平頂激光束誘導(dǎo)薄膜損傷閾值測量系統(tǒng)
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【摘要】:為了滿足快速、精確、定量地測量薄膜激光損傷閾值的要求,設(shè)計了平頂激光束誘導(dǎo)薄膜損傷閾值測量系統(tǒng).介紹了損傷閾值測量的原理和方法,提出二分查找與順序查找相結(jié)合的能量密度查找方式;根據(jù)分光鏡的分光比及能量探測器示值求解輻照激光能量,用CCD成像法精密測量了作用在薄膜表面的激光光斑面積;基于小波變換法,通過圖像處理精確識別了薄膜的損傷;建立能量密度與損傷幾率坐標并進行最小二乘法擬合,對損傷閾值進行了標定.對45°高反射膜分別進行了高斯光束輻照和平頂光束輻照的測量實驗,結(jié)果表明:高斯光束輻照測量的損傷閾值為9.95J/cm~2,平頂光束輻照測量的損傷閾值為13.98J/cm~2,平頂光束誘導(dǎo)比高斯光束誘導(dǎo)的損傷閾值高40.5%.
【作者單位】: 長春理工大學(xué)光電工程學(xué)院;長春理工大學(xué)光電信息學(xué)院;
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【基金】:吉林省科技支撐計劃(No.20150204047GX) 長春市科技發(fā)展計劃(No.2014219) 吉林省教育廳"十三五"科學(xué)技術(shù)研究項目(No.2015578)資助~~
【分類號】:TN249
【正文快照】: 1-30041300引言長期以來,強激光對光學(xué)薄膜的損傷一直是制約激光向高功率、高能量發(fā)展的瓶頸,也是影響高功率激光薄膜元件穩(wěn)定性、可靠性和使用壽命的主要因素[1-2].激光對薄膜的損傷是一個極其復(fù)雜的過程,導(dǎo)致薄膜激光損傷閾值的定量測試結(jié)果具有不確定性,采用不同測量裝置測
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,本文編號:969832
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