本文關鍵詞：獨立于測試數(shù)據(jù)的字典編碼方法

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【摘要】：為減少測試數(shù)據(jù)量,提出一種新的獨立于測試數(shù)據(jù)的字典編碼方法。首先設計基于圖論尋找團的啟發(fā)式算法,合并相容掃描鏈,壓縮測試數(shù)據(jù)寬度,然后利用最簡分數(shù)對應浮點數(shù)的二進制形式生成字典,使用字典編碼進一步壓縮測試數(shù)據(jù)長度。該編碼方法無需填充測試集中的無關位且字典的生成獨立于測試數(shù)據(jù),可以預先生成字典,縮短了測試時間;解壓時無需存儲字典,通過簡單計算即可還原測試數(shù)據(jù),減小了硬件開銷。實驗表明,該方法在ISCAS 89標準電路Mintest集上的平均壓縮率達到65.57%,能夠有效地壓縮測試數(shù)據(jù)。
【作者單位】： 安慶師范學院計算機與信息學院;安慶師范學院科研處;
【關鍵詞】： 測試數(shù)據(jù)壓縮 相容組 字典編碼 獨立于測試數(shù)據(jù)
【基金】：國家自然科學基金項目(61306046;61540011) 安徽高校自然科學研究重點項目(KJ2016A427) 安徽省教育廳學術技術帶頭人后備人選項目(GXBJZD2016075) 安徽省優(yōu)秀人才基金重點項目(2013SQRL131ZD) 安徽省自然科學項目(AQKJ2014B005)資助
【分類號】：TN407
【正文快照】： 1引言在So C設計中,越來越高的電路密度導致測試數(shù)據(jù)量急劇增加。更大的測試數(shù)據(jù)規(guī)模不僅要求更高的內(nèi)存需求,而且還增加測試時間。ITRS2013報告[1]顯示,SOC-CP-Consumer SOC進行測試的最小測試數(shù)據(jù)量10年增加了近4倍,最低壓縮比10年增加了近6倍。測試數(shù)據(jù)壓縮技術通過減少測

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本文編號：923935