發(fā)布時間：2017-06-28 20:21

  本文關(guān)鍵詞：基于UVM的驗證平臺設(shè)計研究，由筆耕文化傳播整理發(fā)布。

【摘要】：提出了一種采用UVM(Universal Verification Methodology)驗證方法學(xué)設(shè)計出的適合超高頻RFID芯片解碼系統(tǒng)的驗證平臺.該驗證平臺相比于傳統(tǒng)驗證平臺具有重用性強、層次化合理、效率高、驗證自動化等優(yōu)點,且該驗證平臺以覆蓋率驅(qū)動,顯著提高了驗證的效率和質(zhì)量.現(xiàn)該驗證平臺已成功應(yīng)用于一款超高頻RFID標(biāo)簽芯片解碼系統(tǒng)的設(shè)計驗證,得到了期望的覆蓋率,滿足設(shè)計要求.
【作者單位】： 南通大學(xué)江蘇省專用集成電路設(shè)計重點實驗室;
【關(guān)鍵詞】： UVM RFID 驗證平臺 覆蓋率 DUT
【基金】：江蘇省高校自然科學(xué)研究重大項目(13KJA510005) 江蘇省物聯(lián)網(wǎng)和新一代信息技術(shù)研發(fā)及產(chǎn)業(yè)化項目 江蘇省科技支撐計劃-工業(yè)部分(BE2013008-3)
【分類號】：TN402
【正文快照】： 1引言隨著集成電路技術(shù)的不斷發(fā)展,芯片的規(guī)模和復(fù)雜度在快速提升,這對驗證提出了更高的要求.芯片的一次流片成功率很大程度上取決于驗證的充分性[1].所以,驗證已經(jīng)成為芯片設(shè)計的發(fā)展瓶頸.傳統(tǒng)的功能驗證方法,是針對被測設(shè)計(DesignUnder Test,DUT)的信號接口,手工編寫測試向

【相似文獻(xiàn)】

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本文編號：495146