表面處理對Au-CdZnTe電極接觸性能的影響
本文關(guān)鍵詞:表面處理對Au-CdZnTe電極接觸性能的影響
更多相關(guān)文章: 碲鋅鎘 表面處理 機械化學(xué)拋光 歐姆接觸
【摘要】:碲鋅鎘(CdZnTe)是制備X射線、γ射線探測器的一種理想半導(dǎo)體材料。CdZnTe歐姆接觸電極是制備CdZnTe核輻射探測器的關(guān)鍵技術(shù)之一。表面加工狀態(tài)是影響歐姆接觸性能的重要因素,文中研究了4種表面處理工藝對Au-CdZnTe電極接觸性能的影響。研究發(fā)現(xiàn)對晶片表面進行溴甲醇腐蝕處理和機械化學(xué)拋光均有助于提升Au-CdZnTe電極歐姆接觸性能。對晶片進行機械化學(xué)拋光后再進行溴甲醇腐蝕處理,使用這種晶片所制備的電極具有更加優(yōu)良的綜合電學(xué)性能。
【作者單位】: 上海大學(xué)材料學(xué)院;中國科學(xué)院紅外成像材料與器件重點實驗室;
【關(guān)鍵詞】: 碲鋅鎘 表面處理 機械化學(xué)拋光 歐姆接觸
【基金】:紅外成像材料與器件重點實驗室開放基金資助項目(IIMDKFJJ-12-01)
【分類號】:TN304.2
【正文快照】:
【相似文獻】
中國期刊全文數(shù)據(jù)庫 前10條
1 郝曉勇;;CdZnTe化合物半導(dǎo)體探測器[J];中國原子能科學(xué)研究院年報;2006年00期
2 梁小燕;閔嘉華;王長君;桑文斌;顧瑩;趙岳;周晨瑩;;Au/CdZnTe電極接觸的熱處理優(yōu)化工藝(英文)[J];稀有金屬材料與工程;2009年12期
3 侯清潤,王金義,鄧金誠,杜冰,李美蓉,常米;CdZnTe Crystal Growth by Vertical Gradient Freezing Method[J];RARE METALS;1995年03期
4 李萬萬,桑文斌,閔嘉華,郁芳,張斌,王昆黍,曹澤淳;垂直布里奇曼法生長CdZnTe晶體時坩堝下降速度的優(yōu)化研究[J];無機材料學(xué)報;2004年04期
5 張鵬舉,趙增林,胡贊東,萬銳敏,岳全齡,王曉薇,姬榮斌;Cd氣氛退火對CdZnTe晶片質(zhì)量影響[J];紅外技術(shù);2005年05期
6 閔嘉華;桑文斌;劉洪濤;錢永彪;滕建勇;樊建榮;李萬萬;張斌;金瑋;;熱處理方法改善CdZnTe晶體性能研究(英文)[J];稀有金屬材料與工程;2007年03期
7 王濤;俞鵬飛;徐亞東;查鋼強;傅莉;介萬奇;;CdZnTe晶體光致發(fā)光譜“負熱淬滅”現(xiàn)象研究[J];人工晶體學(xué)報;2010年01期
8 徐亞東;何亦輝;王濤;查鋼強;傅莉;介萬奇;;探測器級CdZnTe晶體變溫特性研究[J];功能材料;2011年03期
9 ;Size and distribution of Te inclusions in detector-grade CdZnTe ingots[J];Progress in Natural Science:Materials International;2011年01期
10 曾冬梅;周海;盧一民;楊英歌;;濺射功率對CdZnTe薄膜成分和結(jié)構(gòu)的影響[J];功能材料;2011年09期
中國重要會議論文全文數(shù)據(jù)庫 前10條
1 蔡明生;郭建華;;CdZnTe陣列研究的最新進展[A];第二十三屆全國空間探測學(xué)術(shù)交流會論文摘要集[C];2010年
2 陳俊;朱世富;趙北君;高德友;魏昭榮;李含冬;韋永林;唐世紅;;CdZnTe晶體(111)面、(110)面和(100)面的蝕坑形貌觀察[A];第五屆中國功能材料及其應(yīng)用學(xué)術(shù)會議論文集Ⅱ[C];2004年
3 李霞;褚君浩;李隴遐;張福甲;;影響CdZnTe探測器特性的因素[A];第十六屆全國半導(dǎo)體物理學(xué)術(shù)會議論文摘要集[C];2007年
