本文關(guān)鍵詞：考慮設(shè)計(jì)參數(shù)擾動(dòng)的芯片多元參數(shù)成品率預(yù)測(cè)算法（英文）

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【摘要】：隨著芯片制造工藝的進(jìn)步,工藝參數(shù)、供電電壓及片上溫度(Process,voltage,and temperature,PVT)等設(shè)計(jì)參數(shù)擾動(dòng)已成為芯片設(shè)計(jì)過程的棘手問題,其所產(chǎn)生的性能指標(biāo)間相關(guān)性將導(dǎo)致芯片參數(shù)成品率顯著下降。但是,當(dāng)前芯片參數(shù)成品率預(yù)測(cè)算法主要局限于單一性能指標(biāo)成品率預(yù)測(cè)或?qū)Χ鄠�(gè)單性能指標(biāo)成品率進(jìn)行均衡優(yōu)化,而不能同時(shí)針對(duì)多個(gè)性能指標(biāo)約束進(jìn)行多元參數(shù)成品率預(yù)測(cè),易造成參數(shù)成品率精度缺失�；谝陨蠁栴},本文將多個(gè)性能指標(biāo)同時(shí)作為約束條件,提出一種芯片多元參數(shù)成品率預(yù)測(cè)方法。該方法首先考慮PVT參數(shù)擾動(dòng),利用自適應(yīng)彈性網(wǎng)(Adaptive elastic net,AEN)對(duì)芯片性能指標(biāo)進(jìn)行建模。然后,基于乘法定理及馬爾科夫鏈蒙特卡羅法,通過求解累積分布函數(shù)(Cumulative distribution function,CDF)對(duì)單一性能指標(biāo)的芯片參數(shù)成品率進(jìn)行預(yù)測(cè)。最后,同時(shí)考慮多個(gè)芯片性能指標(biāo)約束,根據(jù)Copula方法準(zhǔn)確預(yù)測(cè)芯片多元參數(shù)成品率。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,本文方法可以在指定性能指標(biāo)約束下對(duì)芯片多元參數(shù)成品率進(jìn)行有效預(yù)測(cè),并可為芯片設(shè)計(jì)人員提供任意性能指標(biāo)約束下的多元參數(shù)成品率預(yù)測(cè)曲面。
【作者單位】： Jiangsu
【關(guān)鍵詞】： 成品率預(yù)測(cè) 參數(shù)擾動(dòng) 多元參數(shù)成品率 性能建模 稀疏表示
【基金】：Project supported by the Natural Science Foundation of Jiangsu Province(Nos.BK20161072,BK20150785,and BK20130877) the National Natural Science Foundation of China(Nos.61502234 and 71301081)
【分類號(hào)】：TN40
【正文快照】： 1 Introduction As the integrated circuit(IC)process scales,process,voltage,and temperature(PVT)variability becomes increasingly critical(Li,2010;Trejo-Guerra et al.,2012;Nateghi and El-Sankary,2015;TleloCuautle and Sanabria-Borbon,2016).This increasing

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本文編號(hào)：711199