本文關(guān)鍵詞：考慮扇出重匯聚效應(yīng)的組合電路軟錯(cuò)誤率評(píng)估

  更多相關(guān)文章： 單粒子瞬態(tài) 邏輯屏蔽 扇出重匯聚 軟錯(cuò)誤率 失效概率

【摘要】：為了準(zhǔn)確評(píng)估集成電路的軟錯(cuò)誤率(soft error rate,SER),文章提出一種新穎的電路SER評(píng)估方法。通過(guò)門(mén)級(jí)仿真獲得邏輯門(mén)輸出信號(hào),將產(chǎn)生瞬態(tài)故障的邏輯門(mén)進(jìn)行故障注入,然后使用考慮扇出重匯聚的敏化路徑逼近搜索算法查找不同輸入向量下的敏化路徑;通過(guò)單指數(shù)電流源模擬瞬態(tài)故障脈沖的產(chǎn)生,并將脈沖在敏化路徑上傳播,使用脈沖屏蔽模型評(píng)估電氣屏蔽和時(shí)窗屏蔽效應(yīng);最后采用該方法計(jì)算可得電路總體SER。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,由于考慮扇出重匯聚的影響,該方法平均提高8.2%的SER評(píng)估準(zhǔn)確度。
【作者單位】： 合肥工業(yè)大學(xué)計(jì)算機(jī)與信息學(xué)院;合肥工業(yè)大學(xué)電子科學(xué)與應(yīng)用物理學(xué)院;
【關(guān)鍵詞】： 單粒子瞬態(tài) 邏輯屏蔽 扇出重匯聚 軟錯(cuò)誤率 失效概率
【基金】：國(guó)家自然科學(xué)基金資助項(xiàng)目(61274036;61371025;61474036;61574052)
【分類號(hào)】：TN407
【正文快照】： 納米工藝下,由α粒子、質(zhì)子或中子撞擊電路產(chǎn)生的瞬態(tài)故障依然是導(dǎo)致電路發(fā)生軟錯(cuò)誤的重要原因[1]。隨著工藝尺寸的不斷縮減,組合邏輯節(jié)點(diǎn)電容與工作電壓呈現(xiàn)減少趨勢(shì),致使電路對(duì)軟錯(cuò)誤的敏感性越發(fā)突出,引起電路設(shè)計(jì)者的廣泛關(guān)注[1-3]。因此,在設(shè)計(jì)階段進(jìn)行軟錯(cuò)誤率(soft err

【參考文獻(xiàn)】

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2 陳書(shū)明;杜延康;劉必慰;;一種基于混合模擬的計(jì)算組合電路中軟錯(cuò)誤率的方法與工具[J];國(guó)防科技大學(xué)學(xué)報(bào);2012年04期

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【共引文獻(xiàn)】

中國(guó)期刊全文數(shù)據(jù)庫(kù) 前6條

1 閆愛(ài)斌;梁華國(guó);許曉琳;袁德冉;;考慮扇出重匯聚效應(yīng)的組合電路軟錯(cuò)誤率評(píng)估[J];合肥工業(yè)大學(xué)學(xué)報(bào)(自然科學(xué)版);2016年10期

2 梁華國(guó);袁德冉;閆愛(ài)斌;黃正峰;;考慮單粒子多瞬態(tài)故障的數(shù)字電路失效概率評(píng)估[J];計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)與圖形學(xué)學(xué)報(bào);2016年03期

3 閆愛(ài)斌;梁華國(guó);黃正峰;蔣翠云;;考慮NBTI效應(yīng)的組合電路軟錯(cuò)誤率計(jì)算方法[J];計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)與圖形學(xué)學(xué)報(bào);2015年08期

4 閆愛(ài)斌;梁華國(guó);黃正峰;袁德冉;;基于故障概率的組合電路軟錯(cuò)誤率分析[J];電子測(cè)量與儀器學(xué)報(bào);2015年03期

5 韓健;梁華國(guó);黃正峰;易茂祥;;基于CVSL結(jié)構(gòu)的組合邏輯選擇性加固方案[J];合肥工業(yè)大學(xué)學(xué)報(bào)(自然科學(xué)版);2014年12期

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【二級(jí)參考文獻(xiàn)】

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4 王俊;梁華國(guó);黃正峰;吳珍妮;秦晨飛;;一種對(duì)面積開(kāi)銷(xiāo)有效的組合邏輯選擇性加固方案[J];計(jì)算機(jī)研究與發(fā)展;2010年S1期

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6 王京,楊波;低軌衛(wèi)星微電子器件SER仿真分析[J];電子質(zhì)量;2005年07期

【相似文獻(xiàn)】

中國(guó)期刊全文數(shù)據(jù)庫(kù) 前10條

1 朱丹;李暾;李思昆;;形式化等價(jià)性檢查指導(dǎo)的軟錯(cuò)誤敏感點(diǎn)篩選[J];計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)與圖形學(xué)學(xué)報(bào);2011年03期

2 徐建軍;譚慶平;熊磊;葉俊;;一種針對(duì)軟錯(cuò)誤的程序可靠性定量分析方法[J];電子學(xué)報(bào);2011年03期

3 熊磊;譚慶平;;基于軟錯(cuò)誤的動(dòng)態(tài)程序可靠性分析和評(píng)估[J];小型微型計(jì)算機(jī)系統(tǒng);2011年11期

