本文關(guān)鍵詞：溫度試驗對電子元器件的性能影響分析

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【摘要】：自改革開放以來,我國的市場經(jīng)濟得到了很大的發(fā)展,人們的生活水平也不斷地提高,大量的電器設(shè)備、智能設(shè)備廣泛地出現(xiàn)在人們的日常生活當中,隨著經(jīng)濟水平的不斷提高,人們對電器的要求也越來越高,電子元器件作為電器最主要的組成部分,對電器質(zhì)量、性能上的要求就是對電子元器件質(zhì)量、性能的要求。那么該如何檢測電子元器件的性能和質(zhì)量呢?目前我國所采用的是溫度試驗來對電器的電子元器件進行檢驗。但是電子元器件在進行溫度試驗也是會受到溫度的影響導(dǎo)致電子元器件的性能受到影響。文章通過分析溫度試驗的概念以及溫度對電子元器件的危害進行分析,并提出了相關(guān)的解決措施。
【作者單位】： 中國空空導(dǎo)彈研究院;
【關(guān)鍵詞】： 溫度試驗 電子元器件 性能 影響 措施
【分類號】：TN606
【正文快照】： 1簡述溫度試驗?zāi)壳?我國有不少的產(chǎn)品的零部件和材料當中都具有電子元器件,這些產(chǎn)品所牽扯到的行業(yè)也較多,例如:電子電工、汽車摩托、航天航空、橡膠、金屬、船舶兵器、科研單位等,這些單位所生產(chǎn)的相關(guān)電子產(chǎn)品的零部件和材料都需要在不同溫度的情況下來檢驗其零部件和材料的

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本文編號：639794