基于對(duì)數(shù)坐標(biāo)二階微分峰值法的感應(yīng)熱成像內(nèi)部缺陷識(shí)別研究
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更多相關(guān)文章: 感應(yīng)熱成像 定量檢測(cè) 二階微分峰值 內(nèi)部缺陷 寬深比
【摘要】:針對(duì)感應(yīng)熱成像檢測(cè)中金屬工件內(nèi)部缺陷檢測(cè)較為困難的問(wèn)題,對(duì)常用的鐵磁材料45#鋼和非鐵磁材料鋁試件進(jìn)行了研究。提取45#鋼和鋁試件上寬深比不同缺陷的降溫曲線,對(duì)其進(jìn)行歸一化對(duì)數(shù)溫度-對(duì)數(shù)時(shí)間擬合并求取二階微分,利用二階微分極小峰值時(shí)間作為特征量對(duì)缺陷深度進(jìn)行定量。結(jié)果表明,對(duì)45#鋼試件,缺陷寬深比大于等于2時(shí),二階微分極小峰值所對(duì)應(yīng)的時(shí)間與缺陷深度平方呈線性關(guān)系,可以用來(lái)對(duì)缺陷深度進(jìn)行定量;鋁試件處理后降溫曲線的二階微分極小峰值時(shí)間不受缺陷深度變化影響,不能作為特征量定量缺陷深度。最后通過(guò)實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證了仿真結(jié)果。
【作者單位】: 軍械工程學(xué)院無(wú)人機(jī)工程系;武警石家莊士官學(xué)校訓(xùn)練部;
【關(guān)鍵詞】: 感應(yīng)熱成像 定量檢測(cè) 二階微分峰值 內(nèi)部缺陷 寬深比
【基金】:河北省自然科學(xué)基金資助項(xiàng)目(E2014506011)
【分類號(hào)】:TG115.28;TN219
【正文快照】: 引言脈沖渦流熱成像紅外檢測(cè)技術(shù)由于其檢測(cè)速度快、檢測(cè)面積大以及非接觸測(cè)量等特點(diǎn)[1-2],在航空航天以及新材料領(lǐng)域都有廣泛的應(yīng)用,除對(duì)表面各種缺陷的檢測(cè)與評(píng)估,還可以實(shí)現(xiàn)材料厚度、缺陷深度的測(cè)量以及材料結(jié)構(gòu)特征的識(shí)別[3-4]。脈沖渦流熱成像技術(shù)可以實(shí)現(xiàn)缺陷深度定量
【相似文獻(xiàn)】
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,本文編號(hào):590006
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