雙極結(jié)型晶體管的集電結(jié)反向雪崩擊穿特性
本文關(guān)鍵詞:雙極結(jié)型晶體管的集電結(jié)反向雪崩擊穿特性,由筆耕文化傳播整理發(fā)布。
【摘要】:通過氣體放電產(chǎn)生更高濃度的低溫等離子體要求具有納秒上升沿和納秒脈寬的高重頻快脈沖,而目前被廣泛使用的MOSFET和IGBT都無法滿足這些參數(shù)要求,而雙極結(jié)型晶體管(BJT)的集電極與發(fā)射極之間的雪崩擊穿過程具有快導(dǎo)通、快恢復(fù)、高穩(wěn)定性等優(yōu)點(diǎn),適合作為小型Marx發(fā)生器的自擊穿開關(guān)。文中對用多種型號的BJT進(jìn)行擊穿特性比較測試實(shí)驗(yàn),發(fā)現(xiàn)可以通過改變BJT的門極和發(fā)射極的并聯(lián)電阻來調(diào)節(jié)其雪崩擊穿電壓,實(shí)現(xiàn)一定范圍的工作電壓。雪崩擊穿恢復(fù)特性實(shí)驗(yàn)表明,當(dāng)擊穿電流衰減到低于維持電流時(shí),BJT就會(huì)開始恢復(fù)絕緣而關(guān)斷,通過改變電路中的參數(shù)以控制擊穿電流的變化就可以控制BJT的雪崩擊穿導(dǎo)通時(shí)間(即導(dǎo)通脈寬)。將這些結(jié)論應(yīng)用到實(shí)際電路中,可獲得上升沿5ns、脈寬為10ns、幅值2kV、重復(fù)頻率高達(dá)100kHz的納秒快脈沖,可用于激發(fā)高濃度低溫等離子體。
【作者單位】: 上海理工大學(xué)光電信息與計(jì)算機(jī)工程學(xué)院;
【關(guān)鍵詞】: 雙極結(jié)型晶體管 脈沖功率 雪崩擊穿 Marx發(fā)生器 快脈沖
【基金】:上海市自然科學(xué)基金項(xiàng)目(13ZR1428100) 上海市科技英才揚(yáng)帆計(jì)劃項(xiàng)目(15YF1408300)
【分類號】:TN322.8
【正文快照】: 近年來低溫等離子體在很多工業(yè)領(lǐng)域的應(yīng)用越來越廣泛,比如材料表面改性[1]、廢水廢氣處理[2]、準(zhǔn)分子激光器[3]、臭氧發(fā)生[4]、等離子體顯示屏[5]等,而產(chǎn)生低溫等離子體的最常用的方法就是高壓氣體放電,而脈沖放電更容易產(chǎn)生高濃度的低溫等離子體,尤其是具有快速上升沿的高壓
【相似文獻(xiàn)】
中國期刊全文數(shù)據(jù)庫 前10條
1 項(xiàng)興榮;雪崩擊穿特性的高壓硅二極管[J];半導(dǎo)體技術(shù);1997年05期
2 周蓉,胡思福,張慶中;提高雪崩擊穿電壓新技術(shù)──深阱終端結(jié)構(gòu)[J];電子科技大學(xué)學(xué)報(bào);1999年03期
3 沈福興;pn結(jié)雪崩擊穿噪聲的特點(diǎn)及利用[J];半導(dǎo)體技術(shù);1989年06期
4 方龍森;硅PiN管的雪崩擊穿的修正[J];半導(dǎo)體技術(shù);1990年06期
5 談曉云;使CMOS IC電壓提高到400V的工藝[J];微電子學(xué)與計(jì)算機(jī);1987年05期
6 李研達(dá);;MOSFET的選擇策略[J];南陽師范學(xué)院學(xué)報(bào);2009年03期
7 郭維;丁扣寶;韓成功;朱大中;韓雁;;N型LDMOS器件在關(guān)態(tài)雪崩擊穿條件下的退化[J];浙江大學(xué)學(xué)報(bào)(工學(xué)版);2011年06期
8 Jonathan Harper;Enrique Rodriguez;;選擇正確的MOSFET:工程師所需要知道的[J];今日電子;2007年11期
9 錢偉,金曉軍,張進(jìn)書,陳培毅,林惠勝,錢佩信;SiGe HBT中雪崩擊穿效應(yīng)對電流電壓特性的影響[J];電子學(xué)報(bào);1998年08期
10 朱大中;等平面化自對準(zhǔn)硅雪崩擊穿電子發(fā)射陣列器件的設(shè)計(jì)和研究[J];電子科學(xué)學(xué)刊;1998年03期
本文關(guān)鍵詞:雙極結(jié)型晶體管的集電結(jié)反向雪崩擊穿特性,,由筆耕文化傳播整理發(fā)布。
本文編號:489154
本文鏈接:http://sikaile.net/kejilunwen/dianzigongchenglunwen/489154.html