本文關(guān)鍵詞：基于6σ方法的石英晶體DLD2質(zhì)量問(wèn)題改善研究

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【摘要】：針對(duì)石英晶體在批量性生產(chǎn)過(guò)程中存在的DLD2質(zhì)量問(wèn)題,采用6σ方法,通過(guò)試驗(yàn)設(shè)計(jì)來(lái)提高產(chǎn)品品質(zhì)的穩(wěn)定性。通過(guò)分析案例的應(yīng)用結(jié)果,可知此方法能提高石英晶體產(chǎn)品的DLD2質(zhì)量,并能達(dá)到預(yù)期的改善效果。
【作者單位】： 同濟(jì)大學(xué)機(jī)械與能源工程學(xué)院;
【關(guān)鍵詞】： σ 石英晶體 質(zhì)量改善
【基金】：國(guó)家自然科學(xué)基金資助項(xiàng)目(編號(hào):71471135)
【分類(lèi)號(hào)】：TN752.2
【正文快照】： 隨著電子信息技術(shù)的不斷發(fā)展,特別是智能型電子設(shè)備的發(fā)展,低功耗、小型化、高穩(wěn)定的石英晶體成為市場(chǎng)的主流,客戶對(duì)石英晶體的品質(zhì)要求越來(lái)越高,DLD2(石英晶體在起振過(guò)程中不同驅(qū)動(dòng)功率之間電阻的最大值與最小值之差)之類(lèi)代表產(chǎn)品穩(wěn)定性的參數(shù)也越來(lái)越受到重視[1]。6σ方法作

【相似文獻(xiàn)】

中國(guó)期刊全文數(shù)據(jù)庫(kù) 前10條

1 ;代替石英晶體的新材料[J];電子技術(shù);1973年01期

2 潘遵五;日本石英晶體器件發(fā)展現(xiàn)狀[J];電子元件與材料;1999年04期

3 呂培青;張輝;;抗高過(guò)載石英晶體元件的研制[J];電子設(shè)計(jì)工程;2014年08期

4 龔美霞;石英晶體元器件技術(shù)的發(fā)展及應(yīng)用[J];國(guó)外電子元器件;2001年01期

5 王艷林 ,李東 ,劉桂禮;石英晶體測(cè)試中的π網(wǎng)絡(luò)零相位檢測(cè)技術(shù)[J];航天制造技術(shù);2004年02期

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8 李t，

本文編號(hào)：896164