本文關(guān)鍵詞：基于部分重配置的FPGA內(nèi)嵌BRAM測(cè)試方法

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【摘要】：對(duì)于FPGA的內(nèi)嵌BRAM資源的測(cè)試,傳統(tǒng)的方法存在著故障覆蓋率不夠高,測(cè)試配置數(shù)目較多,以及測(cè)試時(shí)間較長(zhǎng)的缺點(diǎn).針對(duì)上述問題,本文提出了一種新的利用FPGA內(nèi)嵌ICAP核進(jìn)行片內(nèi)自動(dòng)部分重配置功能來實(shí)現(xiàn)對(duì)FPGA內(nèi)嵌BRAM核的內(nèi)建自測(cè)試方法,且無需額外的外接存儲(chǔ)單元.在已有方法的基礎(chǔ)上提高了對(duì)寫破壞故障、讀破壞故障、干擾耦合故障、寫破壞耦合故障、讀破壞耦合故障以及BRAM初始化功能故障的覆蓋,改進(jìn)算法使程序執(zhí)行周期數(shù)降低一半左右,同時(shí)將多個(gè)算法集成在同一個(gè)測(cè)試配置里來實(shí)現(xiàn)降低測(cè)試的完整配置數(shù),從而降低測(cè)試時(shí)間.測(cè)試結(jié)果表明,該方法在故障覆蓋率上可以達(dá)到100%,而且測(cè)試配置數(shù)可以降低至兩個(gè)完整配置,其中每個(gè)完整配置里包含13個(gè)算法的片內(nèi)自動(dòng)部分重配置,實(shí)測(cè)得到總測(cè)試時(shí)間僅為131.216ms.
【作者單位】： 復(fù)旦大學(xué)專用集成電路與系統(tǒng)國家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室;
【關(guān)鍵詞】： 現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列 塊隨機(jī)存儲(chǔ)器 內(nèi)建自測(cè)試 部分重配置 ICAP
【分類號(hào)】：TN791
【正文快照】： 隨著集成電路的發(fā)展,現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列(FPGA)在不斷擴(kuò)大可編程邏輯陣列的同時(shí),內(nèi)嵌的各種可編程知識(shí)產(chǎn)權(quán)(IP)核的規(guī)模也在不斷地?cái)U(kuò)大,使得FPGA的性能越來越強(qiáng)大.因此,如何對(duì)FPGA芯片的可編程邏輯陣列及IP核進(jìn)行完備測(cè)試成為一個(gè)重要課題.而塊隨機(jī)存儲(chǔ)器(Block RAM,BRAM)核作為

【相似文獻(xiàn)】

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