;;TOF-SIMS樣品光學(xué)成像系統(tǒng)設(shè)計[J];質(zhì)譜學(xué)報;2015年03期

9 孫立民;;飛行時間二次離子質(zhì)譜在生物材料和生命科學(xué)中的應(yīng)用(下)[J];質(zhì)譜學(xué)報;2014年05期

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本文編號:2864660

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