基于Pareto支配的MPRM電路面積與可靠性優(yōu)化
發(fā)布時(shí)間:2017-09-21 06:24
本文關(guān)鍵詞:基于Pareto支配的MPRM電路面積與可靠性優(yōu)化
更多相關(guān)文章: MPRM電路 可靠性優(yōu)化 面積優(yōu)化 SER解析評價(jià)模型 Pareto支配 多目標(biāo)優(yōu)化
【摘要】:針對MPRM(Mixed-Polarity Reed-Muller)電路的面積與可靠性折中優(yōu)化問題,在邏輯級建立面積估算模型以及電路SER(Soft Error Rate)解析評價(jià)模型,并采用Pareto支配概念對MPRM電路進(jìn)行面積與可靠性多目標(biāo)優(yōu)化.通過對MPRM電路的XOR部分進(jìn)行樹形異或門分解,并考慮多個(gè)輸出之間異或門的共享,建立面積估算模型.采用信號概率和故障傳播方法,并考慮電路中的邏輯屏蔽因素以及信號相關(guān)性,建立電路SER解析評價(jià)模型.根據(jù)所提出的面積和SER評價(jià)模型,采用極性向量的格雷碼序窮舉搜索MPRM的極性空間得到MPRM電路面積與可靠性的Pareto最優(yōu)解集,并使用效率因子技術(shù)指標(biāo)選取最終解.MCNC基準(zhǔn)電路的實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,與面積最小MPRM電路相比,所選取的MPRM電路可以在較小面積開銷的前提下獲得較高電路可靠性.
【作者單位】: 井岡山大學(xué)電子與信息工程學(xué)院;同濟(jì)大學(xué)軟件學(xué)院;流域生態(tài)與地理環(huán)境監(jiān)測國家測繪地理信息局重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室;
【關(guān)鍵詞】: MPRM電路 可靠性優(yōu)化 面積優(yōu)化 SER解析評價(jià)模型 Pareto支配 多目標(biāo)優(yōu)化
【基金】:國家自然科學(xué)基金(No.61432017) 流域生態(tài)與地理環(huán)境監(jiān)測國家測繪地理信息局重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室資助課題(No.WE2016012) 吉安市科技局指導(dǎo)性科技計(jì)劃(吉市科計(jì)字[2016]4-4)
【分類號】:TN406
【正文快照】: 1引言 隨著集成電路技術(shù)和工藝的發(fā)展,無論是傳統(tǒng)的CMOS器件,還是納米器件,其缺陷率均不可避免的增加,同時(shí)對瞬時(shí)故障(Transient Fault,TF)的敏感度也不斷增加[1,2].因此,電路可靠性問題成為一個(gè)不容忽視的問題,需要在電路設(shè)計(jì)流程的各個(gè)階段考慮可靠性約束. RM(Reed-Muller
【相似文獻(xiàn)】
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2 ;[J];;年期
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1 曹亞菲;王大偉;李思昆;;吞吐量和延時(shí)約束下的片上通信結(jié)構(gòu)的Pareto空間優(yōu)化[A];第八屆全國信息隱藏與多媒體安全學(xué)術(shù)大會湖南省計(jì)算機(jī)學(xué)會第十一屆學(xué)術(shù)年會論文集[C];2009年
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1 陳鵬;基于Pareto多目標(biāo)遺傳算法的CMOS運(yùn)放優(yōu)化設(shè)計(jì)[D];杭州電子科技大學(xué);2012年
,本文編號:892894
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