基于調(diào)制的時間交織ADC數(shù)字校準(zhǔn)技術(shù)研究
本文關(guān)鍵詞:基于調(diào)制的時間交織ADC數(shù)字校準(zhǔn)技術(shù)研究
更多相關(guān)文章: 時間交織ADC 通道失配 全數(shù)字后臺校準(zhǔn) 沃爾什變換
【摘要】:微電子工藝上的演進(jìn)使得單片集成度不斷提高,但并沒有給傳統(tǒng)架構(gòu)的模數(shù)轉(zhuǎn)換器(Analog to Digital Converter, ADC)設(shè)計帶來太大的幫助,受各種非理想因素的限制,在單片上實現(xiàn)兼具高速和高精度的高性能ADC顯得十分困難。時間交織(Time-interleaved)技術(shù)的應(yīng)用則讓高性能ADC的設(shè)計者們看到了希望。時間交織ADC以多片ADC交替采樣來實現(xiàn)高速采樣,是一種有效解決高速高精度矛盾的方式,現(xiàn)在越來越多高端的ADC都采用這種架構(gòu)。然而,制造工藝上的偏差,使得時間交織ADC的通道間存在各種各樣的失配效應(yīng)。這些失配效應(yīng)嚴(yán)重地降低ADC的動態(tài)性能,這其中主要包括三種失配誤差,分別是失調(diào)失配、增益失配和采樣時間失配,必須將這三種誤差消除,才能達(dá)到真正意義上的高速高精度。在模擬電路中對各個子通道進(jìn)行嚴(yán)格的匹配設(shè)計收到的效果甚微,而利用數(shù)字電路的優(yōu)勢,通過數(shù)字輔助設(shè)計來實現(xiàn)誤差的消除卻顯得游刃有余。引入數(shù)字輔助設(shè)計已然成為當(dāng)前ADC設(shè)計的主流。在研究了當(dāng)前的一些時間交織ADC的校準(zhǔn)算法的基礎(chǔ)上,討論了這些算法的特點,并在深入了解這幾種失配誤差的特點后,研究了基于沃爾什序列調(diào)制的增益失配和采樣時間失配的全數(shù)字后臺校準(zhǔn)算法。該算法利用數(shù)字信號處理的方法,對增益和采樣時間失配所引起的雜散頻譜進(jìn)行有針對性的消減,能夠?qū)㈦s散頻譜進(jìn)行有效的消除,并且不會引入新的誤差。與已有的相關(guān)算法相比,基于沃爾什序列調(diào)制的校準(zhǔn)算法在校準(zhǔn)效果和硬件資源的開銷上都有較大的優(yōu)勢。為了驗證算法層面的有效性,利用MATLAB/Simulink分別搭建了兩通道和四通道12bits的時間交織ADC的校準(zhǔn)算法模型,并進(jìn)行了行為級的仿真,驗證了算法層面上的正確性和有效性;為了驗證算法的可實現(xiàn)性,利用Verilog HDL在行為級的基礎(chǔ)上對算法進(jìn)行了RTL代碼的設(shè)計,并在Mentor公司的Modelsim上完成了RTL模型的功能仿真和驗證;最后,為了對算法進(jìn)行硬件驗證,在Altera公司的StratixIV系列的FPGA上進(jìn)行了硬件電路的驗證,并將三種不同平臺下的驗證結(jié)果進(jìn)行對比分析。多種驗證結(jié)果都表明,對于奈奎斯特頻帶之內(nèi)的輸入信號(個別特殊頻率點除外),經(jīng)該算法校準(zhǔn)之后,由失配帶來的雜散頻譜基本上都得到了消除,系統(tǒng)信噪失真比(SNDR)和無雜散動態(tài)范圍(SFDR)都得到了極大的改善。
【關(guān)鍵詞】:時間交織ADC 通道失配 全數(shù)字后臺校準(zhǔn) 沃爾什變換
【學(xué)位授予單位】:合肥工業(yè)大學(xué)
【學(xué)位級別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2016
【分類號】:TN792
【目錄】:
- 致謝7-8
- 摘要8-9
- ABSTRACT9-16
- 第一章 緒論16-22
- 1.1 高性能模數(shù)轉(zhuǎn)換器的發(fā)展現(xiàn)狀16-19
- 1.2 數(shù)字輔助設(shè)計19-20
- 1.3 論文的主要內(nèi)容及組織結(jié)構(gòu)20-22
- 第二章 時間交織ADC理論基礎(chǔ)及誤差模型22-36
- 2.1 時間交織ADC概述22-25
- 2.1.1 時間交織ADC基本原理22-23
- 2.1.2 時間交織ADC主要動態(tài)性能參數(shù)23-25
- 2.2 時間交織ADC失配誤差模型25-30
- 2.2.1 失調(diào)失配誤差26-27
- 2.2.2 增益失配誤差27-29
- 2.2.3 采樣時間失配誤差29-30
- 2.3 失配誤差的仿真驗證30-33
- 2.4 時間交織ADC校準(zhǔn)技術(shù)研究現(xiàn)狀33-34
- 2.5 本章小結(jié)34-36
- 第三章 基于調(diào)制的誤差估計及校正算法研究36-59
- 3.1 基于調(diào)制的失配校準(zhǔn)技術(shù)簡介36-37
- 3.2 校準(zhǔn)的整體思路37-40
- 3.3 調(diào)制信號的產(chǎn)生40-47
- 3.3.1 沃爾什序列調(diào)制40-44
- 3.3.2 誤差系數(shù)的數(shù)值計算44-46
- 3.3.3 數(shù)字微分器的逼近46-47
- 3.4 基于互相關(guān)特性的失配誤差估計47-51
- 3.4.1 失配誤差估計公式的構(gòu)造47-49
- 3.4.2 收斂精度的提高—收斂曲線的平滑處理49-51
- 3.5 缺陷及解決方法51-52
- 3.6 行為級仿真結(jié)果52-58
- 3.6.1 單頻信號的校準(zhǔn)53-57
- 3.6.2 多頻信號的校準(zhǔn)57-58
- 3.7 本章小結(jié)58-59
- 第四章 失配誤差校準(zhǔn)電路設(shè)計59-76
- 4.1 校準(zhǔn)電路實現(xiàn)總體方案59-60
- 4.2 校準(zhǔn)電路主要模塊的設(shè)計60-66
- 4.2.1 調(diào)制信號發(fā)生器電路的設(shè)計60
- 4.2.2 微分器的設(shè)計60-64
- 4.2.3 相關(guān)運算的設(shè)計64-65
- 4.2.4 指數(shù)平滑濾波器的設(shè)計65
- 4.2.5 關(guān)鍵路徑的優(yōu)化65-66
- 4.3 校準(zhǔn)電路的功能及硬件驗證66-75
- 4.3.1 功能仿真66-69
- 4.3.2 FPGA驗證69-74
- 4.3.3 三種平臺的驗證結(jié)果分析74-75
- 4.4 本章小結(jié)75-76
- 第五章 總結(jié)與展望76-78
- 5.1 總結(jié)76
- 5.2 展望76-78
- 參考文獻(xiàn)78-82
- 攻讀碩士學(xué)位期間的學(xué)術(shù)活動及成果情況82
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,本文編號:904609
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