本文關(guān)鍵詞：基于6σ方法的石英晶體DLD2質(zhì)量問題改善研究

  更多相關(guān)文章： σ 石英晶體 質(zhì)量改善

【摘要】：針對石英晶體在批量性生產(chǎn)過程中存在的DLD2質(zhì)量問題,采用6σ方法,通過試驗設(shè)計來提高產(chǎn)品品質(zhì)的穩(wěn)定性。通過分析案例的應(yīng)用結(jié)果,可知此方法能提高石英晶體產(chǎn)品的DLD2質(zhì)量,并能達到預(yù)期的改善效果。
【作者單位】： 同濟大學(xué)機械與能源工程學(xué)院;
【關(guān)鍵詞】： σ 石英晶體 質(zhì)量改善
【基金】：國家自然科學(xué)基金資助項目(編號:71471135)
【分類號】：TN752.2
【正文快照】： 隨著電子信息技術(shù)的不斷發(fā)展,特別是智能型電子設(shè)備的發(fā)展,低功耗、小型化、高穩(wěn)定的石英晶體成為市場的主流,客戶對石英晶體的品質(zhì)要求越來越高,DLD2(石英晶體在起振過程中不同驅(qū)動功率之間電阻的最大值與最小值之差)之類代表產(chǎn)品穩(wěn)定性的參數(shù)也越來越受到重視[1]。6σ方法作

【相似文獻】

中國期刊全文數(shù)據(jù)庫 前10條

1 ;代替石英晶體的新材料[J];電子技術(shù);1973年01期

2 潘遵五;日本石英晶體器件發(fā)展現(xiàn)狀[J];電子元件與材料;1999年04期

3 呂培青;張輝;;抗高過載石英晶體元件的研制[J];電子設(shè)計工程;2014年08期

4 龔美霞;石英晶體元器件技術(shù)的發(fā)展及應(yīng)用[J];國外電子元器件;2001年01期

5 王艷林 ,李東 ,劉桂禮;石英晶體測試中的π網(wǎng)絡(luò)零相位檢測技術(shù)[J];航天制造技術(shù);2004年02期

6 袁志;;石英晶體的介紹與檢修[J];家電檢修技術(shù);2004年04期

7 邱敏;;基于圖像處理的石英晶體片分選系統(tǒng)[J];儀表技術(shù)與傳感器;2007年12期

8 李t，

本文編號：896164