一種基于后臺校正的時間交織ADC設計與實現(xiàn)
本文關鍵詞:一種基于后臺校正的時間交織ADC設計與實現(xiàn)
更多相關文章: 時間交織A/D轉換器 無采樣流水線A/D轉換器 失配 后臺校正
【摘要】:衡量ADC性能的最主要的兩個指標就是轉換速率與分辨率,即速度與精度。同時,這兩個指標也是ADC最主要的一對矛盾。一種實現(xiàn)高速采樣,并且能保持其高精度的重要方法就是利用時間交織(Time-interleaved)方式來構成ADC,這種結構是利用多個相對低速的ADC進行并行交替采樣來實現(xiàn)高速的采樣率,理想狀態(tài)下,整體ADC的精度相當于單通道ADC的精度,這樣我們就能使用多個低速高精度ADC構成時間交織ADC來實現(xiàn)高速高精度ADC。然而,由于工藝原因,系統(tǒng)各ADC通道間存在失調(diào)、增益、時鐘等多種通道失配,使得系統(tǒng)動態(tài)性能下降。因此,需要對系統(tǒng)輸出進行通道失配校準。論文首先對多通道時間交織ADC的工作原理進行了說明,從理論上分析了多通道時間交織ADC的失調(diào)失配、增益失配、時鐘失配等非線性失配對ADC性能的影響,結合當前的研究熱點,對現(xiàn)有的一些通道失配校準算法與方案做了介紹,分析了其優(yōu)缺點。同時為了滿足整體ADC功耗指標的要求,研究了低功耗流水線ADC結構。論文中研究設計了一種基于信號特征提取的盲均衡自適應時間交織誤差校準算法,以及“無采保”低功耗流水線型ADC結構,最終,采用標準0.18μm 1.8V電源電壓1P6M CMOS工藝完成了14位500MHz雙通道時間交織型ADC設計。整體ADC采用數(shù)模混合方式實現(xiàn)對通道間失調(diào)、增益和時鐘誤差的后臺實時校正,其中使用自適應信號處理技術估計出失調(diào)、增益和時鐘誤差,采用數(shù)字校正方式修正失調(diào)和增益誤差,采用控制模擬延時線微調(diào)子ADC工作時鐘相位方式,校正時鐘網(wǎng)絡誤差,形成一個時鐘誤差校正的數(shù);旌戏答伃h(huán)路以及失調(diào)、增益誤差校正的純數(shù)字反饋環(huán)路。對整個A/D轉換器在模擬輸入頻率15MHz,采樣頻率500MSPS下,測試的SNR達到68dB,SFDR達到72dB,功耗小于900mW。
【關鍵詞】:時間交織A/D轉換器 無采樣流水線A/D轉換器 失配 后臺校正
【學位授予單位】:電子科技大學
【學位級別】:碩士
【學位授予年份】:2016
【分類號】:TN792
【目錄】:
- 摘要5-6
- ABSTRACT6-11
- 第一章 緒論11-15
- 1.1 研究背景11-12
- 1.2 國內(nèi)外研究現(xiàn)狀12-13
- 1.3 本文的主要工作及結構13-15
- 1.3.1 本文的主要工作13-14
- 1.3.2 本文的結構安排14-15
- 第二章 時間交織ADC原理與關鍵技術15-28
- 2.1 時間交織型ADC的基本理論15-17
- 2.2 時間交織型ADC的誤差分析17-23
- 2.2.1 時鐘誤差17-20
- 2.2.2 增益誤差20-21
- 2.2.3 失調(diào)誤差21-23
- 2.3 誤差校正方法23-27
- 2.3.1 前臺校正23-26
- 2.3.2 后臺校正26-27
- 2.4 本章小結27-28
- 第三章 流水線型子ADC原理與關鍵技術28-38
- 3.1 流水線A/D轉換器結構原理28-30
- 3.2 流水線結構A/D轉換器中的功耗30-32
- 3.2.1 總體結構與功耗的關系30-31
- 3.2.2 每級流水線的功耗31-32
- 3.3 流水線A/D轉換器中的低功耗技術32-37
- 3.3.1 每級精度和總級數(shù)的折中32-33
- 3.3.2 電容尺寸按比例縮小33-34
- 3.3.3“無采保放大器”的新結構34-37
- 3.4 本章小結37-38
- 第四章 雙通道時間交織ADC電路設計38-73
- 4.1 整體電路構架38-39
- 4.2 誤差校準算法設計39-49
- 4.2.1 算法性能指標分解39-40
- 4.2.2 算法設計40-49
- 4.3 CMOS輸入緩沖器設計49-53
- 4.3.1 典型的CMOS輸入buffer49-50
- 4.3.2 改進的CMOS輸入buffer50-53
- 4.4 子ADC的設計53-63
- 4.4.1 子ADC電路結構53-54
- 4.4.2 子ADC中的低功耗設計54-57
- 4.4.3 流水線系統(tǒng)級指標分解57-62
- 4.4.4 行為級建模及驗證62-63
- 4.5 時鐘系統(tǒng)設計63-71
- 4.6 LVDS輸出單元設計71-72
- 4.7 本章小結72-73
- 第五章 雙通道時間交織ADC版圖設計73-79
- 5.1 版圖中的匹配設計73-76
- 5.2 版圖中的噪聲屏蔽設計76-77
- 5.3 總體版圖設計77-78
- 5.4 本章小結78-79
- 第六章 芯片封裝與測試79-84
- 6.1 芯片封裝形式79-80
- 6.2 測試設備與評估板80-81
- 6.3 測試評估方案81
- 6.4 測試結果81-83
- 6.5 本章小結83-84
- 第七章 總結和展望84-86
- 7.1 總結84-85
- 7.2 展望85-86
- 致謝86-87
- 參考文獻87-90
- 攻碩期間取得的研究成果90-91
【參考文獻】
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,本文編號:972120
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