4 介萬奇;;CdZnTe晶體中的結(jié)構(gòu)缺陷[A];第七屆中國功能材料及其應(yīng)用學(xué)術(shù)會議論文集(第7分冊)[C];2010年
5 韋永林;朱世富;趙北君;王瑞林;高德友;魏昭榮;李含冬;;CdZnTe晶體的陷阱能級分析[A];中國硅酸鹽學(xué)會2003年學(xué)術(shù)年會論文摘要集[C];2003年
6 王寧;張文瓏;劉洋;查鋼強;王濤;徐亞東;介萬奇;;CdZnTe高能射線探測材料與器件研究[A];第十六屆全國核電子學(xué)與核探測技術(shù)學(xué)術(shù)年會論文集(上冊)[C];2012年
7 陳繼權(quán);孫金池;李陽平;劉正堂;;CdZnTe晶體歐姆接觸電極的制備工藝研究[A];第五屆中國功能材料及其應(yīng)用學(xué)術(shù)會議論文集Ⅲ[C];2004年
8 張凱;張萬昌;丁洪林;孫亮;郝曉勇;孟欣;;CDG-CdZnTe核輻射探測器的研制[A];第十五屆全國核電子學(xué)與核探測技術(shù)學(xué)術(shù)年會論文集[C];2010年
9 丁洪林;申越;吳喜泉;;CdZnTe探測器在科學(xué)研究和核技術(shù)應(yīng)用中的作用和地位[A];全國第五屆核儀器及其應(yīng)用學(xué)術(shù)會議論文集[C];2005年
10 王光祺;李紅日;程翠然;曹雪朋;張偉;羅杰;鄧智;;基于ASIC的CdZnTe像素探測器的研制[A];第十六屆全國核電子學(xué)與核探測技術(shù)學(xué)術(shù)年會論文集(上冊)[C];2012年
中國博士學(xué)位論文全文數(shù)據(jù)庫 前6條
1 查鋼強;CdZnTe單晶表面、界面及位錯的研究[D];西北工業(yè)大學(xué);2007年
2 黎淼;面元像素CdZnTe高能輻射探測器原理、系統(tǒng)及特性研究[D];重慶大學(xué);2012年
3 汪曉芹;CdZnTe晶片表面化學(xué)處理及歐姆接觸特性的研究[D];西北工業(yè)大學(xué);2006年
4 盛鋒鋒;CdZnTe材料缺陷特性及熱處理技術(shù)研究[D];中國科學(xué)院研究生院(上海技術(shù)物理研究所);2014年
5 徐凌燕;CdZnTe晶體中的深能級缺陷及其對光電性能的影響[D];西北工業(yè)大學(xué);2014年
6 李巖;碲鋅鎘晶片高效低損傷加工工藝的研究[D];大連理工大學(xué);2010年
中國碩士學(xué)位論文全文數(shù)據(jù)庫 前10條
1 潘松海;鋁誘導(dǎo)CdZnTe多晶薄膜的制備及物理特性研究[D];北京化工大學(xué);2013年
2 張興剛;CdZnTe半導(dǎo)體探測器電極研究[D];西北工業(yè)大學(xué);2006年
3 伍順發(fā);CdZnTe晶體分離結(jié)晶界面形狀計算及穩(wěn)定性分析[D];重慶大學(xué);2008年
4 李輝;采用壓縮坩堝自由空間方法提高CdZnTe晶體性能的研究[D];上海大學(xué);2012年
5 陳繼權(quán);CdZnTe晶體歐姆接觸薄膜電極的制備工藝與性能研究[D];西北工業(yè)大學(xué);2004年
6 陳俊;CdZnTe晶體的表面處理和鈍化研究[D];四川大學(xué);2006年
7 孫金池;Cu/Ag合金薄膜用作CdZnTe探測器電極的研究[D];西北工業(yè)大學(xué);2005年
8 李鋒;CdZnTe探測器在X射線熒光分析中的應(yīng)用研究[D];國防科學(xué)技術(shù)大學(xué);2005年
9 文錦雄;常重力條件下分離結(jié)晶法制備CdZnTe晶體的全局數(shù)值分析[D];重慶大學(xué);2012年
10 黃平;利用88-100keV能區(qū)CdZnTe能譜測定鈾富集度[D];中國原子能科學(xué)研究院;2003年
,本文編號:690249
本文鏈接:http://sikaile.net/kejilunwen/dianzigongchenglunwen/690249.html