本文關(guān)鍵詞：基于UVM的驗(yàn)證平臺(tái)設(shè)計(jì)研究，由筆耕文化傳播整理發(fā)布。

【摘要】：提出了一種采用UVM(Universal Verification Methodology)驗(yàn)證方法學(xué)設(shè)計(jì)出的適合超高頻RFID芯片解碼系統(tǒng)的驗(yàn)證平臺(tái).該驗(yàn)證平臺(tái)相比于傳統(tǒng)驗(yàn)證平臺(tái)具有重用性強(qiáng)、層次化合理、效率高、驗(yàn)證自動(dòng)化等優(yōu)點(diǎn),且該驗(yàn)證平臺(tái)以覆蓋率驅(qū)動(dòng),顯著提高了驗(yàn)證的效率和質(zhì)量.現(xiàn)該驗(yàn)證平臺(tái)已成功應(yīng)用于一款超高頻RFID標(biāo)簽芯片解碼系統(tǒng)的設(shè)計(jì)驗(yàn)證,得到了期望的覆蓋率,滿足設(shè)計(jì)要求.
【作者單位】： 南通大學(xué)江蘇省專用集成電路設(shè)計(jì)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室;
【關(guān)鍵詞】： UVM RFID 驗(yàn)證平臺(tái) 覆蓋率 DUT
【基金】：江蘇省高校自然科學(xué)研究重大項(xiàng)目(13KJA510005) 江蘇省物聯(lián)網(wǎng)和新一代信息技術(shù)研發(fā)及產(chǎn)業(yè)化項(xiàng)目 江蘇省科技支撐計(jì)劃-工業(yè)部分(BE2013008-3)
【分類號(hào)】：TN402
【正文快照】： 1引言隨著集成電路技術(shù)的不斷發(fā)展,芯片的規(guī)模和復(fù)雜度在快速提升,這對(duì)驗(yàn)證提出了更高的要求.芯片的一次流片成功率很大程度上取決于驗(yàn)證的充分性[1].所以,驗(yàn)證已經(jīng)成為芯片設(shè)計(jì)的發(fā)展瓶頸.傳統(tǒng)的功能驗(yàn)證方法,是針對(duì)被測設(shè)計(jì)(DesignUnder Test,DUT)的信號(hào)接口,手工編寫測試向

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6 iJ淑媚;灻斐章;周佩廷;R壭憔，

本文編號(hào)：495146