4 梁華國(guó);黃正峰;王偉;詹文法;;一種雙�；ユi的容軟錯(cuò)誤靜態(tài)鎖存器[J];宇航學(xué)報(bào);2009年05期

5 龔銳;戴葵;王志英;;片上多核處理器容軟錯(cuò)誤執(zhí)行模型[J];計(jì)算機(jī)學(xué)報(bào);2008年11期

6 孫巖;王永文;張民選;;微處理器體系結(jié)構(gòu)級(jí)軟錯(cuò)誤易感性評(píng)估[J];計(jì)算機(jī)工程與科學(xué);2010年11期

7 成玉;馬安國(guó);張承義;張民選;;微體系結(jié)構(gòu)軟錯(cuò)誤易感性階段特性研究[J];電子科技大學(xué)學(xué)報(bào);2012年02期

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9 龔銳;戴葵;王志英;;基于現(xiàn)場(chǎng)保存與恢復(fù)的雙核冗余執(zhí)行模型[J];計(jì)算機(jī)工程與科學(xué);2009年08期

10 梁華國(guó);陳凡;黃正峰;;時(shí)序敏感的容軟錯(cuò)誤電路選擇性加固方案[J];電子測(cè)量與儀器學(xué)報(bào);2014年03期

中國(guó)重要會(huì)議論文全文數(shù)據(jù)庫(kù) 前7條

1 吳珍妮;梁華國(guó);黃正峰;王俊;陳秀美;曹源;;容軟錯(cuò)誤的電路選擇性加固技術(shù)[A];第六屆中國(guó)測(cè)試學(xué)術(shù)會(huì)議論文集[C];2010年

2 熊蔭喬;譚慶平;徐建軍;;基于軟件標(biāo)簽的軟錯(cuò)誤校驗(yàn)和恢復(fù)技術(shù)[A];中國(guó)通信學(xué)會(huì)第六屆學(xué)術(shù)年會(huì)論文集（上）[C];2009年

3 成玉;張承義;張民選;;微體系結(jié)構(gòu)的軟錯(cuò)誤易感性評(píng)估及其階段特性研究[A];第十五屆計(jì)算機(jī)工程與工藝年會(huì)暨第一屆微處理器技術(shù)論壇論文集（B輯）[C];2011年

4 金作霖;張民選;孫巖;石文強(qiáng);;柵氧退化效應(yīng)下納米級(jí)SRAM單元臨界電荷分析[A];第十五屆計(jì)算機(jī)工程與工藝年會(huì)暨第一屆微處理器技術(shù)論壇論文集（B輯）[C];2011年

5 郭御風(fēng);郭誦忻;龔銳;鄧宇;張明;;一種面向多核處理器I/O系統(tǒng)軟錯(cuò)誤容錯(cuò)方法[A];第十五屆計(jì)算機(jī)工程與工藝年會(huì)暨第一屆微處理器技術(shù)論壇論文集（B輯）[C];2011年

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7 梁麗波;梁華國(guó);黃正峰;;基于功能復(fù)用的增強(qiáng)型掃描結(jié)構(gòu)ESFF-SEAD[A];2011中國(guó)儀器儀表與測(cè)控技術(shù)大會(huì)論文集[C];2011年

中國(guó)博士學(xué)位論文全文數(shù)據(jù)庫(kù) 前10條

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2 周婉婷;輻照環(huán)境中通信數(shù)字集成電路軟錯(cuò)誤預(yù)測(cè)建模研究[D];電子科技大學(xué);2014年

3 成玉;高性能微處理器動(dòng)態(tài)容軟錯(cuò)誤設(shè)計(jì)關(guān)鍵技術(shù)研究[D];國(guó)防科學(xué)技術(shù)大學(xué);2012年

4 丁潛;集成電路軟錯(cuò)誤問(wèn)題研究[D];清華大學(xué);2009年

5 繩偉光;數(shù)字集成電路軟錯(cuò)誤敏感性分析與可靠性優(yōu)化技術(shù)研究[D];哈爾濱工業(yè)大學(xué);2009年

6 黃正峰;數(shù)字電路軟錯(cuò)誤防護(hù)方法研究[D];合肥工業(yè)大學(xué);2009年

7 孫巖;納米集成電路軟錯(cuò)誤分析與緩解技術(shù)研究[D];國(guó)防科學(xué)技術(shù)大學(xué);2010年

8 朱丹;基于時(shí)序等價(jià)性檢查的電路軟錯(cuò)誤系統(tǒng)級(jí)可靠性分析方法研究[D];國(guó)防科學(xué)技術(shù)大學(xué);2010年

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中國(guó)碩士學(xué)位論文全文數(shù)據(jù)庫(kù) 前10條

1 徐東超;面向SystemC的軟錯(cuò)誤敏感度分析方法[D];上海交通大學(xué);2015年

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7 劉思廷;考慮偏差因素的集成電路軟錯(cuò)誤分析方法研究[D];哈爾濱工業(yè)大學(xué);2014年

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9 汪靜;數(shù)字集成電路老化故障和軟錯(cuò)誤的在線檢測(cè)技術(shù)研究[D];合肥工業(yè)大學(xué);2013年

10 黃捚;組合電路軟錯(cuò)誤敏感性分析與加固[D];哈爾濱工業(yè)大學(xué);2008年

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本文編號(hào)：588229