本文關(guān)鍵詞：考慮扇出重匯聚效應(yīng)的組合電路軟錯誤率評估

  更多相關(guān)文章： 單粒子瞬態(tài) 邏輯屏蔽 扇出重匯聚 軟錯誤率 失效概率

【摘要】：為了準(zhǔn)確評估集成電路的軟錯誤率(soft error rate,SER),文章提出一種新穎的電路SER評估方法。通過門級仿真獲得邏輯門輸出信號,將產(chǎn)生瞬態(tài)故障的邏輯門進行故障注入,然后使用考慮扇出重匯聚的敏化路徑逼近搜索算法查找不同輸入向量下的敏化路徑;通過單指數(shù)電流源模擬瞬態(tài)故障脈沖的產(chǎn)生,并將脈沖在敏化路徑上傳播,使用脈沖屏蔽模型評估電氣屏蔽和時窗屏蔽效應(yīng);最后采用該方法計算可得電路總體SER。實驗結(jié)果表明,由于考慮扇出重匯聚的影響,該方法平均提高8.2%的SER評估準(zhǔn)確度。
【作者單位】： 合肥工業(yè)大學(xué)計算機與信息學(xué)院;合肥工業(yè)大學(xué)電子科學(xué)與應(yīng)用物理學(xué)院;
【關(guān)鍵詞】： 單粒子瞬態(tài) 邏輯屏蔽 扇出重匯聚 軟錯誤率 失效概率
【基金】：國家自然科學(xué)基金資助項目(61274036;61371025;61474036;61574052)
【分類號】：TN407
【正文快照】： 納米工藝下,由α粒子、質(zhì)子或中子撞擊電路產(chǎn)生的瞬態(tài)故障依然是導(dǎo)致電路發(fā)生軟錯誤的重要原因[1]。隨著工藝尺寸的不斷縮減,組合邏輯節(jié)點電容與工作電壓呈現(xiàn)減少趨勢,致使電路對軟錯誤的敏感性越發(fā)突出,引起電路設(shè)計者的廣泛關(guān)注[1-3]。因此,在設(shè)計階段進行軟錯誤率(soft err

【參考文獻】

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【共引文獻】

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【相似文獻】

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中國博士學(xué)位論文全文數(shù)據(jù)庫 前10條

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3 成玉;高性能微處理器動態(tài)容軟錯誤設(shè)計關(guān)鍵技術(shù)研究[D];國防科學(xué)技術(shù)大學(xué);2012年

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6 黃正峰;數(shù)字電路軟錯誤防護方法研究[D];合肥工業(yè)大學(xué);2009年

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10 景乃鋒;面向SRAM型FPGA軟錯誤的可靠性評估與容錯算法研究[D];上海交通大學(xué);2012年

中國碩士學(xué)位論文全文數(shù)據(jù)庫 前10條

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5 張麗娜;集成電路的容軟錯誤技術(shù)研究[D];合肥工業(yè)大學(xué);2014年

6 陳凡;數(shù)字集成電路容忍軟錯誤加固技術(shù)研究[D];合肥工業(yè)大學(xué);2014年

7 劉思廷;考慮偏差因素的集成電路軟錯誤分析方法研究[D];哈爾濱工業(yè)大學(xué);2014年

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10 黃捚;組合電路軟錯誤敏感性分析與加固[D];哈爾濱工業(yè)大學(xué);2008年

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本文編號：588229