本文關(guān)鍵詞：全新參數(shù)分析儀降低特性分析復(fù)雜度

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【摘要】：正全面集成的Keithley 4200A-SCS參數(shù)分析儀,通過降低新用戶或偶爾使用的用戶面臨的特性分析復(fù)雜度,簡化測試設(shè)置,提供清楚精確的結(jié)果,加快了用戶獲得半導(dǎo)體器件、材料和工藝洞察力的速度。Keithley 4200-SCS參數(shù)分析儀已經(jīng)取得了巨大的成功,在此基礎(chǔ)上,新推出的4200A-SCS儀器采用現(xiàn)代工業(yè)設(shè)計,擁有全新圖形用戶界面及多種自學(xué)工具,如儀器內(nèi)嵌的專家指導(dǎo)視頻。
【關(guān)鍵詞】： 參數(shù)分析;現(xiàn)代工業(yè)設(shè)計;半導(dǎo)體器件;圖形用戶界面;全面集成;特性分析;可靠性測試;四通道;設(shè)置時間;易用性;
【分類號】：TN307
【正文快照】： 全面集成的Keithley 4200A-SCS參數(shù)分析儀,通過降低新用戶或偶爾使用的用戶面臨的特性分析復(fù)雜度,簡化測試設(shè)置,提供清楚精確的結(jié)果,加快 了用戶獲得半導(dǎo)體器件、材料和工藝洞察力的速度。 Keithley 4200-SCS參數(shù)分析儀已經(jīng)取得了巨大的成功,在此基礎(chǔ)上,新推出的4200A—SCS儀

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8 王慶祥;孟麗婭;劉澤東;王成;;CMOS工藝APS陣列的近紅外響應(yīng)及參數(shù)分析[J];激光與紅外;2014年02期

9 沈森祖,石堅,郭卓梁;集成電路變量的相關(guān)性研究[J];電子測量與儀器學(xué)報;1998年02期

10 ;[J];;年期

，

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