大地電磁測(cè)深中薄層地質(zhì)體分辨能力的研究與應(yīng)用
發(fā)布時(shí)間:2018-12-29 10:18
【摘要】:大地電磁測(cè)深法的分辨率是一個(gè)十分復(fù)雜且重要的問(wèn)題,而作為分辨率問(wèn)題之一的大地電磁法對(duì)薄層地質(zhì)體的探測(cè),一直是大地電磁測(cè)深研究的重點(diǎn)內(nèi)容之一。對(duì)薄層地質(zhì)體分辨能力的研究,可以給出很多重要的概念,明確并認(rèn)清薄層地質(zhì)體在不同賦存條件下的分辨能力及其響應(yīng)特征,對(duì)野外施工設(shè)計(jì)和室內(nèi)資料處理解釋都有重大指導(dǎo)意義。因此,對(duì)一維介質(zhì)、二維介質(zhì)中薄層地質(zhì)體的分辨能力進(jìn)行正演模擬研究是非常必要的。本文在總結(jié)各專家學(xué)者取得的一系列成果基礎(chǔ)上,對(duì)大地電磁測(cè)深中薄層地質(zhì)體的分辨能力問(wèn)題進(jìn)行了系統(tǒng)研究。首先,推導(dǎo)了大地電磁測(cè)深法中均勻介質(zhì)和非均勻介質(zhì)的視電阻率解析式,并明確給出了本文研究對(duì)象——薄層地質(zhì)體,基于大地電磁測(cè)深的明確概念及其在一維、二維介質(zhì)中的可分辨標(biāo)準(zhǔn)。一維介質(zhì)中,以典型三層地電模型為基礎(chǔ),詳細(xì)研究了中間層為薄層時(shí),其埋深、厚度以及電阻率等物性參數(shù)的變化對(duì)薄層分辨能力影響的規(guī)律,并分析了薄層中存在的兩種等值現(xiàn)象,以及多層介質(zhì)中影響薄層分辨能力的各參數(shù)變化情況,最后總結(jié)歸納出一維介質(zhì)中薄層地質(zhì)體的分辨條件。研究表明:在水平均勻?qū)訝罱橘|(zhì)中,大地電磁測(cè)深中影響薄層地質(zhì)體分辨能力的因素,主要取決于薄層厚度、埋深和圍巖電阻率比,且大地電磁測(cè)深對(duì)薄層可分辨的薄層圍巖電阻率比與厚度埋深比呈相關(guān)關(guān)系,其中低阻薄層呈負(fù)相關(guān)關(guān)系,高阻薄層呈正相關(guān)關(guān)系;以5%相對(duì)均勻誤差分辨標(biāo)準(zhǔn),在一維層狀介質(zhì)中,當(dāng):2 1SS?0.4且2 0???0.15、2 1h h?0.035時(shí),低阻薄層可分辨,當(dāng):2 1h h?0.286,且高阻薄層電阻率與圍巖電阻率存在明顯差異時(shí),高阻薄層可分辨。其次,在二維介質(zhì)模型中,分析了不同極化模式、不同反演方法、不同點(diǎn)距以及地形起伏等因素對(duì)薄層分辨能力的影響,對(duì)比了TE、TM極化模式對(duì)薄層地質(zhì)體橫、縱向分辨以及邊界拾取的差異,并總結(jié)推廣在二維介質(zhì)中一定賦存條件下薄層橫向尺寸與縱向埋深的關(guān)系。研究表明:對(duì)于薄層的縱向分辨,TE極化模式應(yīng)當(dāng)優(yōu)先考慮,而對(duì)于薄層地質(zhì)體橫向尺寸的圈定,TM極化模式應(yīng)當(dāng)優(yōu)先考慮;在不考慮儀器、噪聲、裝置等其它因素時(shí),當(dāng)?shù)妥璞优c圍巖電阻率比為0.05時(shí),薄層埋深超過(guò)其橫向尺寸160%時(shí),低阻薄層就變得不可分辨,當(dāng)高阻薄層電阻率與圍巖電阻率存在明顯差異時(shí),高阻薄層最大可分辨的深度為橫向尺寸的40%,但其分辨率主要受埋深與厚度的影響,在不可分辨的條件下,改變橫向尺寸不會(huì)提高對(duì)高阻薄層的分辨率。最后,本文結(jié)合“中上揚(yáng)子重點(diǎn)區(qū)海相油氣地質(zhì)綜合研究及選區(qū)評(píng)價(jià)”項(xiàng)目、“深部金礦二次勘探”項(xiàng)目實(shí)例,將大地電磁測(cè)深中薄層地質(zhì)體分辨能力研究的理論成果應(yīng)用到實(shí)際資料之中。當(dāng)實(shí)際鉆井資料、地質(zhì)資料顯示存在地質(zhì)異常體,而電性反演剖面上沒(méi)有出現(xiàn)一個(gè)與實(shí)際資料吻合的異常圈閉響應(yīng)時(shí),結(jié)合工區(qū)地質(zhì)資料、鉆井資料以及物性統(tǒng)計(jì)資料,綜合分析薄層地質(zhì)體埋深、厚度、與圍巖的電阻率差異以及它的規(guī)模等因素在響應(yīng)剖面上的綜合反映與大地電磁測(cè)深對(duì)薄層地質(zhì)體極限分辨能力的關(guān)系,進(jìn)而對(duì)電性反演成果剖面中薄層地質(zhì)體的響應(yīng)和非響應(yīng)提供了科學(xué)的分析。
[Abstract]:......
【學(xué)位授予單位】:成都理工大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2015
【分類號(hào)】:P631.325
本文編號(hào):2394712
[Abstract]:......
【學(xué)位授予單位】:成都理工大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2015
【分類號(hào)】:P631.325
【參考文獻(xiàn)】
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1 時(shí)彬;CSAMT在深部礦產(chǎn)勘查中的研究與應(yīng)用[D];吉林大學(xué);2012年
本文編號(hào):2394712
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